导读:本文包含了光学膜厚论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:光子晶体,自组装,双基片垂直沉积,蛋白石结构
光学膜厚论文文献综述
闫刚印[1]（2019）在《不同膜厚对SiO_2光子晶体形貌及光学性能的影响》一文中研究指出利用改良的St?ber法制成了粒径均一的SiO_2胶体颗粒,胶体微球颗粒平均粒径为200 nm。保持SiO_2悬浮液体积分数相同,对双基片自组装垂直沉积进行改造,改变夹层厚度,沉积得到厚度不同的SiO_2光子晶体薄膜。利用扫描电子显微镜观察了膜厚不同的SiO_2光子晶体薄膜样品的表面以及断面微观形貌,测试了样品的光反射性能,此外还讨论了光子晶体薄膜厚度对样品表面的形貌以及样品光反射性能带来的影响。(本文来源于《人工晶体学报》期刊2019年07期）
庄秋慧,王叁强[2]（2018）在《光学膜厚的监控方法》一文中研究指出提出了一种提高光电极值法中膜层厚度监控精度的新方法。通过提高判读点的精度,避免了光学极值法中停镀时存在的随机误差;通过算法的处理,将监控信号和光学厚度间的非线性关系转变成了线性关系,并推算出最佳起判时间,避免了监控薄膜沉积时非线性误差对极值点判别的影响。(本文来源于《激光与光电子学进展》期刊2018年10期）
郝殿中,韩培高,牛明生[3]（2018）在《膜厚对Ag-TiO_2薄膜光学性能和光催化性能影响的研究》一文中研究指出采用电子束沉积方法制备了Ag-TiO_2光催化剂,采用电子扫描显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)、透射电镜(TEM)、紫外-可见(UV-Vis)光谱仪和原子力显微镜(AFM)等手段对薄膜的形貌、物相组成,吸收光谱和粗糙度进行了表征。利用太阳光,以甲基橙(MO)为模拟污染物,考察光催化剂的光催化活性,探讨了薄膜厚度对光催化效率的影响。结果表明,在300℃温度下,所形成的薄膜为无定形结构;当薄膜厚为570nm时,降解40days后,MO的降解率达到55%。(本文来源于《光电子·激光》期刊2018年01期）
余亮,梁齐,刘磊,马明杰,史成武[4]（2015）在《膜厚对射频磁控溅射法制备的SnS薄膜结构和光学性质的影响》一文中研究指出利用射频磁控溅射法在玻璃衬底上制备SnS薄膜,用X射线衍射(XRD)、能谱仪(EDS)、原子力显微镜(AFM)、场发射扫描电镜(FE-SEM)和紫外-可见-近红外分光光度计(UV-Vis-NIR)分别对所制备的薄膜晶体结构、组分、表面形貌、厚度、反射率和透过率进行表征分析。研究结果表明:薄膜厚度的增加有利于改善薄膜的结晶质量和组分配比,晶粒尺寸和颗粒尺寸随着厚度的增加而变大。样品的折射率在1 500~2 500nm波长范围内随着薄膜厚度的增加而增大。样品在可见光区域吸收强烈,吸收系数达105cm-1量级。禁带宽度在薄膜厚度增加到1 042 nm时为1.57 e V,接近于太阳电池材料的的最佳光学带隙(1.5 e V)。(本文来源于《发光学报》期刊2015年04期）
华显立[5]（2013）在《光学膜厚监控技术》一文中研究指出影响光学薄膜器件特性的众多因素中,膜层的折射率和光学厚度是两个最重要的因素。尤其对正在淀积的膜层的折射率精确测量极为困难,膜厚监控便成为了薄膜制备成败的关键。文章介绍了几种典型膜厚监控方法基本工作原理和最新进展。(本文来源于《技术与市场》期刊2013年11期）
