导读:本文包含了全速电流论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:永磁同步电动机,最大转矩电流比,矢量控制
全速电流论文文献综述
张成,王心坚,宋国辉,孙泽昌[1]（2013）在《PMSM最大转矩电流比全速控制策略及其仿真》一文中研究指出在恒功率区,电机运行主要受电压极限椭圆的约束。基于永磁同步电机转子磁场定向数学模型,提出了在全速范围内实现最大转矩电流比的电流控制算法,并在MATLAB/Simulink环境下建模仿真。仿真结果表明,提出的永磁同步电机全速范围MTPA控制算法获得了电流、转矩的准确、快速响应,实现0～9 000 r/min的宽范围调速。采用SVPWM实现圆形磁场利于降低转矩波动。(本文来源于《微特电机》期刊2013年01期）
郭朝有,欧阳光耀,吴雄学[2]（2011）在《基于全速电流测试的印制电路板电路故障信息获取方法》一文中研究指出针对当前印制电路板(PCB)非介入式故障诊断的需要,结合电源电流测试技术发展现状,提出了基于全速电流测试,通过向测试电路施加测试序列使被测电路处于静置和全功能状态交替工作,采集电源电流在若干个工作周期内的平均电流值以实现非介入PCB电路故障信息获取的新方法。ITC’97国际标准电路中的CTSV滤波器电路的全速电流测试仿真实验结果表明,该方法可完成PCB电路非介入的故障信息获取,有望实现印制电路板的非介入式故障诊断。(本文来源于《机电工程》期刊2011年10期）
郭朝有,欧阳光耀[3]（2010）在《基于全速电流测试的模拟电路故障诊断》一文中研究指出研究了全速电流测试技术在模拟电路故障诊断中的应用,对待测电路施加一测试序列,使电路交替工作于静置状态和全功能状态以实现全速电流测试,并以电源端在一时间段内的平均电流为故障特征,建立人工免疫系统进行电路诊断。ITC′97国际标准电路CTSV滤波电路的故障诊断实验表明,该全速电流测试方法能实现模拟电路的高故障覆盖率的故障检测与定位。(本文来源于《电子测量技术》期刊2010年01期）
邓杭剑,邝继顺,蔡烁[4]（2008）在《用全速电流测试方法检测PIC12F509微处理器》一文中研究指出全速电流测试是一种新的电路测试方法。这里将一种指令级的全速电流测试方法应用到RISC指令集流水线结构的PIC12F509微处理器测试实验中。实验结果表明使用指令级的全速电流测试方法对PIC12F509微处理器进行测试是可行的。(本文来源于《微处理机》期刊2008年01期）
邓杭剑[5]（2007）在《PIC12F509全速电流测试及自反馈测试研究》一文中研究指出集成电路测试技术是生产高性能集成电路和提高集成电路成品率的关键。随着集成电路制造技术的发展,电压测试和稳态电流测试方法已不能满足高性能集成电路的要求。90年代中期提出的瞬态电流测试方法(IDDT Testing)能够发现一些其他测试方法所不能发现的故障,进而从总体上进一步提高测试的故障覆盖率,满足人们对高性能集成电路的需要,但是由于其对测试设备要求苛刻现在仍处于研究阶段。针对瞬态电流测试过于依赖测试设备的现状,中科院闵应骅教授等提出了全速电流测试方法(IDDA Testing)。全速电流测试的可行性已在仿真实验中得到了验证,现在需要实测实验的支持。本文运用指令级全速电流测试方法,以PIC12F509微处理器为例,通过实验说明全速电流测试方法的可行性。PIC12F509的指令级测试以汇编测试程序作为测试激励,实验中通过对PIC12F509的详细分析,确定了针对数据通路的测试策略,并给出了测试程序的产生方法。实验结果表明,用指令级全速电流测试方法对PIC12F509微处理器进行测试是可行的。通过测试所有的数据通路,不仅可以检测数据通路的故障,而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误。随机自反馈测试方法测试生成简单,节省了保存测试向量的存储器开销,但它需要对测试产生的每个测试集都做故障模拟来寻找故障覆盖率高的测试集,耗费的测试产生时间太大。为了减少故障模拟次数和故障模拟时间,本文研究了基于海明距离的随机自反馈测试方法,通过探讨测试集的海明距离和故障覆盖率之间的关系,寻找故障覆盖率高的测试集对应的海明距离的区间范围,从而只对该范围内的测试集做故障模拟,以减少故障模拟的次数达到减少测试产生时间的目的。(本文来源于《湖南大学》期刊2007-05-14）
