本文主要研究内容
作者李敏,涂昀,傅凯文,邹健(2019)在《电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镍板中钴》一文中研究指出:探讨了电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定镍板中钴的分析条件。试样经过硝酸、盐酸溶解,采用ICP-AES测定钴含量,镍的背景干扰采用背景校正扣除。确定了仪器的最佳分析条件,选择钴的分析谱线为228.616nm。该法已用于镍板样品中钴的测定,以钴标准溶液绘制工作曲线,测定结果的相对标准偏差(n=7)小于3%,加标回收率98%~101%。
Abstract
tan tao le dian gan ou ge deng li zi ti yuan zi fa she guang pu fa (ICP-AES)ce ding nie ban zhong gu de fen xi tiao jian 。shi yang jing guo xiao suan 、yan suan rong jie ,cai yong ICP-AESce ding gu han liang ,nie de bei jing gan rao cai yong bei jing jiao zheng kou chu 。que ding le yi qi de zui jia fen xi tiao jian ,shua ze gu de fen xi pu xian wei 228.616nm。gai fa yi yong yu nie ban yang pin zhong gu de ce ding ,yi gu biao zhun rong ye hui zhi gong zuo qu xian ,ce ding jie guo de xiang dui biao zhun pian cha (n=7)xiao yu 3%,jia biao hui shou lv 98%~101%。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自中国高新科技的李敏,涂昀,傅凯文,邹健,发表于刊物中国高新科技2019年16期论文,是一篇关于原子光谱法论文,镍板论文,中国高新科技2019年16期论文的文章。本文可供学术参考使用,各位学者可以免费参考阅读下载,文章观点不代表本站观点,资料来自中国高新科技2019年16期论文网站,若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权,请联系我们删除。
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