本文主要研究内容
作者贾秋荣,崔红卫,张甜甜,崔晓丽,潘尧坤,冯锐（2019）在《不同电解液体系中高纯镁表面微弧氧化膜的组织与性能》一文中研究指出：在硅酸盐、铝酸盐、硅酸盐与铝酸盐复合3种电解液体系中对纯镁表面进行微弧氧化处理,通过扫描电镜观察、能谱分析、X射线衍射分析和电化学测试等方法研究了微弧氧化膜的组织及性能。结果表明:硅酸盐体系中得到的微弧氧化膜最厚,其厚度为34.54μm,组织相对致密均匀,主要由MgO和Mg2SiO4构成;复合体系中得到的微弧氧化膜的表面粗糙度最小,为0.19μm,组织致密均匀,主要由MgO、Mg2SiO4和MgAl2O4构成;铝酸盐体系中得到的微弧氧化膜组织的致密性最差,主要由MgO和MgAl2O4构成;硅酸盐体系中得到的微弧氧化膜耐蚀性最好,其自腐蚀电流密度比基体的小一个数量级。
Abstract
zai gui suan yan 、lv suan yan 、gui suan yan yu lv suan yan fu ge 3chong dian jie ye ti ji zhong dui chun mei biao mian jin hang wei hu yang hua chu li ,tong guo sao miao dian jing guan cha 、neng pu fen xi 、Xshe xian yan she fen xi he dian hua xue ce shi deng fang fa yan jiu le wei hu yang hua mo de zu zhi ji xing neng 。jie guo biao ming :gui suan yan ti ji zhong de dao de wei hu yang hua mo zui hou ,ji hou du wei 34.54μm,zu zhi xiang dui zhi mi jun yun ,zhu yao you MgOhe Mg2SiO4gou cheng ;fu ge ti ji zhong de dao de wei hu yang hua mo de biao mian cu cao du zui xiao ,wei 0.19μm,zu zhi zhi mi jun yun ,zhu yao you MgO、Mg2SiO4he MgAl2O4gou cheng ;lv suan yan ti ji zhong de dao de wei hu yang hua mo zu zhi de zhi mi xing zui cha ,zhu yao you MgOhe MgAl2O4gou cheng ;gui suan yan ti ji zhong de dao de wei hu yang hua mo nai shi xing zui hao ,ji zi fu shi dian liu mi du bi ji ti de xiao yi ge shu liang ji 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自腐蚀与防护的贾秋荣,崔红卫,张甜甜,崔晓丽,潘尧坤,冯锐，发表于刊物腐蚀与防护2019年06期论文，是一篇关于纯镁论文,电解液论文,微弧氧化论文,微观组织论文,耐蚀性论文,腐蚀与防护2019年06期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自腐蚀与防护2019年06期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。