导读:本文包含了集成电路测试仪论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:电光测量,集成电路测试,程控滤波器,跨阻放大器
集成电路测试仪论文文献综述
王叙翔[1]（2016）在《集成电路电光测试仪相关技术研究》一文中研究指出随着我国国民经济的不断发展,科学技术水平也不断的进行提高。我国电子商业的发展正呈现出突飞猛进的态势。基于该种情势背景之下,我国随着电子工业的高速发展,对于半导体的研究也开始日益加深,其中所蕴含的各项技艺也开始逐渐朝向复杂化方向发展。在此发展背景之下,我国集成电路测试技术开始被广为人知,并得到了不断地重视和使用,电路测试在电路整体框架结构的设计以及线路构成方面起到了不可忽视的关键作用。集成电路测试技术贯穿芯片生产的整个流程当中。我们对其种类进行详细的划分工作,按照出厂时间来进行计算的话,主要分为芯片内部测试以及芯片出厂测试,这样能够最高程度上的提升产品的出厂效率。在此过程当中,属芯片内部测试这一环节最为重要,其能够在最大程度上保证芯片质量符合国家出厂要求,从一定程度上避免出厂隐患。相较于其他检测技术来说,其主要是采用电光测试的方式对其采取检测,其主要的检测原理就是通过激光的的方式对于集成电路进行检测,既能够使得检测效率提升,也能够使得其中的精确性得以确认。能够进行电光测试的前提条件就是电路构成材质是一种特定的物理材质,激光在对其自身进行检评时通过测试将其呈现出来。互联线电光信号强弱依据不同的外部条件会呈现出不同的效果,使用电光推测的手段就能够分辨出其信号的强弱,该项测试技术使用方便,并且受干扰因素较少。在本文当中将主要研究的重点放在集成电路电光测试仪的实用方面,在现实生活当中对其运营使用。在对其进行研究的过程当中,结合光电信号的转变提出了具体的研究方案以及使用措施,我们针对于这种状况,建立直流光检测机制将光学信号进行相互之间的转换,并使得信号不断的进行优化,对于波段进行处理,结合我国如今发展的实际情况,使用一定先进技术对数据进行自主搜集和处理工作,对其测试仪也进行具体的研究工作。(本文来源于《吉林大学》期刊2016-09-01）
夏鑫,张慧雷,缪小勇[2]（2015）在《集成电路并行测试仪控制系统设计及其FPGA实现》一文中研究指出以FPGA为硬件平台,利用Verilog HDL语言对并行测试设备的控制系统进行RTL建模设计,在VCS平台下搭建测试平台对系统进行功能性仿真验证。利用Quartus II对项目进行编译、综合、时序分析和调试,生成RTL电路图,并下载到FPGA中进行硬件实现。实验结果表明,该设计成功实现了RFID晶圆并行测试仪的控制系统功能,这对于芯片生产商和测试厂商都具有重要的意义。(本文来源于《中国集成电路》期刊2015年11期）
张玲,李同瀚,梅军进[3]（2015）在《小型数字集成电路测试仪的设计和实现》一文中研究指出为对小型数字集成芯片进行测试和诊断,以89C51为微控制器芯片(MCU),74HC595和74HC165为被测电路的测试引脚扩展芯片,提出了一种数字集成电路测试仪的实现方案。利用MCU芯片对数字集成电路的测试引脚进行信号采集,通过比对后检测电路是否存在逻辑错误,并将结果发送到液晶显示器上显示。该系统结构简单,可以准确地对组合数字集成电路进行测试。(本文来源于《湖北理工学院学报》期刊2015年01期）
谢义建,陈跃东[4]（2014）在《模拟集成电路测试仪的设计》一文中研究指出针对学校的集成电路教学实验,设计了一款模拟集成电路的测试仪。以单片机为控制核心,对几种常用测试电路进行处理、比较,并输出判断结果。使用按键进行测试数据的输入,并通过液晶显示器显示输出结果。同时辅以发光二极管对测试仪的状态进行显示。介绍了测试仪的硬件设计和软件流程,实验证明,设计方案合理有效。(本文来源于《井冈山大学学报(自然科学版)》期刊2014年06期）
于维佳[5]（2014）在《基于C8051F410数字集成电路测试仪的设计》一文中研究指出开发了一种数字集成电路测试仪,该测试仪以C8051F410微控制器为核心,用户可针对不同待测芯片来选择+3.3V或+5V电源供电,操作界面与测试结果通过液晶显示屏进行人机交互,能够对常用的74系列数字集成电路芯片进行快速、稳定的功能性测试。(本文来源于《电子测试》期刊2014年06期）
