导读:本文包含了椭圆偏振法论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:膜厚,椭偏仪,镀聚二甲基硅氧烷膜玻瓶
椭圆偏振法论文文献综述
朱必林,裘婧[1]（2017）在《椭圆偏振法对药用镀膜玻瓶膜层厚度的测量》一文中研究指出本文提出利用椭圆偏振技术对药用镀聚二甲基硅氧烷膜玻瓶的膜层厚度进行测量,选择Cauchy模型进行拟合分析,准确测出镀膜玻瓶的膜厚。实验结果表明,该方法适用于此类镀膜产品膜厚的测量。(本文来源于《人人健康》期刊2017年24期）
李勇,李刚,曹小荣,李亮[2]（2016）在《基于椭圆偏振法的薄膜厚度测量》一文中研究指出选用Si3N4薄膜和Zr O薄膜两种光学材料作为测试对象以研究椭圆偏振法测量薄膜厚度的精度。实验结果表明,椭圆偏振法的精度较高,但对于数量级在几十个nm的光学薄膜,误差相对较大。该实验为进一步调试和改进测试平台,对单一材料多层膜和不同材料多层膜等更加复杂的膜系进行研究提供了参考。(本文来源于《安阳工学院学报》期刊2016年04期）
武志勇,徐抒平,崔海宁,徐蔚青[3]（2014）在《椭圆偏振法对阳极氧化铝薄膜光学特性的测量》一文中研究指出阳极氧化铝(以下简称AAO)薄膜以其制备技术相对成熟、制备过程相对简单而被广泛应用于各个科研领域,具有不同表面形貌或空间结构的AAO薄膜常见于各种光学系统中~([1])。但是其本征特性,例如等效折射率和厚度等参数,难以用常规的测试办法在不损坏薄膜的条件下获得。本文利用椭圆偏振法,以氙灯为光源,通过测试其椭偏光谱,利用拟合的办法用于AAO的厚度、折射率和消光系数等参数测定。实验中调整模型的结构,以减小拟合结果的标准差并使色散公式的参数在合理范围,获得具有较高置信度的拟合结果。对不同条件下获得的AAO薄膜进行了表征,准确并无损的获得了薄膜的厚度、折射率和消光系数等参数。本研究为薄膜的制备条件提供了线索,为薄膜的利用提供了可信的参数。(本文来源于《第十八届全国分子光谱学学术会议论文集》期刊2014-10-31）
纪贝,黄水平,周骏[4]（2015）在《椭圆偏振法测定在线Low-E玻璃的可见-近红外光学常数与膜厚》一文中研究指出从在线Low-E玻璃光学机理出发,用椭圆偏振光谱仪对在线Low-E玻璃功能层和过渡层的可见-近红外波段的光学常数进行研究.测量了样品在叁个不同入射角的椭偏参数,分别用Lorentz双振子模型和Cauchy模型来描述Low-E玻璃功能层和过渡层的光学色散特性.通过拟合椭偏参数获得在线Low-E玻璃的光学常数及每层膜厚度,并用扫描电镜对样品的膜厚进行表征.结果表明,Lorentz双振子模型和Cauchy模型能很好地解释在线Low-E玻璃的光学特性;同时,椭圆偏振法也为多层膜系统提供了一种测定光学常数和膜厚的可靠方法.(本文来源于《光子学报》期刊2015年05期）
贾红宝,孙菁华,徐耀,吴东,吕海兵[5]（2013）在《X射线反射法和椭圆偏振法结合测量热处理溶胶-凝胶ZrO_2薄膜的结构和光学参数》一文中研究指出采用溶胶-凝胶法在硅片基底上制备ZrO2薄膜,在150℃～750℃范围内不同温度下进行热处理,研究了热处理对膜层结构和光学性能的影响。X射线反射用于膜层厚度和界面粗糙度分析,结果表明热处理温度由150℃升至750℃,膜层厚度由常温状态下的112.3nm减小到34.0nm,表面和界面粗糙度均小于2nm。以X射线反射法测得的膜层厚度为初始值,对椭圆偏振仪的测量结果进行拟合,得到不同温度的膜层折射率,结果表明热处理温度为550℃时膜层折射率达到最大值。X射线反射作为直接的膜层厚度测试手段,所得结果为准确分析椭偏光谱提供了参考。(本文来源于《材料科学与工程学报》期刊2013年01期）
王艳茹,李文坡,吴进芳,张胜涛[6]（2011）在《铅在铜上电沉积的原位椭圆偏振法》一文中研究指出采用循环伏安法(CV)和原位椭圆偏振法(SE)研究铅在铜电极上的电沉积行为。原位椭圆偏振参数Ψ和Δ值的变化率在CV图峰电位处同时出现极值。通过建立单层膜模型描述"电极-溶液"界面的结构并对椭圆偏振光谱数据进行拟合得到铅沉积层厚度随电位的变化规律。拟合结果显示,铅在铜电极上的电沉积有3个不同的沉积速率,-0.20～-0.35V之间沉积速率为0.003nm/mV,-0.35～-0.48V之间沉积速率为0.025nm/mV,-0.48～-0.60V之间沉积速率为0.116nm/mV,由此表明铅的电沉积分为3个不同阶段:欠电位沉积阶段、欠电位沉积向本体沉积的过渡阶段和本体沉积阶段。(本文来源于《应用化学》期刊2011年01期）
