导读:本文包含了半导体激光阵列论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:智能手机,脸部识别,Android,VCSEL
半导体激光阵列论文文献综述
[1]（2018）在《艾迈斯半导体激光阵列助力Android智能手机实现脸部识别功能》一文中研究指出新款小米8智能手机采用艾迈斯半导体的微型VCSEL阵列,确保始终开启的脸部识别系统高效率运行中国,2018年7月9日,全球领先的高性能传感器解决方案供应商艾迈斯半导体(ams AG,瑞士股票交易所股票代码:AMS)今日宣布,其低功耗IR VCSEL激光发射器PMSIL成功助力Android?智能手机实现用户脸部识别功能,这是该技术在Android手机上的(本文来源于《电源世界》期刊2018年07期）
彭超,刘学胜,司汉英,董剑,曹明真[2]（2018）在《多波长半导体激光阵列端泵Nd∶YAG脉冲激光器》一文中研究指出研制了无温控多波长激光二极管阵列端面泵浦Nd∶YAG电光调Q激光器。采用4 000 W多波长准连续激光二极管阵列作为泵浦源,快轴准直镜与透镜导管作为泵浦耦合系统,端面泵浦6 mm×60 mm的Nd∶YAG晶体,并采用RTP晶体进行电光调Q实验。在重复频率5 Hz、室温(25℃)时,激光器获得了最大输出能量74.4 m J、脉宽15 ns的1 064 nm脉冲激光输出,光光转换效率达到11%。在25~55℃的工作温度下,对多波长LDA的光谱特征与激光器的输出特性作了测试,激光器输出能量随着工作温度的上升而先迅速下降再逐步保持稳定,当重复频率分别为5 Hz和10 Hz时,激光器对应的最低输出能量分别为48 m J与37 m J。(本文来源于《发光学报》期刊2018年02期）
敦洋洋[3]（2017）在《半导体激光阵列光栅—外腔光谱合束设计模拟》一文中研究指出在过去几十年里,激光技术得到极大发展,在高度工业化国家的经济发展中扮演着越来越重要的角色,然而光束质量差是制约其进一步应用的主要瓶颈。此外,许多应用场合需要使用大功率激光器,而目前商用单管半导体激光器的最高出射功率通常在mW级,需使用半导体激光单元组成的半导体激光阵列才能满足大功率的应用,因而研究如何提高大功率半导体激光阵列的光束质量成为关键。本论文采取光栅-外腔光谱合束技术在ZEMAX中对半导体激光阵列进行合束设计模拟,该系统主要由半导体激光阵列、准直透镜、传输透镜、光栅和输出镜等元件构成。利用光栅的衍射效应使光束在远场和近场迭加,将半导体激光阵列各个发光单元的光束组合到一起,使输出光束的光束质量与单个半导体激光器发光单元的光束质量相近,而功率是所有发光单元功率的迭加。具体内容如下:(1)论文首先对半导体激光器的工作原理和分类做出叙述,并讨论了半导体激光器的主要参数、光束特性以及光束质量评价方法。(2)介绍了光栅-外腔光谱合束的原理,选用Coherent公司中心波长为1060nm的传导冷却封装结构半导体激光阵列为例,对其光束特性和光束质量以及合束单元的入射角和中心波长进行详细理论计算。(3)在ZEMAX序列模式中设计了快轴准直镜+慢轴准直镜构成的准直结构以及双焦距单透镜准直结构,都获得不错的准直效果。另外设计了两两胶合的双透镜组成的传输透镜,用于减小像差且使不同光束在光栅上聚焦。(4)对以上两种准直结构在ZEMAX非序列模式中分别模拟光栅-外腔光谱合束模型,均较好的完成了光谱合束,合束线宽为19.86nm。在不考虑实际谐振腔和衍射光栅的损耗时,组合效率达到99.6%和99.7%,合束光斑光束质量与准直后的单个发光单元相似。(本文来源于《山东大学》期刊2017-05-30）
