后向动态光散射论文-邢世通,杨晖,郑刚,杨依枫

后向动态光散射论文-邢世通,杨晖,郑刚,杨依枫

导读:本文包含了后向动态光散射论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献,主要关键词:后向动态光散射,像差,Zemax

后向动态光散射论文文献综述

邢世通,杨晖,郑刚,杨依枫[1](2012)在《后向动态光散射系统的像差分析与校正》一文中研究指出针对后向动态光散射颗粒测量系统信噪比较低的问题,从光学系统的像差入手,采用Zemax对其进行了仿真和分析,并提出了校正方案。首先介绍了后向动态光散射颗粒测量系统的基本原理和光学系统,从校正像差的角度出发,采用Zemax对后向动态光散射系统进行仿真,并对其像差进行分析。然后根据仿真结果,提出了校正方案,采用Ze-max设计了方案中的参数,得出了理论上的校正结果。最后采用优化好的结果进行后向动态光实验,得到了实验数据。均值误差和重复性误差分别达到了1.52%和1.24%。满足国标均值误差和重复性误差小于2%的要求。(本文来源于《光学技术》期刊2012年06期)

杨晖[2](2009)在《基于后向动态光散射的高浓度纳米颗粒粒径测量技术的研究》一文中研究指出作为21世纪的重要学科之一,纳米技术为材料科学带来了广泛而深刻的变革。我国在2006年2月9日公布的国家中长期科技发展规划纲要中,已把“纳米技术研究”列为4个重大科学研究计划之一。纳米颗粒的粒度检测是纳米技术中极其重要的一个方面,特别是近年来随着纳米技术广泛应用于制药、生物、电子、光电子、能源、催化和陶瓷等领域,各行业对纳米颗粒粒径的测量和监控要求也越来越严格,其发展水平已成为当前衡量一个国家纳米科技水平以及在这方面综合实力的重要标志之一。较之先进国家,我国在纳米颗粒的粒度测量技术及仪器方面尚有不小的差距,尤其是在高浓度纳米颗粒的粒径测量方面差距更大。动态光散射技术是目前应用最广泛的纳米颗粒粒径测量技术,但传统的动态光散射法一般只适用于稀溶液的测量。本文针对高浓度下的纳米颗粒粒径测量这一技术难点,提出了基于后向动态光散射的高浓度纳米颗粒粒径测量方法,以及基于现代功率谱估计的动态光散射频谱测量法。本论文的主要研究内容包括:一.研究了传统动态光散射法测量纳米颗粒悬浮液时其浓度受限的诸多因素,提出了当检测高浓度纳米颗粒的粒径时,应首先着眼于消除散射光的多重散射效应,并针对这一难点分析了国内外研究的现状,最后研发了基于后向动态光散射的高浓度纳米颗粒粒径测量装置。二.从麦克斯韦方程组出发推导了基于信号涨落的散射光场一般方程的表达式,针对颗粒布朗运动的统计特性,研究了散射光强涨落的表征方法,建立了与涨落有关的颗粒粒径信息表达式。叁.利用颗粒运动的特征函数的概念,并认为基于粒子运动模型的散射光谱与粒子运动的特征函数是一时空双重傅立叶变换,进而建立了散射光场谱密度与颗粒粒径的联系。四.研究了动态光散射频谱测量技术的发展及其存在的问题,提出了一种新的基于现代功率谱估计的动态光散射频谱测量方法。从光电倍增管计数统计特性出发,根据Wiener-Khintchine定理,将时域自相关函数转换为频域的功率谱密度,得到了散射光强的谱密度表达式;根据FFT,利用现代功率谱估计中的自回归(AR)模型,实现了动态光散射信号功率谱密度的估计;最后通过计算信号自相关矩阵的秩得到AR模型中的阶数p,从而解决了在应用中由于待测颗粒粒径未知而无法确定阶数p的问题。五.根据本文研制的高浓度纳米颗粒粒径测量系统,分别采用时域相关光谱方法和频域谱密度测量法进行了相应的实验,并与传统光子相关光谱测量法进行了比较和分析。六.本文还对实际应用中与测量相关的一些问题进行了讨论,包括:光源的偏振态变化对测量结果的影响,采样时间的间隔对测量结果的影响,以及传统动态光散射系统的最佳检测孔径等问题。(本文来源于《上海理工大学》期刊2009-03-01)

