麦智炜:故障电弧断路器核心实验及电弧波形论文

麦智炜:故障电弧断路器核心实验及电弧波形论文

本文主要研究内容

作者麦智炜,马兴灶,王碧滢(2019)在《故障电弧断路器核心实验及电弧波形》一文中研究指出:故障电弧断路器的市场表现不尽理想,主要原因在于研发单位没有完全按照UL 1699标准对产品进行测试,导致产品出现误脱扣问题和电弧检测性能差等情况。本文根据UL1699搭建实验设备,通过示波器抓取各实验中的负载电流,最后分析并终结出正常负载电流波形、正常操作电弧电流波形和故障电弧电流波形的具体特征。实验结果显示,故障电弧电流波形夹杂高频成分,而且高频成分随机大量重复出现。可以根据该特征设计故障电弧检测算法,生产出性能可靠的故障电弧断路器。

Abstract

gu zhang dian hu duan lu qi de shi chang biao xian bu jin li xiang ,zhu yao yuan yin zai yu yan fa chan wei mei you wan quan an zhao UL 1699biao zhun dui chan pin jin hang ce shi ,dao zhi chan pin chu xian wu tuo kou wen ti he dian hu jian ce xing neng cha deng qing kuang 。ben wen gen ju UL1699da jian shi yan she bei ,tong guo shi bo qi zhua qu ge shi yan zhong de fu zai dian liu ,zui hou fen xi bing zhong jie chu zheng chang fu zai dian liu bo xing 、zheng chang cao zuo dian hu dian liu bo xing he gu zhang dian hu dian liu bo xing de ju ti te zheng 。shi yan jie guo xian shi ,gu zhang dian hu dian liu bo xing ga za gao pin cheng fen ,er ju gao pin cheng fen sui ji da liang chong fu chu xian 。ke yi gen ju gai te zheng she ji gu zhang dian hu jian ce suan fa ,sheng chan chu xing neng ke kao de gu zhang dian hu duan lu qi 。

论文参考文献

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  • 论文详细介绍

    论文作者分别是来自日用电器的麦智炜,马兴灶,王碧滢,发表于刊物日用电器2019年05期论文,是一篇关于故障电弧论文,误脱扣论文,检测算法论文,日用电器2019年05期论文的文章。本文可供学术参考使用,各位学者可以免费参考阅读下载,文章观点不代表本站观点,资料来自日用电器2019年05期论文网站,若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权,请联系我们删除。

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