贾冠男[4]（2017）在《大功率半导体激光阵列芯片封装关键技术研究》一文中研究指出大功率半导体激光器是激光行业中极具成长潜力和极富研究价值的器件,其应用遍及众多事关国计民生的重要领域。半导体激光阵列(LDA)芯片作为大功率半导体激光器的核心部件,其封装质量不仅严重影响半导体激光器的输出特性(如功率、波长、偏振特性、光束质量等),而且直接决定了半导体激光器的可靠性,特别是寿命。因此LDA芯片封装技术是大功率半导体激光器研发与制造的基础技术。本论文针对LDA芯片封装中需要解决的叁个关键技术问题——Smile效应、芯片散热和芯片焊接稳定性进行了系统的理论和实验研究,取得了以下成果:1、提出了应力补偿法抑制Smile效应技术,该技术基于应力补偿原理,通过控制焊接前LDA裸芯片的弯曲,对芯片施加一个与封装热应力反向的外加应力,用以对封装热应力进行充分补偿,可以将Smile效应稳定控制在0.5μm之内,且不会影响LDA器件的各项光电性能参数。裸芯片的外加应力可以用其弯曲方向和弯曲量来表征,通过测量芯片弯曲量来间接量化外加应力,从而建立外加应力与Smile效应之间的稳定对应关系,实现对Smile效应的稳定控制。2、提出了探针扫描法测量Smile效应技术,该技术以LDA芯片N面的起伏来表征芯片本身的弯曲,利用精密探针,通过机械接触式扫描的技术测量N面起伏来快速获得Smile效应的近似结果。该技术可以获得准确的Smile效应形态,Smile效应大小的测量值与实际值之差小于1μm,且实际值不会超出测量值。此外,该技术操作简单,测量耗时短,可在1分钟之内完成测量。更重要的是,使用该技术测量Smile效应时,无需对LDA器件加电,可在芯片焊接完成后立即进行测量。因此该技术可以方便地集成在LDA芯片批量化封装的流水中,实现对焊接Smile效应的实时在线监测,从而确保焊接工艺的稳定性,提高焊接良品率。3、设计开发了基于激光3D打印的镍基稀土合金微通道冷却热沉,减小了LDA器件的Smile效应,提高了激光器稳定性与寿命。通过数值模拟优化微通道热沉的内部结构,弥补了镍基稀土合金热导率较低的缺陷,获得了散热能力良好的微通道热沉。热沉性能测试结果显示,该热沉最高可满足120W/bar连续输出LDA芯片的散热。在冷却水流量0.3L/min,水温25℃的条件下,该热沉用于冷却功率80W/bar连续输出的LDA芯片,热阻0.4K/W,仅比商用无氧铜微通道热沉高出11.1%,压降0.5bar。Smile效应0.8μm,比商用无氧铜热沉降低了46.7%。经过1000小时常规老化后,器件功率衰减程度小于3%。4、采用控制变量法系统研究了AuSn焊接工艺参数对LDA器件性能的影响,获得了焊接温度、保温时间和焊接压强对LDA器件焊层质量、功率、波长红移值和Smile效应的影响规律,并得出了优化的AuSn焊接工艺曲线。采用该焊接工艺曲线封装的传导冷却Mini-bar激光器,在冷却温度25℃,工作电流连续60A的条件下,输出功率58.7W,波长红移值11.1nm,Smile效应小于0.3μm,且焊层无空洞。封装效果在现有的报道中处于领先水平。(本文来源于《北京工业大学》期刊2017-05-01）