于晓红,连洁,卢霏,宋平,高尚[7]（2009）在《椭圆偏振法研究B离子注入LiNbO_3光波导的光学特性》一文中研究指出用椭圆偏振法研究了2.5 MeV B离子注入后的铌酸锂晶体,建立四层模型,对反射式椭圆偏振测量得出的数据进行反演拟合,得到了波导层厚度及0.3~0.8μm波段波导层和损伤层的双折射色散曲线,发现低剂量B离子注入铌酸锂形成了折射率下降的位垒,在晶体表面下2.0μm范围内得到了光波导结构。研究结果为以铌酸锂为基础的光波导器件研发提供了重要信息。(本文来源于《人工晶体学报》期刊2009年06期）
张鹤,张晓丹,韩晓艳,赵颖,熊绍珍[8]（2008）在《光谱椭圆偏振法表征太阳电池用微晶硅薄膜初探》一文中研究指出本文尝试为等离子体化学气相沉积(PECVD)制备的微晶硅(μc-Si:H)薄膜太阳电池的P型与I型微晶硅(μc-Si:H)材料和N型非晶硅(a-Si:H)材料建立简单实用的光学模型,用以拟合可见和近红外范围(370nm-1000nm)的光谱椭圆偏振测量值(Ψ和Δ)而得到这些材料的光学常数(折射率和吸收系数)谱。采用了Tauc-Lorentz振子模型,并考虑玻璃衬底下表面反射和硅薄膜表面氧化层与粗糙层的影响,得到了比较理想的拟合结果。结合拉曼散射谱分析结果,发现光学常数谱可以反映材料以晶化程度为主的微观结构信息。(本文来源于《第十届中国太阳能光伏会议论文集：迎接光伏发电新时代》期刊2008-09-19）
温淑珍,李怀亮,张全禹[9]（2007）在《分析1/4波片对椭圆偏振法测量误差产生的原因》一文中研究指出主要讨论1/4波片误差对椭偏法测量薄膜厚度及折射率等参量的影响,质量理想的波片以及方位角的误差对PCSA系统测量结果的影响。(本文来源于《黑龙江科技信息》期刊2007年14期）
耿迅,刘庆冬,刘文庆,李强,姚美意[10]（2007）在《椭圆偏振法研究四方氧化锆对Zr-Sn-Nb合金氧化膜耐腐蚀性能的影响(英文)》一文中研究指出将经过不同热处理的Zr-Sn-Nb合金样品放在350℃、16.8mol/LPa、0.01mol/LLiOH溶液的高压釜中进行腐蚀。用椭圆偏振法研究氧化膜中的四方氧化锆,发现经过580℃/冷轧/500℃处理的样品在腐蚀42天和190天后氧化膜中的四方氧化锆比其它样品的多。四方氧化锆是影响合金耐腐蚀性能的一个主要因素,四方氧化锆的形成有利于提高合金的耐腐蚀性能。(本文来源于《中山大学学报(自然科学版)》期刊2007年S1期）
椭圆偏振法论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
选用Si3N4薄膜和Zr O薄膜两种光学材料作为测试对象以研究椭圆偏振法测量薄膜厚度的精度。实验结果表明,椭圆偏振法的精度较高,但对于数量级在几十个nm的光学薄膜,误差相对较大。该实验为进一步调试和改进测试平台,对单一材料多层膜和不同材料多层膜等更加复杂的膜系进行研究提供了参考。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
椭圆偏振法论文参考文献
[1].朱必林,裘婧.椭圆偏振法对药用镀膜玻瓶膜层厚度的测量[J].人人健康.2017
[2].李勇,李刚,曹小荣,李亮.基于椭圆偏振法的薄膜厚度测量[J].安阳工学院学报.2016
[3].武志勇,徐抒平,崔海宁,徐蔚青.椭圆偏振法对阳极氧化铝薄膜光学特性的测量[C].第十八届全国分子光谱学学术会议论文集.2014
[4].纪贝,黄水平,周骏.椭圆偏振法测定在线Low-E玻璃的可见-近红外光学常数与膜厚[J].光子学报.2015
[5].贾红宝,孙菁华,徐耀,吴东,吕海兵.X射线反射法和椭圆偏振法结合测量热处理溶胶-凝胶ZrO_2薄膜的结构和光学参数[J].材料科学与工程学报.2013
[6].王艳茹,李文坡,吴进芳,张胜涛.铅在铜上电沉积的原位椭圆偏振法[J].应用化学.2011
[7].于晓红,连洁,卢霏,宋平,高尚.椭圆偏振法研究B离子注入LiNbO_3光波导的光学特性[J].人工晶体学报.2009
[8].张鹤,张晓丹,韩晓艳,赵颖,熊绍珍.光谱椭圆偏振法表征太阳电池用微晶硅薄膜初探[C].第十届中国太阳能光伏会议论文集：迎接光伏发电新时代.2008
[9].温淑珍,李怀亮,张全禹.分析1/4波片对椭圆偏振法测量误差产生的原因[J].黑龙江科技信息.2007
[10].耿迅,刘庆冬,刘文庆,李强,姚美意.椭圆偏振法研究四方氧化锆对Zr-Sn-Nb合金氧化膜耐腐蚀性能的影响(英文)[J].中山大学学报(自然科学版).2007
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