尹超平[6]（2013）在《基于VIIS-EM平台的虚拟数字集成电路测试仪的研制》一文中研究指出随着半导体行业和测试行业的快速发展，各种新工艺和新设计的集成电路不断出现，在大量新型数字集成芯片投放市场的同时，对其功能和性能的完整性要求也在不断提高。为了迎合对数字芯片进行检测的需求，数字集成电路测试仪应运而生。它在验证测试、生产测试、验收测试和使用测试中都拥有无可替代的地位。然而国内大部分测试市场被国外的测试企业占据，购买国外的测试设备一般价格都比较昂贵，随着数字集成芯片的使用日益频繁，急需一种能够应用在中小规模数字集成电路的测试设备来保障其功能和性能。本设计顺应高校实验室的测试需求，在现有资源——吉林大学自主研发的虚拟电子测量仪器集成系统（Virtual Instrument Integration System for ElectronicMeasuring，简写为VIIS-EM）的基础上，实现了数字集成电路测试技术的集成。按照VIIS-EM总线的技术标准和模块化仪器的设计思想，在开发仪器时采用标准的3U尺寸进行板卡设计，3U的标准尺寸为100mm×160mm（3.94英寸×6.3英寸），并以“微处理器+FPGA”的架构进行硬件模块搭建，上位机采用美国国家仪器公司（National Instrument，简写为NI）的图形化编程软件LabVIEW（全称为：Laboratory Virtual Instrument Engineering Workbench）进行实时地控制和显示，LabVIEW采用数据流的编程方式，结合丰富形象的控件和函数资源，使其对仪器的控制和程序的调试更加方便快捷。系统研制目标针对功能测试和直流参数测试，这两种测试种类也是保证数字集成芯片（Digital Instrument Circuits，简写为DIC）功能和性能完整性的重要理论依据。设计中应用外部数据库管理的方式进行芯片资料的归纳，在仪器运行时，可通过调用相应数据库的表名称来加载实验信息，并完成自动化功能与性能测试，实现了快速、准确的检测目的。在研制完成后，通过具体实验对数字集成芯片进行了分类测试，并给出了测试结果。实验结果表明采用VIIS-EM系统开发的数字集成电路测试仪能够达到对中小规模数字集成电路快速、准确检测的目的，同时在很大程度上节约了成本，具有一定的实用价值和推广价值。(本文来源于《吉林大学》期刊2013-06-01）
尹超平,张秉仁,赵吉祥[7]（2013）在《基于VIIS-EM平台的虚拟数字集成电路测试仪的设计》一文中研究指出基于模块化虚拟仪器的设计思想,设计出一种以VIIS-EM平台为核心,以LabVIEW为工具进行图形化编程的虚拟数字集成电路测试仪,并论述了其实现方案。重点分析了硬件电路的搭建思路和软件的控制流程,最后给出虚拟数字集成电路测试仪的测试结果。(本文来源于《电子技术应用》期刊2013年05期）
张路路[8]（2012）在《基于PCI总线集成电路测试仪接口设计》一文中研究指出为实现集成电路测试仪的软硬件通信功能,通过比较通用的PCI通信接口的实现方法,为了简化逻辑电路设计,使其更具通用性,采用了PCI专用接口芯片PCI 9030,并使用可编程逻辑器件FPGA完成复杂的时序逻辑控制和地址译码,利用PCI驱动开发工具SDK提供的API函数,在VC6.0软件开发平台上设计专用的驱动程序。(本文来源于《现代电子技术》期刊2012年12期）
姚佳[9]（2012）在《集成电路电光测试仪相关技术研究》一文中研究指出随着电子工业的高速发展，半导体工艺技术日趋成熟，芯片的性能越来越高，其集成度和复杂度也随之不断地增加。这便给与之相辅发展的集成电路测试领域的发展带来了巨大的挑战和机遇。集成电路测试技术作为支撑集成电路发展不可或缺的部分，在芯片设计、生产、应用过程中都起着至关重要的作用。它几乎贯穿应用于芯片从晶圆到成品应用的各个环节。集成电路测试技术的种类按目的可以分为芯片内部测试、芯片封装后测试、成品老化测试及出厂的质量合格率控制测试。其中芯片内部测试技术是在芯片生产中至为关键的一步，它主要应用于验证设计合理性、缩短研发时间、保障芯片性能、减小设计成本等。对应于其他种类的测试技术主要依靠专用的电子仪器和计算机软件实现，芯片内部测试技术主要是依赖光电检测。如光发射采样技术、光电导开关采样等。