张俊明[5]（2017）在《半导体激光阵列外腔反馈光谱合束系统研究》一文中研究指出半导体激光器光谱合束技术因其能够获得高功率、高功率密度、高光束质量的激光输出同时又具有半导体激光器体积小、质量轻、寿命长、转换效率高等优点已成为国际上研究的热点。整个外腔光谱合束系统通过衍射光栅的色散特性将所有激光单元的光束进行合束,因此衍射光栅是光谱合束技术的关键。本论文基于半导体激光器光谱合束技术的原理和衍射光栅的原理,研究了适用于半导体激光阵列外腔反馈光谱合束系统的亚波长熔融石英透射光栅。利用Rsoft软件设计并优化了940nm波段亚波长熔融石英透射光栅,获得了91.2%(TE模式)的衍射效率。根据仿真结果,选取和仿真参数相近的商用透射光栅实现了940nm半导体激光阵列外腔反馈光谱合束光源,获得了连续功率46W,谱宽宽度为14.36nm的激光输出。基于光栅的设计参数,研究了熔融石英透射光栅的制作工艺,结合全息曝光和ICP刻蚀等工艺,制作了周期为530nm、占空比为0.5和脊高为300nm的熔融石英透射光栅。(本文来源于《长春理工大学》期刊2017-03-01）
朱占达[6]（2016）在《半导体激光阵列光谱组束的研究》一文中研究指出光谱合束(波长合束)是改善半导体激光阵列的光束质量、稳定波长和压窄线宽最简单、最有效的方法。通过外腔反馈,使半导体激光阵列的各个发光单元锁定在不同的波长上;通过色散元件,将不同入射角、不同波长的光束按相同方向出射,实现各个光束传播方向的重合,达到光谱合束的目的。光谱组束后,输出的光束与单个发光单元具有相同的光束质量,提高了半导体激光阵列整体的光束质量和空间亮度,扩展半导体激光光源在工业、军事和医疗等方面的应用。本文基于外腔反馈光谱组束结构及原理,通过计算模拟、理论分析和具体实验,对半导体激光阵列光谱组束进行了研究,解决了半导体激光阵列光谱组束中存在的smile效应(半导体激光阵列在封装和工作过程中,不可避免的引入热效应,导致各个发光单元不在一条直线上,半导体激光阵列整体发光弯曲,称之为smile效应)的影响、单阵列组束光谱较宽、各个发光单元之间存在串扰以及光束质量退化等关键问题,最终通过多个巴条参与组束,获得了高功率、高亮度、窄线宽半导体激光阵列光谱合束光源,并对组束后的光源进行了非线性频率变换实验,得到了倍频和和频的光束。完成的主要工作如下:提出将光束整形元件Beam Transformation System(BTS)加入到光谱组束中,实现半导体激光阵列发光单元光束的旋转,使每个发光单元的慢轴光场分布变为竖直方向,快轴光场分布变为水平方向,整形后在水平方向上,对发光单元进行外腔光谱光束组合,使smile效应造成的水平位置差异,转换成组束后各个发光单元的波长差异,很好的解决了传统光谱光束组合中,不能避免的smile效应,提高了整体光束质量和整体组束效率,为实现高功率、高亮度半导体激光阵列合束打下了基础。在光谱光束组合基础上,提出了用一个光栅和一个准直透镜代替传输透镜的方案,可以有效的减小单个发光单元光束质量的退化,同时缩短了光谱组束的整体光程,明显的克服了相邻发光单元之间的反馈串扰,避免了组束后整体光束质量的下降,提高了整体组束效率,实现了较窄线宽的半导体激光阵列的光谱组束输出,为实现窄线宽半导体激光合束提供了方法和途径。提出了在传统光谱光束组合中,将传输透镜的聚焦和准直作用分离的方法,聚焦和准直作用分别由两个透镜实现。起汇聚作用的透镜将各个发光单元的光束聚焦到光栅上;起准直作用的透镜在光栅之后,将组合后的光束进行统一准直。由于起汇聚作用的透镜,不需要对各个发光单元的光束进行准直,整体的光程可以近似的减少一半,为长焦传输透镜的使用提供了可能性,有利于实现窄线宽半导体激光阵列的光谱合束。