导读:本文包含了芯片级自修复论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:ARL9900系列X射线荧光光谱仪,电路板故障,芯片级修复
芯片级自修复论文文献综述
王明利,缪明军,刘平,张广治,王贵玉[1]（2019）在《电路板芯片级修复在X射线荧光光谱仪维护中的应用》一文中研究指出X射线荧光光谱仪(XRF)在国内的冶金、矿山等行业的实验室有着广泛的应用。以ARL9900系列X射线光谱仪为例,介绍了其XPS电路板上光耦合芯片和XPSI电路板上IGBT芯片损坏故障的故障现象和报警信息,以及如何利用电路原理和电子知识进行电路板上损坏元件的检查和处理。通过这两个典型的电路板芯片级故障处理方法,为实验室精密仪器的芯片级故障修复提供一种思路,帮助企业快速恢复生产,节约备件成本。(本文来源于《冶金分析》期刊2019年04期）
谈杰,王嵩,李进,龙晓东,王小光[2]（2018）在《1G比特内嵌自检自修复DDR3 DRAM存储器芯片设计》一文中研究指出芯片采用45nm迭层电容工艺技术,采用旋转分区的对称存储体(BANK)芯片架构。内嵌自检测修复(ECC)电路设计可以用来检测和纠正出错的数据以提高阵列保持时间。芯片采用高可靠高性能单元阵列设计、高速输入输出接口电路设计等技术,设计开发高可靠、低功耗的兼容国际JEDEC-DDR3标准的1G比特DRAM芯片。(本文来源于《中国集成电路》期刊2018年09期）
王华鑫[3]（2018）在《SRAM芯片内自修复模块设计与实现》一文中研究指出随着芯片制造工艺尺寸下降,存储器由于其高密度的特点,发生故障的概率更大,导致制造上良率下降,进而影响芯片制造成本。解决生产良率问题一方面可以运用改进的生产制造手段,另一方面可以在设计之初将自修复功能加入至芯片内,最终提高存储器生产良率。本文涉及叁种存储器自修复的方案:RM(repair-most)、ESP(essential spare pivoting)、RR(Random single address Repair)。论文中对这叁种方案的原理进行了详细介绍并结合实例进行了分析。这叁种方案各有侧重,对待故障地址的处理上有很大差别,本文在修复率、面积占比、测试时间叁个参数上进行比较,并进行成本分析。本文设计的自修复SRAM芯片经过前后端仿真、综合、时序分析、后端布局等主要芯片设计流程,得到最终的物理版图。在实际的芯片设计流程能够提供面积占比以及测试时间两个分析参数,修复率参数需要结合前期测试的故障数据,运用蒙特卡洛分析方法获得。使用自修复方案后,若运用修复率评价能够获得额外合格存储器数量,结果显示RM与ESP效果相当,RR最低;若运用面积占比评价额外需要的芯片面积开销,分析结果显示RR占比最大,RM次之,ESP最小;若运用测试时间评价芯片测试成本,结果显示RM方案最大,ESP次之,RR最小。其中修复率带来成本收益,面积占比以及测试时间带来成本开销,两者之差为最终成本收益。成本收益分析结果显示,叁种自修复方案皆能带来成本收益,ESP方案收益最大,为14.9%,RM次之,为12.5%,RR最低,为6.2%。经过上述叁个参数上的分析,得到ESP自修复方案对该存储器适用性最强,能够带来最大的成本收益,降低芯片生产成本。(本文来源于《北京交通大学》期刊2018-06-08）
张砦[4]（2015）在《面向数字系统芯片级自修复的胚胎硬件关键技术研究》一文中研究指出仿生电子硬件领域的胚胎硬件具有逻辑单元层次的分布式自主控制重构能力,为数字电路芯片级在线故障自测试与自修复提供了硬件基础,基于胚胎硬件技术设计的数字系统可在完全自主控制下大幅提高可靠性,胚胎硬件技术在航空、航天、深海等恶劣环境领域应用意义突出。基于胚胎硬件设计具有工程实用价值的芯片级自修复数字电子系统,需在硬件结构体系、应用系统可靠性提高方法和系统评估与验证方法等方面实现突破,但目前仅硬件结构体系研究有一定成果,而且还存在硬件资源利用率低下和自修复覆盖不全面的问题。本文针对胚胎硬件设计芯片级自修复数字系统的关键技术问题,围绕完善系统硬件体系、简化电路结构和探索应用设计过程可靠性提高方法叁个方面开展研究,提出新结构体系模型及相应自修复策略,给出细胞电路简化设计方法,并得到以可靠性为优化目标的应用设计最优参数选择方法。论文主要贡献在于:1、提出叁层硬件结构模型,包含系统层、组织层和细胞层。