刘青龙,杨崇民,张建付,米高园,韩俊[6]（2012）在《大曲率球面零件光学膜厚分布数值计算》一文中研究指出为了对沉积在大曲率球面零件表面的光学膜厚分布进行理论分析计算,首先确定了工艺配置,然后通过数学建模确定出计算函数式,最后通过数值积分分别对蒸发源为点源(n=0)和蒸发源为面源(n=1,2)进行了计算。计算结果与实验结果比较后表明:在本文确定的工艺条件下,n=2时计算结果与实验结果比较吻合。证明采用本文设计的建模方法结合恰当的蒸发源发射特性,通过数值计算,完全可以对大曲率球面零件的膜厚分布进行计算。(本文来源于《应用光学》期刊2012年06期）
潘李宜基,朱均强[7]（2012）在《实用化金属极薄型膜厚相干光学测量》一文中研究指出采用自动化实时检测,控制金属Ti蒸发镀膜的厚度尺寸而得到极薄实用化型薄膜。使用相干光学与扫描电子显微镜测量了极薄型薄膜的厚度在90到100nm前后。该方法可以简单的使用在各种种类的各种导电性的极薄薄膜的厚度测量中。(本文来源于《中国真空学会2012学术年会论文摘要集》期刊2012-09-21）
闫凯[8]（2012）在《光学镀膜宽带膜厚监控系统研究》一文中研究指出针对传统的宽带膜厚监控法存在精度低和灵活性不高的缺陷,文章提出了一种新的方法,在蒸镀过程中不断拟合更新镀层的色散系数(折射率)、膜厚等参数,而后根据所得数据不断修正设想的目标透射率(反射率),以克服传统的宽带膜厚监控法的缺陷,这就是基于修正膜层目标光谱特性的宽带膜厚监控系统。(本文来源于《科学之友》期刊2012年11期）
[9]（2012）在《光学膜厚智能测控仪研制成功》一文中研究指出成都中科唯实仪器有限责任公司技术研发部门通过自主设计,完成光学膜厚智能测控仪研发任务。传统的光学镀膜采用极值法膜厚监控方式,正确判定极值点是镀膜操作人员的重要操作技术,它(本文来源于《机械》期刊2012年02期）
[10]（2012）在《光学膜厚智能测控仪研制成功》一文中研究指出近日,成都中科唯实仪器有限责任公司技术研发部门通过自主设计,完成光学膜厚智能测控仪研发任务。传统的光学镀膜采用极值法膜厚监控方式,正确判定极值点是镀膜操作人员的重要操作技术,它决定着每一炉镀膜的质量。镀膜过程中镀膜操作人员必须全神贯注地注(本文来源于《润滑与密封》期刊2012年02期）
光学膜厚论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
提出了一种提高光电极值法中膜层厚度监控精度的新方法。通过提高判读点的精度,避免了光学极值法中停镀时存在的随机误差;通过算法的处理,将监控信号和光学厚度间的非线性关系转变成了线性关系,并推算出最佳起判时间,避免了监控薄膜沉积时非线性误差对极值点判别的影响。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
光学膜厚论文参考文献
[1].闫刚印.不同膜厚对SiO_2光子晶体形貌及光学性能的影响[J].人工晶体学报.2019
[2].庄秋慧,王叁强.光学膜厚的监控方法[J].激光与光电子学进展.2018
[3].郝殿中,韩培高,牛明生.膜厚对Ag-TiO_2薄膜光学性能和光催化性能影响的研究[J].光电子·激光.2018
[4].余亮,梁齐,刘磊,马明杰,史成武.膜厚对射频磁控溅射法制备的SnS薄膜结构和光学性质的影响[J].发光学报.2015
[5].华显立.光学膜厚监控技术[J].技术与市场.2013
[6].刘青龙,杨崇民,张建付,米高园,韩俊.大曲率球面零件光学膜厚分布数值计算[J].应用光学.2012
[7].潘李宜基,朱均强.实用化金属极薄型膜厚相干光学测量[C].中国真空学会2012学术年会论文摘要集.2012
[8].闫凯.光学镀膜宽带膜厚监控系统研究[J].科学之友.2012
[9]..光学膜厚智能测控仪研制成功[J].机械.2012
[10]..光学膜厚智能测控仪研制成功[J].润滑与密封.2012