通过加入压缩像传递系统和使用长焦距的传输透镜,将半导体激光阵列成缩小的实像,然后对所成的实像进行光谱组束,实现了单个巴条窄线宽的光谱组束。提出用多个传输透镜代替单一的传输透镜,避免了透镜边缘引起的各种像差,从而实现了多个巴条的高功率、高亮度、窄线宽半导体激光合束。研究了半导体激光阵列光谱组束后,合束光束的频率变换,提出了半导体激光阵列光谱组束后,各个发光单元的光束之间进行和频的实验方案,并进行了半导体激光阵列光谱组束后的倍频和和频实验,通过倍频和和频得到了蓝光输出,并测定了转换的效率。(本文来源于《北京工业大学》期刊2016-06-18）
王天质,仲莉[7]（2016）在《大功率半导体激光二极管阵列加速寿命试验方法》一文中研究指出为了降低大功率半导体激光二极管阵列的寿命评估成本,提出了一种基于威布尔分布,以恒定电流作为加速应力条件的试验方法进行了试验验证。在经过筛选试验剔除不合格品后,共有叁组样品在25,27和30 A的电流应力下进行加速寿命试验。样品的寿终判据为输出功率退化达到10%。对样品失效原因进行了分析,记录试验数据并绘制曲线。试验数据分别采用图估计法和数值计算法进行处理。经过对形状参数、特征寿命和平均寿命等参数的对比分析,试验结果验证了该加速寿命试验方法的有效性。(本文来源于《半导体技术》期刊2016年06期）
彭超[8]（2016）在《多波长半导体激光二极管阵列端泵Nd:YAG脉冲激光器的研究》一文中研究指出半导体激光二极管阵列(Laser Diode Arrays)端面泵浦的全固态激光器具备较大的光光转换效率、寿命长、输出功率高、抽运面积大、谱线窄等特点,已得到了广泛应用。由于激光雷达测量、激光测距、激光美容、无人驾驶等领域需要激光器具备很好的便携性、高的输出能量、结构紧凑性、较强的温度适用性等特点,无水冷小体积的短脉冲高能量激光器日益受到关注。本课题从理论分析与实验研究入手,设计了一种端泵全固态激光器的透镜导管泵浦耦合结构,研制出一款波长为1064nm的风冷半导体激光二极管阵列端泵电光调Q全固态激光器。阐述透镜导管的工作原理,根据半导体激光阵列的光束特征,结合光学模拟软件—ZEMAX,分析了各设计参数对透镜导管耦合效率的影响,总结出了一种透镜导管耦合系统的设计方法。研发了一套透镜导管耦合泵浦结构,将大口径半导体激光阵列输出的泵浦光尺寸有效的压缩,改善了泵浦光的空间分布,实现了泵浦光的匀化。加工了两种透镜导管,对比了球面透镜导管与平面透镜导管的泵浦光传输效果,实验表明球面透镜导管的泵浦光传输效率要优于平面透镜导管的泵浦光传输效率,球面透镜导管的最高传输效率达58%,缩束比达8.8:1。从速率理论出发,分析半导体二极管泵浦的Nd:YAG激光器电光调Q形成高能量短脉冲激光的过程。对常用的电光晶体材料特性进行了叙述对比,选用RTP晶体作为电光调Q晶体。本实验采用腔长132mm的平平腔结构,采用多波长LDA泵浦NdYAG晶体,并通过加压式电光调Q,在重复频率5Hz,泵浦脉宽200μs的条件下,得到的脉宽15ns,单脉冲能74.4mJ的激光输出。在25℃-55℃的工作温度下对LDA的光谱特征与激光器的输出特性作了测试,激光器输出能量随着工作温度的上升而呈现先迅速下降再逐步保持稳定的趋势,当重复频率分别为5Hz、10Hz时,激光器对应的最低输出能量分别为48mJ与37mJ。(本文来源于《北京工业大学》期刊2016-05-01）
