本文主要研究内容
作者高锵源,张建宏,杨怡杰（2019）在《110 kV三相共箱式盆式绝缘子屏蔽内环优化》一文中研究指出：为了降低110 kV盆式绝缘子表面的电场强度,提高产品运行的可靠性。文中采用三维建模和有限元电场仿真,对表面电场的影响因素进行查找。仿真结果表明,由于屏蔽内环的存在,会对盆式绝缘子的表面电场分布产生影响。通过分析屏蔽内环的结构变化对表面电场的影响规律,提出采用双屏蔽内环结构用于改善绝缘子表面电场强度。在不断的模型修改和仿真结果对比后,选择D=5.29 mm、R=212.6 mm、V=11.93 mm作为双屏蔽内环的优化参数。优化后绝缘子表面最大电场强度降低了8.15%,密封圈交界处、空气间隙和屏蔽内环交界处最大电场强度较优化前分别降低了-0.35%、36.16%、39.45%。由于双屏蔽内环可以有效降低盆式绝缘子表面的电场强度,对于产品小型化设计及提高设备运行的可靠性,具有理论参考意义。
Abstract
wei le jiang di 110 kVpen shi jue yuan zi biao mian de dian chang jiang du ,di gao chan pin yun hang de ke kao xing 。wen zhong cai yong san wei jian mo he you xian yuan dian chang fang zhen ,dui biao mian dian chang de ying xiang yin su jin hang cha zhao 。fang zhen jie guo biao ming ,you yu bing bi nei huan de cun zai ,hui dui pen shi jue yuan zi de biao mian dian chang fen bu chan sheng ying xiang 。tong guo fen xi bing bi nei huan de jie gou bian hua dui biao mian dian chang de ying xiang gui lv ,di chu cai yong shuang bing bi nei huan jie gou yong yu gai shan jue yuan zi biao mian dian chang jiang du 。zai bu duan de mo xing xiu gai he fang zhen jie guo dui bi hou ,shua ze D=5.29 mm、R=212.6 mm、V=11.93 mmzuo wei shuang bing bi nei huan de you hua can shu 。you hua hou jue yuan zi biao mian zui da dian chang jiang du jiang di le 8.15%,mi feng juan jiao jie chu 、kong qi jian xi he bing bi nei huan jiao jie chu zui da dian chang jiang du jiao you hua qian fen bie jiang di le -0.35%、36.16%、39.45%。you yu shuang bing bi nei huan ke yi you xiao jiang di pen shi jue yuan zi biao mian de dian chang jiang du ,dui yu chan pin xiao xing hua she ji ji di gao she bei yun hang de ke kao xing ,ju you li lun can kao yi yi 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自高压电器的高锵源,张建宏,杨怡杰，发表于刊物高压电器2019年08期论文，是一篇关于盆式绝缘子论文,电场优化论文,屏蔽内环论文,表面电场论文,高压电器2019年08期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自高压电器2019年08期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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