导读:本文包含了互连线测试论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:FPGA,故障模型,测试路径,互连线测试
互连线测试论文文献综述
吴九欢[1]（2013）在《FPGA芯片互连线测试》一文中研究指出集成电路技术的发展在使现场可编程门阵列(FPGA)器件的规模更大、功能更强、内部资源更丰富的同时也让芯片的测试难度大大增加。在FPGA芯片中，承担逻辑模块之间互连以及信号传输的可编程互连资源是其中结构最复杂，规模最大的模块，其所占的资源比重甚至达到整个芯片的70%以上。高度灵活性、庞大的规模使得可编程互联资源的测试一直是FPGA测试方法研究中的重点和难点。本文的研究对象正是互连线测试。本文首先详细描述了芯片内部互连资源的结构特征与连接关系。其中重点阐述了single线、hex线和long线的连接关系以及互连矩阵内部的电路结构，为后续的研究提供支撑。之后依据电路结构，提出了一套互连故障模型。该故障模型基本覆盖了实际电路中常见的几种错误类型，并且还对故障模型做了优化处理。然后在故障模型的基础上结合各类型线自身的连接规律，分别设计了一系列测试路径。此系列测试路径在满足了资源覆盖率、故障覆盖率的要求的同时还具有实用、易于实现的特点。最后，分别以生产测试和诊断测试为目的设计了两个相应的测试方案并实际完成了相关测试。实测结果表明，此方案不但可以获得较高的资源覆盖率、故障覆盖率，而且具有简单实用的特点。因此，此次互连线测试达到了预期效果。(本文来源于《西安电子科技大学》期刊2013-01-01）
刘丽[2]（2008）在《Virtex系列FPGA内部互连线测试》一文中研究指出伴随着微电子工艺技术的飞速发展和集成电路规模的不断提高,现场可编程门阵列(FPGA)器件的功能更强,复杂度进一步提高,而计算机辅助工具的不断更新使得FPGA器件的设计周期缩短,但却使测试难度增大了,进而导致测试费用和测试时间的增加。如今测试费用达到总开发成本的40%左右。如何有效的对FPGA器件进行测试不但关系到FPGA器件产品的质量,而且关系到产品的设计周期和开发成本等,所以,测试环节已经成为FPGA器件设计和开发中重要的一环。而寻找测试路径是FPGA器件内部互连线测试最初、但却是最为重要和关键的一步。为了在测试中减少测试工作量,提高测试效率,同时又能保证一定的测试覆盖率,论文提出了一种可以在短时间内找到内部互连线的测试路径并且达到95%以上覆盖率的测试方法。该方法利用数组来表示测试路径节点,结合最大流算法来寻找测试路径。论文对最大流算法的原理和流程进行了详细阐述,并通过编写程序将提出的算法程序化、实用化,解决了FPGA测试中寻找测试路径的问题。(本文来源于《西安电子科技大学》期刊2008-01-01）
互连线测试论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
伴随着微电子工艺技术的飞速发展和集成电路规模的不断提高,现场可编程门阵列(FPGA)器件的功能更强,复杂度进一步提高,而计算机辅助工具的不断更新使得FPGA器件的设计周期缩短,但却使测试难度增大了,进而导致测试费用和测试时间的增加。如今测试费用达到总开发成本的40%左右。如何有效的对FPGA器件进行测试不但关系到FPGA器件产品的质量,而且关系到产品的设计周期和开发成本等,所以,测试环节已经成为FPGA器件设计和开发中重要的一环。而寻找测试路径是FPGA器件内部互连线测试最初、但却是最为重要和关键的一步。为了在测试中减少测试工作量,提高测试效率,同时又能保证一定的测试覆盖率,论文提出了一种可以在短时间内找到内部互连线的测试路径并且达到95%以上覆盖率的测试方法。该方法利用数组来表示测试路径节点,结合最大流算法来寻找测试路径。论文对最大流算法的原理和流程进行了详细阐述,并通过编写程序将提出的算法程序化、实用化,解决了FPGA测试中寻找测试路径的问题。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
互连线测试论文参考文献
[1].吴九欢.FPGA芯片互连线测试[D].西安电子科技大学.2013
[2].刘丽.Virtex系列FPGA内部互连线测试[D].西安电子科技大学.2008