荀庆来,邝继顺,闵应骅[6]（2007）在《用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究》一文中研究指出全速电流测试是一种新的电路测试方法,现以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性.在实验中,让微处理器重复执行选定的指令序列,以普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流,并给出了指令序列的产生方法.实验结果表明,用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的.通过测试所有的数据通路,不但可以检测数据通路的故障,而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误.(本文来源于《计算机研究与发展》期刊2007年03期）
荀庆来,邝继顺[7]（2006）在《基于赋值判决图的AT89C51微处理器全速电流测试实验研究》一文中研究指出全速电流测试是一种新的电路测试方法,以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性。实验中将80C51内核的HDL描述转换为赋值判决图(ADD),然后由ADD产生测试所需的指令序列,最后令微处理器重复执行产生的指令序列,并用普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流。实验结果表明,用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的。通过测试所有的数据通路,不仅可以检测数据通路的故障,而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误。(本文来源于《科学技术与工程》期刊2006年13期）
荀庆来[8]（2006）在《微处理器全速电流测试实验研究》一文中研究指出随着集成电路制造技术的发展,基于固定型故障模型的电压测试技术越来越不能满足高性能集成电路的需求。为了降低测试成本并且提高集成电路的可靠性,电流测试应运而生。电流测试技术包括稳态电流测试(IDDQ Testing)、瞬态电流测试(IDDT Testing)两种方法。稳态电流测试目前已经实用化,而瞬态电流测试由于其对测试设备要求苛刻和其他一些技术问题仍处于研究阶段。针对瞬态电流测试过于依赖测试设备的现状,中科院闵应骅教授提出了基于瞬态电流的全速电流测试方法(IDDA Testing)。全速电流测试的可行性已在仿真实验中得到了验证,现在需要实测实验的支持。微处理器是一种较为特殊的电路,它可不需要外加激励而依靠程序存储器自行运转。若以程序作为测试激励,用全速电流测试方法检测微处理器,实验过程将非常容易实现。本文针对微处理器的特点,提出了指令级全速电流测试方法。希望以AT89C51微处理器为例,通过实验说明用全速电流测试进行微处理器测试是可行的。AT89C51的指令级测试以汇编测试程序作为测试激励,实验中通过对AT89C51的详细分析,确定了针对通路的测试策略,并给出了测试程序产生方法。测试时,我们让微处理器重复执行选定的测试程序,用普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流。实验结果表明,用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的,通过测试所有的数据通路,不仅可以检测数据通路的故障,而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误。(本文来源于《湖南大学》期刊2006-03-15）