我们研究的集成电路电光测试技术就是其中一种利用激光来检测集成芯片内部电路的技术。它的原理主要是基于某些材料的特殊物理效应，通过这些材料，将芯片内部互联线上的电信号变换转变为光的变化。利用外部仪器将这种光变化检测出来，即可以推算出互联线上电信号的大小，达到检测的目的。这一测试技术以其无侵扰、高分辨率和高灵敏度得到了科研工作者的广泛关注。目前对于它的研究主要集中在材料选取、空间分布率提高以及整个仪器系统的构建等方面。本文主要着眼于对集成电路电光测试技术系统的实用化研究，针对实验室自行搭建的直流光检测系统，本文主要研究将其获得的光信号转换为电信号，并将这一电信号进行放大、滤波处理。针对实际需要，本文利用虚拟仪器技术搭建了一套可以实习自主测量和数据采集系统。具体的研究内容包括：首先，我们回顾了最近几年电光测试技术用于集成电路测试的发展情况，就其中几个主要的研究要点(材料、分辨率、仪器化)的进展情况做了简单的阐述。介绍了我们采用的直流光测试系统的优势，并对我们搭建的测试系统做了详细的介绍。其次，针对我们的直流光测试系统光学部分取得的光信号，我们利用光电二极管将其转化为电信号。我们先简要介绍了光电二极管的特性及其等效模型，以此为依据搭建了相应的前置放大器和后级电压放大器。介绍了前置放大器的噪声来源及特性，分析了其带宽和稳定性。再次，为适应实际需要，我们不再采用参数固定的滤波器为信号进行滤波。我们采用了程控滤波器，利用其参数可以编程设定的特点，我们提出了两种可以自动跟踪输入信号频率而改变中心频率的智能带通滤波器的设计方案。介绍了它们的设计过程及实验结果。最后，为了测试和分析的方便，我们利用Labview、步进电机、串口、ADC等搭建了一套可以进行二维电场信号测量及数据采集的系统。我们将所有分立的模块组合起来，对自己设计的微型金属线上的信号进行了实际测量，给出了相应的实验数据。我们搭建的整个系统，基本可以完成光-电信号的转变，以及电信号放大、滤波、采集功能，对于集成电路电光测试有一定的指导作用。(本文来源于《吉林大学》期刊2012-05-01）
戴家友[10]（2012）在《基于ARM7数字集成电路测试仪的设计》一文中研究指出本设计采用ARM7系列LPC2103作为主控芯片,能够对74系列和CMOS40系列等芯片快速检测,并可以将被检测芯片的信息和检测结果在LCD液晶显示屏幕上显示出来,该测试仪支持存储信息升级以适应新的集成电路检测的要求。(本文来源于《数字技术与应用》期刊2012年04期）
集成电路测试仪论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
以FPGA为硬件平台,利用Verilog HDL语言对并行测试设备的控制系统进行RTL建模设计,在VCS平台下搭建测试平台对系统进行功能性仿真验证。利用Quartus II对项目进行编译、综合、时序分析和调试,生成RTL电路图,并下载到FPGA中进行硬件实现。实验结果表明,该设计成功实现了RFID晶圆并行测试仪的控制系统功能,这对于芯片生产商和测试厂商都具有重要的意义。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
集成电路测试仪论文参考文献
[1].王叙翔.集成电路电光测试仪相关技术研究[D].吉林大学.2016
[2].夏鑫,张慧雷,缪小勇.集成电路并行测试仪控制系统设计及其FPGA实现[J].中国集成电路.2015
[3].张玲,李同瀚,梅军进.小型数字集成电路测试仪的设计和实现[J].湖北理工学院学报.2015
[4].谢义建,陈跃东.模拟集成电路测试仪的设计[J].井冈山大学学报(自然科学版).2014
[5].于维佳.基于C8051F410数字集成电路测试仪的设计[J].电子测试.2014
[6].尹超平.基于VIIS-EM平台的虚拟数字集成电路测试仪的研制[D].吉林大学.2013
[7].尹超平,张秉仁,赵吉祥.基于VIIS-EM平台的虚拟数字集成电路测试仪的设计[J].电子技术应用.2013
[8].张路路.基于PCI总线集成电路测试仪接口设计[J].现代电子技术.2012
[9].姚佳.集成电路电光测试仪相关技术研究[D].吉林大学.2012
[10].戴家友.基于ARM7数字集成电路测试仪的设计[J].数字技术与应用.2012