导读:本文包含了孪生缺陷模论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:物理光学,光子晶体,特征矩阵,孪生缺陷模
孪生缺陷模论文文献综述
王吉科,夏海燕,闫珂柱,姜迎迎[1]（2009）在《缺陷层厚度对1维光子晶体孪生缺陷模的影响》一文中研究指出为了研究由1维特定掺杂光子晶体生成的孪生缺陷模与缺陷层厚度的关系,采用特征矩阵的方法进行了理论分析。结果表明,当整体改变这种缺陷层厚度时,孪生缺陷模低频和高频模位置的变化情况各不相同;当仅改变缺陷层的正折射率材料的厚度时,随着厚度增加,孪生缺陷模红移;当仅改变缺陷层负折射率材料的厚度时,随着厚度增加,缺陷模蓝移;并且孪生缺陷模透射率的变化也很复杂。这一结果为设计有特殊用途的光子晶体器件提供了理论依据。(本文来源于《激光技术》期刊2009年04期）
王吉科,闫珂柱,姜迎迎[2]（2009）在《杂质吸收对1维光子晶体孪生缺陷模的影响》一文中研究指出为了研究在1维光子晶体中掺杂具有吸收的零平均折射率材料而产生的孪生缺陷模特性,采用特征矩阵的方法进行了理论分析。结果表明,随着消光系数的变大,会使孪生缺陷模透射率先变大后变小,当其取某一特定值时,高低频缺陷模会出现最大值,但不能同时出现;具有吸收特性的介质在缺陷层中的位置不同,会改变孪生缺陷模透射率的响应曲线。这一结果对开发光子晶体新的应用有重要意义。(本文来源于《激光技术》期刊2009年03期）
王吉科[3]（2009）在《一维掺杂光子晶体孪生缺陷模的特性研究》一文中研究指出本论文在前人研究的基础之上设计了一种新型的晶体结构并采用特征矩阵方法对其传输特性进行了数值研究,获得了一些有用的结果。其主要内容如下:1.将正折射率材料C和负折射率材料D迭加在一起引入到由两种正折射率材料交替迭加组成的一维光子晶体中从而构成一种新型的一维掺杂光子晶体结构。当缺陷层的正负折射率材料满足条件n_+d_++n_-d_-=0时,就称之为零平均折射率材料,这时可以把缺陷层看做一个整体;当不满足上述条件时,缺陷层就被认为由两种不同的材料组成。利用特征矩阵方法对这一晶体结构进行模拟计算发现,它可以产生孪生缺陷模,并且其透射率有一定的损失。这一发现为双通道窄带滤波器的设计提供了新的思路和理论依据。2.首先将缺陷层看做一个整体(即零平均折射率材料),利用特征矩阵理论模拟计算了缺陷层折射率的变化对这一光子晶体孪生缺陷模特性的影响。得到如下结论:正折射率材料C的折射率的增加使孪生缺陷模的位置以内凹的方式向中心靠拢,使其透射率和半峰宽度也以内凹的方式减小;负折射率材料D的折射率的增加使孪生缺陷模的位置以外凸的方式向中心靠拢,使其透射率也以外凸的方式减小,而半峰宽度则以近直线的方式减小。3.其次我们又利用特征矩阵的方法研究了缺陷层的厚度对这一光子晶体孪生缺陷模特性的影响。得到如下结论:1)当把缺陷层作为一个整体考虑时,发现随着缺陷层厚度的增加,低频位置的缺陷模随着缺陷层厚度的增加其位置先向中心靠拢后又远离,图象类似于山丘状;而高频位置的缺陷模随着缺陷层厚度的增加其位置变化更加复杂,变化图象类似于负的正弦函数图象。孪生缺陷模的透射率也发生了变化,低频处的缺陷模的透射率变化曲线类似一正弦函数,而高频处的缺陷模透射率变化曲线则似一马鞍状。2)而当我们不再把缺陷层看成一个整体,而是把缺陷层看成由两种介质(正折射率材料C和负折射率材料D)共同构成,仅改变正折射率材料C的厚度时,随着厚度增加,孪生缺陷模红移;仅改变负折射率材料D的厚度时,随着厚度增加,缺陷模蓝移。并且这两种情况下,缺陷模透射率的变化也很复杂。(本文来源于《曲阜师范大学》期刊2009-04-01）
陈溢杭,徐清振[4]（2007）在《多个单负材料缺陷一维光子晶体的孪生缺陷模》一文中研究指出分析了含有多个单负材料缺陷层的一维光子晶体中缺陷模的性质。在两种单负(负介电常量或负磁导率)材料交替堆迭形成的一维光子晶体中,掺入了多个周期排列的单负材料缺陷层,得到在该光子晶体的零有效相位(zero-effective phase)带隙内存在孪生缺陷模。通过改变缺陷的数目或缺陷层的厚度,可调节缺陷模的频率间隔,但缺陷模的数目总保持为两个。计算结果显示,该孪生缺陷模的频率对入射角度的依赖较弱;随着入射角度的改变,缺陷模频率的相对改变量总保持在0.03以下。此外,对应缺陷模频率的电场在该光子晶体中传播时,将被强烈地局域在缺陷层与周期结构的交界面上。(本文来源于《光学学报》期刊2007年08期）
孪生缺陷模论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
为了研究在1维光子晶体中掺杂具有吸收的零平均折射率材料而产生的孪生缺陷模特性,采用特征矩阵的方法进行了理论分析。结果表明,随着消光系数的变大,会使孪生缺陷模透射率先变大后变小,当其取某一特定值时,高低频缺陷模会出现最大值,但不能同时出现;具有吸收特性的介质在缺陷层中的位置不同,会改变孪生缺陷模透射率的响应曲线。这一结果对开发光子晶体新的应用有重要意义。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
孪生缺陷模论文参考文献
[1].王吉科,夏海燕,闫珂柱,姜迎迎.缺陷层厚度对1维光子晶体孪生缺陷模的影响[J].激光技术.2009
[2].王吉科,闫珂柱,姜迎迎.杂质吸收对1维光子晶体孪生缺陷模的影响[J].激光技术.2009
[3].王吉科.一维掺杂光子晶体孪生缺陷模的特性研究[D].曲阜师范大学.2009
[4].陈溢杭,徐清振.多个单负材料缺陷一维光子晶体的孪生缺陷模[J].光学学报.2007