杨晖,郑刚,李孟超,王雅静[3](2008)在《后向动态光散射测量中样品池的影响及校正》一文中研究指出针对后向动态光散射高浓度颗粒测量中样品池产生的影响,本文对负球差进行了分析,提出了采用ZEMAX确定聚焦透镜的光学参数校正球差的方案,对由于样品池表面反射引起的二次散射进行计算,提出了削弱二次散射的方法。(本文来源于《光散射学报》期刊2008年04期)

后向动态光散射论文开题报告

(1)论文研究背景及目的

此处内容要求:

首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景,再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题,并提出你的论文准备的观点或解决方法。

写法范例:

作为21世纪的重要学科之一,纳米技术为材料科学带来了广泛而深刻的变革。我国在2006年2月9日公布的国家中长期科技发展规划纲要中,已把“纳米技术研究”列为4个重大科学研究计划之一。纳米颗粒的粒度检测是纳米技术中极其重要的一个方面,特别是近年来随着纳米技术广泛应用于制药、生物、电子、光电子、能源、催化和陶瓷等领域,各行业对纳米颗粒粒径的测量和监控要求也越来越严格,其发展水平已成为当前衡量一个国家纳米科技水平以及在这方面综合实力的重要标志之一。较之先进国家,我国在纳米颗粒的粒度测量技术及仪器方面尚有不小的差距,尤其是在高浓度纳米颗粒的粒径测量方面差距更大。动态光散射技术是目前应用最广泛的纳米颗粒粒径测量技术,但传统的动态光散射法一般只适用于稀溶液的测量。本文针对高浓度下的纳米颗粒粒径测量这一技术难点,提出了基于后向动态光散射的高浓度纳米颗粒粒径测量方法,以及基于现代功率谱估计的动态光散射频谱测量法。本论文的主要研究内容包括:一.研究了传统动态光散射法测量纳米颗粒悬浮液时其浓度受限的诸多因素,提出了当检测高浓度纳米颗粒的粒径时,应首先着眼于消除散射光的多重散射效应,并针对这一难点分析了国内外研究的现状,最后研发了基于后向动态光散射的高浓度纳米颗粒粒径测量装置。二.从麦克斯韦方程组出发推导了基于信号涨落的散射光场一般方程的表达式,针对颗粒布朗运动的统计特性,研究了散射光强涨落的表征方法,建立了与涨落有关的颗粒粒径信息表达式。叁.利用颗粒运动的特征函数的概念,并认为基于粒子运动模型的散射光谱与粒子运动的特征函数是一时空双重傅立叶变换,进而建立了散射光场谱密度与颗粒粒径的联系。四.研究了动态光散射频谱测量技术的发展及其存在的问题,提出了一种新的基于现代功率谱估计的动态光散射频谱测量方法。从光电倍增管计数统计特性出发,根据Wiener-Khintchine定理,将时域自相关函数转换为频域的功率谱密度,得到了散射光强的谱密度表达式;根据FFT,利用现代功率谱估计中的自回归(AR)模型,实现了动态光散射信号功率谱密度的估计;最后通过计算信号自相关矩阵的秩得到AR模型中的阶数p,从而解决了在应用中由于待测颗粒粒径未知而无法确定阶数p的问题。五.根据本文研制的高浓度纳米颗粒粒径测量系统,分别采用时域相关光谱方法和频域谱密度测量法进行了相应的实验,并与传统光子相关光谱测量法进行了比较和分析。六.本文还对实际应用中与测量相关的一些问题进行了讨论,包括:光源的偏振态变化对测量结果的影响,采样时间的间隔对测量结果的影响,以及传统动态光散射系统的最佳检测孔径等问题。

(2)本文研究方法

调查法:该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。

观察法:用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。

实验法:通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。

文献研究法:通过调查文献来获得资料,从而全面的、正确的了解掌握研究方法。

实证研究法:依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。

定性分析法:对研究对象进行“质”的方面的研究,这个方法需要计算的数据较少。

定量分析法:通过具体的数字,使人们对研究对象的认识进一步精确化。

跨学科研究法:运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。

功能分析法:这是社会科学用来分析社会现象的一种方法,从某一功能出发研究多个方面的影响。

模拟法:通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。

后向动态光散射论文参考文献

[1].邢世通,杨晖,郑刚,杨依枫.后向动态光散射系统的像差分析与校正[J].光学技术.2012

[2].杨晖.基于后向动态光散射的高浓度纳米颗粒粒径测量技术的研究[D].上海理工大学.2009

[3].杨晖,郑刚,李孟超,王雅静.后向动态光散射测量中样品池的影响及校正[J].光散射学报.2008

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