针对两层模型中细胞电路复杂度随阵列规模增大而快速提高的问题,增设组织层以减小自修复操作的阵列规模,可降低细胞电路复杂度;针对四层模型中系统层自修复导致组织内细胞高度冗余的问题,提出电子组织按逻辑功能分块、单独布局的结构,可提高资源利用率。2、面向新硬件结构模型,提出新的分层自修复策略。细胞层:进行细胞层各分子模块故障自测试设计,实现了细胞内部模块全面自测试,提出与组织层自修复相结合的细胞内分子模块自修复方法,可避免细胞层自修复引起的硬件冗余;组织层:针对故障细胞移除过程将发生瞬时故障细胞永久移除的问题,提出一种故障细胞可重利用的单细胞移除自修复策略,仅移除部分永久故障细胞,所有瞬时故障细胞都可自修复。3、以完善自测试、自修复能力和简化电路设计为目标,开展细胞内部电路模块设计研究,提出了新的自测试和自修复结构,实现了电路设计,验证了有效性。具体包括:⑴提出一种多功能可配置的逻辑功能模块结构,可简化常用数字逻辑的配置信息,提高逻辑分配效率;仅对影响输出的LUT存储单元进行测试,降低了电路复杂度;逻辑功能模块的全部瞬时故障和绝大部分永久故障可修复;⑵基于移位寄存器结构设计配置存储器,实现了配置存储器模块简化;配置存储器在细胞层自测试,与组织层自修复结合,可修复全部瞬时故障和部分永久故障;⑶设计并实现与自修复策略相适应的控制模块电路,并验证了控制过程正确性;⑷提出互连模块分离布局设计法:将配置信息控制的开关块布局在细胞内部,将无需配置控制的附加布线电路独立设计,分离设计可减小细胞面积,降低细胞故障率,采用纯组合电路结构设计附加布线电路,重布线速度更快。4、针对“特定设计人员在已知芯片对象开展设计任务,设计方法和设计能力由设计者决定”的胚胎硬件应用设计实际,研究应用设计过程可靠性提高方法,指导设计者选择最佳设计策略、确定设计参数。面向胚胎硬件阵列结构体系和细胞移除自修复策略,分析电路设计过程中硬件资源变化规律,针对传统可靠性模型无法体现细胞面积变化的不足,引入细胞面积参数,以其变化来表示细胞电路设计过程中细胞内部模块电路受设计方法影响的情况,建立了不同设计策略下的可靠性模型。通过可靠性数值分析,得到不同自修复策略、不同细胞单元粒度大小和不同细胞阵列布局结构中可靠性的变化规律,给出最佳设计参数的确定方法。5、设计了一个演示胚胎细胞阵列自修复设计方法正确性的物理实验平台。(本文来源于《南京航空航天大学》期刊2015-11-01）
王群[5]（2015）在《面向芯片级自修复的胚胎电子电路设计与实现》一文中研究指出该文以胚胎电子电路的相关理论为前提,探讨了自修复数字电路的设计方法和实现方式,同时对其逻辑块、配置寄存器和自修复辅助电路进行粗略的研究。(本文来源于《科技资讯》期刊2015年08期）
凯瑟琳·波尔扎克[6]（2013）在《自修复微芯片:烧坏了也工作》一文中研究指出可以适应严重损害状况的集成电路,展现出了提高普通芯片能效和可靠性的新方法。加州理工学院的研究人员展示了一种复杂的集成电路,能够在遭受重大损坏时,通过重新调整对信息的处理方式而不会报废。这种芯片并不会从物理上修复损坏,而是使用一个副处理器用新方式执行处理任务,而无视受到的损伤。芯片还可以设置节(本文来源于《科技创业》期刊2013年06期）
肖鹏翀[7]（2013）在《试论可重构硬件芯片级缺陷定位与自主修复措施》一文中研究指出可重构硬件芯片级缺陷定位与自主修复目前已经吸引到了越来越多业界厂商的关注。在这里,主要从以下四个方面针对可重构硬件芯片级缺陷定位与自主修复措施进行了简单分析与探讨。(本文来源于《黑龙江科技信息》期刊2013年10期）
郝国锋,王友仁,张砦,袁鹏,孔德明[8]（2012）在《可重构硬件芯片级故障定位与自主修复方法》一文中研究指出外部集中控制的可重构硬件容错系统,其重构控制算法复杂、重构时间开销大,且存在单点失效问题.本文研究芯片级分布式在线自主容错技术,提出了能够实现芯片级自修复的新型可重构硬件细胞阵列结构,阐述了互连资源的在线故障定位和自主修复方法.设计了功能细胞电路和容错开关块电路,采用分段定位法检测互连资源中多路器故障和连线开路故障,通过重配置布线和线移位操作分别实现多路器与连线故障自修复.以4位串并乘法器电路为例进行实验验证,分析了容错设计的硬件开销与时间开销,实验结果表明新方案的容错时间短、资源利用率高.(本文来源于《电子学报》期刊2012年02期）
