本文主要研究内容
作者徐焕,查志勇,罗弦,詹伟,冯浩（2019）在《大数据环境下配电系统测试数据脱敏技术研究》一文中研究指出：为解决现有脱敏方法在执行测试数据任务时,受系统服务器中央处理器(CPU)核心数目和测试数据规模的影响,存在脱敏速度慢等缺点,提出了基于中间件技术的配电系统测试数据脱敏方法。在建立测试数据敏感性识别规则基础上,设计了包括感知层、中间层和应用层的配电系统结构,从感知层开始检测和标记配电系统接入端的敏感数据,监测脱敏系统结构中的整个生命周期变化,并采用中间件技术设计包括敏感测试数据泄漏感知组件、攻击防御组件和补丁分发组件的脱敏系统,利用该脱敏系统获得测试数据,以测试数据为依据进行建模分析,形成脱敏自动化流程,实现测试数据脱敏。测试结果显示,当脱敏系统中具有5个CPU核心时,脱敏处理速度最快,耗时最短,且所提方法的脱敏性不会受到测试数据规模的影响,具有较好的抗攻击性,同时能够保证解密后测试数据的可用性。
Abstract
wei jie jue xian you tuo min fang fa zai zhi hang ce shi shu ju ren wu shi ,shou ji tong fu wu qi zhong yang chu li qi (CPU)he xin shu mu he ce shi shu ju gui mo de ying xiang ,cun zai tuo min su du man deng que dian ,di chu le ji yu zhong jian jian ji shu de pei dian ji tong ce shi shu ju tuo min fang fa 。zai jian li ce shi shu ju min gan xing shi bie gui ze ji chu shang ,she ji le bao gua gan zhi ceng 、zhong jian ceng he ying yong ceng de pei dian ji tong jie gou ,cong gan zhi ceng kai shi jian ce he biao ji pei dian ji tong jie ru duan de min gan shu ju ,jian ce tuo min ji tong jie gou zhong de zheng ge sheng ming zhou ji bian hua ,bing cai yong zhong jian jian ji shu she ji bao gua min gan ce shi shu ju xie lou gan zhi zu jian 、gong ji fang yu zu jian he bu ding fen fa zu jian de tuo min ji tong ,li yong gai tuo min ji tong huo de ce shi shu ju ,yi ce shi shu ju wei yi ju jin hang jian mo fen xi ,xing cheng tuo min zi dong hua liu cheng ,shi xian ce shi shu ju tuo min 。ce shi jie guo xian shi ,dang tuo min ji tong zhong ju you 5ge CPUhe xin shi ,tuo min chu li su du zui kuai ,hao shi zui duan ,ju suo di fang fa de tuo min xing bu hui shou dao ce shi shu ju gui mo de ying xiang ,ju you jiao hao de kang gong ji xing ,tong shi neng gou bao zheng jie mi hou ce shi shu ju de ke yong xing 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自机械设计与制造工程的徐焕,查志勇,罗弦,詹伟,冯浩，发表于刊物机械设计与制造工程2019年03期论文，是一篇关于大数据论文,配电系统论文,测试数据论文,脱敏技术论文,机械设计与制造工程2019年03期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自机械设计与制造工程2019年03期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
标签：大数据论文; 配电系统论文; 测试数据论文; 脱敏技术论文; 机械设计与制造工程2019年03期论文;