本文主要研究内容
作者杜安,朱林（2019）在《圆柱形导体壳的霍尔效应》一文中研究指出：提出了一种同轴电缆结构的霍尔效应装置.若中心导体通电流,则在通电的导体壳内外表面之间产生霍尔电势差.讨论了导体壳电势差与中心导体的电流强度、导体壳的电流强度以及导体壳结构之间的关系,发现导体壳很薄时霍尔电势差最大.
Abstract
di chu le yi chong tong zhou dian lan jie gou de huo er xiao ying zhuang zhi .re zhong xin dao ti tong dian liu ,ze zai tong dian de dao ti ke nei wai biao mian zhi jian chan sheng huo er dian shi cha .tao lun le dao ti ke dian shi cha yu zhong xin dao ti de dian liu jiang du 、dao ti ke de dian liu jiang du yi ji dao ti ke jie gou zhi jian de guan ji ,fa xian dao ti ke hen bao shi huo er dian shi cha zui da .
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自大学物理的杜安,朱林，发表于刊物大学物理2019年05期论文，是一篇关于霍尔效应论文,同轴电缆结构论文,导体壳论文,大学物理2019年05期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自大学物理2019年05期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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