张鑫[9]（2005）在《提高瞬态电流测试自动测试生成时间效率的方法及全速电流模拟》一文中研究指出集成电路测试技术是生产高性能集成电路和提高集成电路成品率的关键。基于固定型故障模型的测试方法已不能满足高性能集成电路,尤其是对CMOS电路的测试要求。80年代早期提出的稳态电流测试(IDDQ testing)逐渐成为了工业界接受的测试方法。稳态电流测试可以大幅度降低测试成本,提高芯片的可靠性。但是CMOS电路中的某些故障,例如开路故障,仍然无法用稳态电流测试或逻辑测试的方法检测出来,而且其还面临着深亚微米技术中漏电流日益剧增的严峻挑战。正是由于这些方面的局限性,人们提出了瞬态电流测试方法(IDDT testing),以便发现一些其他测试方法所不能发现的故障,进而从总体上进一步提高测试的故障覆盖率,满足人们对高性能集成电路的需要。由于瞬态电流测试方法对测试设备的要求很高,目前的测试设备还达不到要求。为了降低对测试设备的要求,人们又提出了全速电流测试方法(IDDA testing)。对每一个故障都进行一次测试生成所花费的总时间太多而且没有必要,因为电路中有很多故障相互之间存在某种关系,如“等价”关系和“支配”关系,这些故障可以被同一个测试向量对所检测。本文针对用瞬态电流测试来检测晶体管开路故障(stuck-open fault),研究精简故障数目,提高测试生成效率的方法。通过从靠近电路原始输出端向原始输入端逐渐进行测试生成以及动态调整可控制性代价参数和颠倒测试向量对顺序,减少了需要进行测试生成的故障的数目,明显地提高了测试生成的时间效率而且算法的“健壮”性基本不变。模拟实验结果表明,测试生成算法执行时间大约减少了70%。此外,为了验证测试产生算法向量的有效性,本文对波形模拟器做了一定的修改,使之可以对门延时在标称值10%范围内变化的电路进行故障模拟。其中所用到的门延时的分布满足正态分布。实验结果表明,本文所提出的测试向量产生算法是有效的。最后,为了验证全速电流测试的可行性,我们通过利用PSPICE软件对C432电路中的一些故障做了模拟,这些故障包括开路故障、固定故障和冗余故障。从模拟的波形来看,无故障电路和有故障电路的波形差别比较大,这充分论证了全速电流测试应用于工业是可行的。(本文来源于《湖南大学》期刊2005-06-30）
牛小燕,闵应骅,邝继顺[10]（2004）在《全速电流测试的故障精简和测试生成》一文中研究指出针对全速电流测试方法测试生成算法效率低下的问题 ,提出故障压缩、故障模拟等故障精简的方法 ,以提高该方法的测试生成效率 实验结果表明 ,该方法使得需要进行测试生成的故障点平均减少了 6 6 8% ,该测试方法的测试生成的效率提高了 2 0 0多倍(本文来源于《计算机辅助设计与图形学学报》期刊2004年10期）
全速电流论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
针对当前印制电路板(PCB)非介入式故障诊断的需要,结合电源电流测试技术发展现状,提出了基于全速电流测试,通过向测试电路施加测试序列使被测电路处于静置和全功能状态交替工作,采集电源电流在若干个工作周期内的平均电流值以实现非介入PCB电路故障信息获取的新方法。ITC’97国际标准电路中的CTSV滤波器电路的全速电流测试仿真实验结果表明,该方法可完成PCB电路非介入的故障信息获取,有望实现印制电路板的非介入式故障诊断。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
全速电流论文参考文献
[1].张成,王心坚,宋国辉,孙泽昌.PMSM最大转矩电流比全速控制策略及其仿真[J].微特电机.2013
[2].郭朝有,欧阳光耀,吴雄学.基于全速电流测试的印制电路板电路故障信息获取方法[J].机电工程.2011
[3].郭朝有,欧阳光耀.基于全速电流测试的模拟电路故障诊断[J].电子测量技术.2010
[4].邓杭剑,邝继顺,蔡烁.用全速电流测试方法检测PIC12F509微处理器[J].微处理机.2008
[5].邓杭剑.PIC12F509全速电流测试及自反馈测试研究[D].湖南大学.2007
[6].荀庆来,邝继顺,闵应骅.用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究[J].计算机研究与发展.2007
[7].荀庆来,邝继顺.基于赋值判决图的AT89C51微处理器全速电流测试实验研究[J].科学技术与工程.2006
[8].荀庆来.微处理器全速电流测试实验研究[D].湖南大学.2006
[9].张鑫.提高瞬态电流测试自动测试生成时间效率的方法及全速电流模拟[D].湖南大学.2005
[10].牛小燕,闵应骅,邝继顺.全速电流测试的故障精简和测试生成[J].计算机辅助设计与图形学学报.2004