本文主要研究内容
作者范舟,黄泰愚,刘建仪(2019)在《硫对镍基合金825(100)电子结构影响的密度泛函研究》一文中研究指出:由于硫在镍基合金表面易产生点蚀,基于密度泛函理论,利用软件对镍基合金825表面吸附元素硫进行了计算,研究了硫对合金表面电子结构及耐蚀性的影响。研究表明,S在合金825面心立方晶胞(100)Ni/Fe终止面上的H位吸附能达到-6.51 eV,相互作用较强且稳定吸附;S在合金(100)面的吸附主要是由S-3p轨道与Fe-3d轨道以及第二层Cr-3d轨道杂化引起;综合分析电子态密度、电荷布居、差分电荷密度,硫在合金(100)面吸附后电子态呈扩散趋势,活性增加,带负电,Ni-S间的弱耦合作用阻碍了Fe-S成键,Ni的存在提高了合金的耐蚀性;当S覆盖度从0.25ML升高到1.0ML时,在0.5ML附近S与合金的相互作用达到极大,在1.0ML附近时相邻S原子间的耦合和杂化阻碍了S在(100)面上的吸附。
Abstract
you yu liu zai nie ji ge jin biao mian yi chan sheng dian shi ,ji yu mi du fan han li lun ,li yong ruan jian dui nie ji ge jin 825biao mian xi fu yuan su liu jin hang le ji suan ,yan jiu le liu dui ge jin biao mian dian zi jie gou ji nai shi xing de ying xiang 。yan jiu biao ming ,Szai ge jin 825mian xin li fang jing bao (100)Ni/Fezhong zhi mian shang de Hwei xi fu neng da dao -6.51 eV,xiang hu zuo yong jiao jiang ju wen ding xi fu ;Szai ge jin (100)mian de xi fu zhu yao shi you S-3pgui dao yu Fe-3dgui dao yi ji di er ceng Cr-3dgui dao za hua yin qi ;zeng ge fen xi dian zi tai mi du 、dian he bu ju 、cha fen dian he mi du ,liu zai ge jin (100)mian xi fu hou dian zi tai cheng kuo san qu shi ,huo xing zeng jia ,dai fu dian ,Ni-Sjian de ruo ou ge zuo yong zu ai le Fe-Scheng jian ,Nide cun zai di gao le ge jin de nai shi xing ;dang Sfu gai du cong 0.25MLsheng gao dao 1.0MLshi ,zai 0.5MLfu jin Syu ge jin de xiang hu zuo yong da dao ji da ,zai 1.0MLfu jin shi xiang lin Syuan zi jian de ou ge he za hua zu ai le Szai (100)mian shang de xi fu 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自材料导报的范舟,黄泰愚,刘建仪,发表于刊物材料导报2019年S1期论文,是一篇关于镍基合金论文,吸附论文,电子结构论文,材料导报2019年S1期论文的文章。本文可供学术参考使用,各位学者可以免费参考阅读下载,文章观点不代表本站观点,资料来自材料导报2019年S1期论文网站,若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权,请联系我们删除。
标签:镍基合金论文; 吸附论文; 电子结构论文; 材料导报2019年S1期论文;