张媛[9]（2008）在《面向芯片级自修复的胚胎电子电路设计与实现》一文中研究指出数字系统芯片级自诊断与自修复技术是目前容错计算领域的难点问题与学术前沿。胚胎电子电路汲取多细胞生物体的胚胎发育过程的灵感,是在均匀的二维电子细胞阵列上实现的具有自诊断、自修复能力的数字电路,这种阵列称为胚胎电子阵列。本文研究了面向芯片级自修复的胚胎电子电路的体系结构、自修复机制及细胞电路设计,改进了细胞内部主要组成模块的结构,包括逻辑块和配置存储器,通过添加的自修复辅助电路实现了单细胞移除机制,使得胚胎电子电路能够利用较少的资源获得更好的容错性能。以四位加法/减法器和模8计数器为例说明了基于胚胎电子阵列的应用电路的设计方法,通过实验结果验证了改进的细胞电路设计方案的有效性。本文主要研究成果为:(1)总结了传统细胞电路中主要模块的设计方法,对细胞主要功能模块的结构进行了改进。设计了具有叁种工作模式的逻辑块结构,与基于四输入LUT的逻辑块结构相比,这种新的逻辑块结构增强了细胞设计的灵活性,提高了资源利用率。(2)针对基于查找表的配置存储器结构资源消耗大的问题,设计了基于移位寄存器的配置存储器结构,与常规的基于查找表的配置存储器结构相比,这种新的配置存储器结构增强了细胞结构的通用性,实现大规模胚胎电子电路时在配置存储器的资源消耗量方面也更有优势。(3)针对列移除机制空闲资源利用率低的缺点,通过在细胞电路中添加自修复辅助电路,实现了单细胞移除机制,并基于两种配置存储器结构给出了两种单细胞移除设计方案。与常规的列移除机制相比,基于单细胞移除机制的胚胎电子电路表现出了更高的资源利用率,更强的容错能力以及更好的设计灵活性。(本文来源于《南京航空航天大学》期刊2008-01-01）
姚睿,王友仁,于盛林[10]（2006）在《空间飞行器集成化电子系统芯片级在线进化修复》一文中研究指出EHW是一种具有自组织、自适应、自修复作用的新型智能硬件,利用EHW可以实现太空飞行器星载测控装置硬件芯片级自主修复。本文研究了利用进化硬件(EHW)技术实现电子系统硬件自修复的方法。介绍了EHW的概念、原理,给出了EHW实现集成化电子系统故障自修复的机理。设计了EHW在线进化平台、进化算法和编码方法。通过典型数字逻辑电路在线进化实验,验证了进化修复方法的可行性。(本文来源于《中国宇航学会深空探测技术专业委员会第叁届学术会议论文集》期刊2006-11-01）
芯片级自修复论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
芯片采用45nm迭层电容工艺技术,采用旋转分区的对称存储体(BANK)芯片架构。内嵌自检测修复(ECC)电路设计可以用来检测和纠正出错的数据以提高阵列保持时间。芯片采用高可靠高性能单元阵列设计、高速输入输出接口电路设计等技术,设计开发高可靠、低功耗的兼容国际JEDEC-DDR3标准的1G比特DRAM芯片。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
芯片级自修复论文参考文献
[1].王明利,缪明军,刘平,张广治,王贵玉.电路板芯片级修复在X射线荧光光谱仪维护中的应用[J].冶金分析.2019
[2].谈杰,王嵩,李进,龙晓东,王小光.1G比特内嵌自检自修复DDR3DRAM存储器芯片设计[J].中国集成电路.2018
[3].王华鑫.SRAM芯片内自修复模块设计与实现[D].北京交通大学.2018
[4].张砦.面向数字系统芯片级自修复的胚胎硬件关键技术研究[D].南京航空航天大学.2015
[5].王群.面向芯片级自修复的胚胎电子电路设计与实现[J].科技资讯.2015
[6].凯瑟琳·波尔扎克.自修复微芯片:烧坏了也工作[J].科技创业.2013
[7].肖鹏翀.试论可重构硬件芯片级缺陷定位与自主修复措施[J].黑龙江科技信息.2013
[8].郝国锋,王友仁,张砦,袁鹏,孔德明.可重构硬件芯片级故障定位与自主修复方法[J].电子学报.2012
[9].张媛.面向芯片级自修复的胚胎电子电路设计与实现[D].南京航空航天大学.2008
[10].姚睿,王友仁,于盛林.空间飞行器集成化电子系统芯片级在线进化修复[C].中国宇航学会深空探测技术专业委员会第叁届学术会议论文集.2006
标签：ARL9900系列X射线荧光光谱仪; 电路板故障; 芯片级修复;