本文主要研究内容
作者李世江,闫淑芳,陈伟东,杜培,杨少辉,马文（2019）在《磷酸盐体系正向电压对ZrH1.8表面阻氢陶瓷层的影响》一文中研究指出：磷酸盐电解液体系下,以CeO2作为电解液添加剂,采用恒压模式对氢化锆(ZrH1.8)表面进行微弧氧化（MAO）处理,研究正向电压对陶瓷层厚度、相结构、形貌,结合力以及阻氢渗透性能的影响。利用扫描电镜（SEM）、 X射线衍射仪（XRD）、涂层测厚仪、涂层划痕仪,分别分析了陶瓷层的表面和截面形貌、相结构、陶瓷层厚度以及膜层与基体的结合力,通过真空脱氢实验评价陶瓷层的阻氢性能。结果表明:随着正向电压的增加,氢化锆表面微弧氧化陶瓷层的厚度逐渐增加,当正向电压为375 V时陶瓷层的阻氢性能较好,氢渗透降低因子PRF值可达到14.2;正向电压的改变对陶瓷层的相结构没有明显影响,膜层主要由单斜相氧化锆（m-ZrO2）、四方相氧化锆（t-ZrO2）和立方相氧化铈（c-CeO2）组成,且以单斜相氧化锆（m-ZrO2）为主。
Abstract
lin suan yan dian jie ye ti ji xia ,yi CeO2zuo wei dian jie ye tian jia ji ,cai yong heng ya mo shi dui qing hua gao (ZrH1.8)biao mian jin hang wei hu yang hua （MAO）chu li ,yan jiu zheng xiang dian ya dui tao ci ceng hou du 、xiang jie gou 、xing mao ,jie ge li yi ji zu qing shen tou xing neng de ying xiang 。li yong sao miao dian jing （SEM）、 Xshe xian yan she yi （XRD）、tu ceng ce hou yi 、tu ceng hua hen yi ,fen bie fen xi le tao ci ceng de biao mian he jie mian xing mao 、xiang jie gou 、tao ci ceng hou du yi ji mo ceng yu ji ti de jie ge li ,tong guo zhen kong tuo qing shi yan ping jia tao ci ceng de zu qing xing neng 。jie guo biao ming :sui zhao zheng xiang dian ya de zeng jia ,qing hua gao biao mian wei hu yang hua tao ci ceng de hou du zhu jian zeng jia ,dang zheng xiang dian ya wei 375 Vshi tao ci ceng de zu qing xing neng jiao hao ,qing shen tou jiang di yin zi PRFzhi ke da dao 14.2;zheng xiang dian ya de gai bian dui tao ci ceng de xiang jie gou mei you ming xian ying xiang ,mo ceng zhu yao you chan xie xiang yang hua gao （m-ZrO2）、si fang xiang yang hua gao （t-ZrO2）he li fang xiang yang hua shi （c-CeO2）zu cheng ,ju yi chan xie xiang yang hua gao （m-ZrO2）wei zhu 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自稀有金属的李世江,闫淑芳,陈伟东,杜培,杨少辉,马文，发表于刊物稀有金属2019年08期论文，是一篇关于微弧氧化论文,正向电压论文,氢渗透降低因子论文,稀有金属2019年08期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自稀有金属2019年08期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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