贾冠男,尧舜,潘飞,高祥宇,王智勇[9]（2015）在《探针扫描法快速测量半导体激光阵列Smile效应》一文中研究指出为克服传统光学方法测量半导体激光阵列(LDA)Smile效应时存在的光学系统搭建精度要求高、测试人员素质要求高、后期数据处理繁杂测量时间长等缺点,通过用机械接触式台阶仪的探针扫描焊接后LDA芯片N面的方式,快速测量LDA的Smile效应,并将之与传统光学方法测量的Smile效应进行对比。结果表明,两者形态完全一致,差别小于1μm。用台阶仪测量LDA Smile效应耗时小于1 min。此方法能为芯片焊接工艺优化Smile效应提供快速反馈,可方便集成在大批量生产流水线中对LDA的Smile效应进行实时监测。(本文来源于《红外与激光工程》期刊2015年12期）
雷呈强,汪岳峰,殷智勇,尹韶云,孙秀辉[10]（2015）在《微透镜阵列误差对半导体激光匀化性能的影响》一文中研究指出为了减小微透镜阵列误差对匀化光斑的影响,深入研究微透镜阵列光束匀化系统中微透镜阵列相对位置误差对光束匀化性能的影响,设计了一种微透镜阵列光束匀化系统。依据相对位置误差类型的不同,将双列微透镜阵列间六个自由度变化导致的误差分为距离误差、偏移误差以及转动误差进行分析,并对每种误差对光束匀化性能的影响进行了研究。采用6板条半导体激光器堆栈对上述匀化系统进行实验验证,实现了均匀性为90.75%的光斑,并对系统影响光斑性能的原因进行了分析。(本文来源于《强激光与粒子束》期刊2015年09期）
半导体激光阵列论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
研制了无温控多波长激光二极管阵列端面泵浦Nd∶YAG电光调Q激光器。采用4 000 W多波长准连续激光二极管阵列作为泵浦源,快轴准直镜与透镜导管作为泵浦耦合系统,端面泵浦6 mm×60 mm的Nd∶YAG晶体,并采用RTP晶体进行电光调Q实验。在重复频率5 Hz、室温(25℃)时,激光器获得了最大输出能量74.4 m J、脉宽15 ns的1 064 nm脉冲激光输出,光光转换效率达到11%。在25~55℃的工作温度下,对多波长LDA的光谱特征与激光器的输出特性作了测试,激光器输出能量随着工作温度的上升而先迅速下降再逐步保持稳定,当重复频率分别为5 Hz和10 Hz时,激光器对应的最低输出能量分别为48 m J与37 m J。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
半导体激光阵列论文参考文献
[1]..艾迈斯半导体激光阵列助力Android智能手机实现脸部识别功能[J].电源世界.2018
[2].彭超,刘学胜,司汉英,董剑,曹明真.多波长半导体激光阵列端泵Nd∶YAG脉冲激光器[J].发光学报.2018
[3].敦洋洋.半导体激光阵列光栅—外腔光谱合束设计模拟[D].山东大学.2017
[4].贾冠男.大功率半导体激光阵列芯片封装关键技术研究[D].北京工业大学.2017
[5].张俊明.半导体激光阵列外腔反馈光谱合束系统研究[D].长春理工大学.2017
[6].朱占达.半导体激光阵列光谱组束的研究[D].北京工业大学.2016
[7].王天质,仲莉.大功率半导体激光二极管阵列加速寿命试验方法[J].半导体技术.2016
[8].彭超.多波长半导体激光二极管阵列端泵Nd:YAG脉冲激光器的研究[D].北京工业大学.2016
[9].贾冠男,尧舜,潘飞,高祥宇,王智勇.探针扫描法快速测量半导体激光阵列Smile效应[J].红外与激光工程.2015
[10].雷呈强,汪岳峰,殷智勇,尹韶云,孙秀辉.微透镜阵列误差对半导体激光匀化性能的影响[J].强激光与粒子束.2015