导读:本文包含了镀膜厚度论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:非接触式测量,镀膜透镜,厚度检测,数学模型
镀膜厚度论文文献综述
李航宇[1]（2018）在《基于色散谱分析的镀膜透镜中心厚度检测研究》一文中研究指出随着现代科学技术的飞速发展,光学镀膜透镜在军事、医疗和民用等领域的应用越来越普及。作为大部分高精密仪器的重要构成部分,镀膜透镜的品质极其重要,而中心厚度是否达到要求是决定镀膜透镜品质好坏的一个重要方面,这就需要我们通过一定的方法对镀膜透镜的中心厚度进行测量,从而判断其是否达到了要求。因此对镀膜透镜中心厚度检测的研究,对提高加工精度以及相关设备的使用性能具有着重要的意义。在非接触式的检测技术已逐渐变为主流技术的大环境下,本论文基于色散谱分析对镀膜透镜中心厚度的非接触检测技术进行了深入的研究。论文的主要研究内容如下:本文首先介绍了非接触式检测的研究背景以及透明材料厚度测量和共焦检测技术的国内外研究现状,研究了各种适用于镀膜透镜中心厚度的检测方法,给出了镀膜透镜中心厚度检测装置的整体结构和测量方案,并根据镀膜透镜的特性选取了合适型号的光源、光纤及光谱仪。使用光学软件建立了适用于镀膜透镜中心厚度检测的共焦光学系统。首先确定共焦系统的物方数值孔径、轴向色差范围以及工作波长等相关初始参数,并通过建立多重组态关系以及添加合适的操作数等步骤对整个共焦光学系统进行了优化,优化主要针对几何像差中的球差和轴向色差,使得共焦系统的设计波长在各个焦平面上聚焦良好,同时产生较大的轴向色差。然后结合色散谱分析影响镀膜透镜中心厚度测量的各种因素,利用数学软件拟合出它们之间的关系,得出镀膜透镜中心厚度的数学模型,通过编程并利用最小二乘法求解出模型中各个参数的最优解,最终完成了镀膜透镜中心厚度模型公式的建立。最后对不同规格镀膜透镜的中心厚度进行多次测量,所得到的测量数据表明,该检测装置满足对镀膜透镜中心厚度测量的精度要求,并且详细分析了系统误差产生的主要来源,根据不同来源提出了相应的处理方法。(本文来源于《江苏大学》期刊2018-06-01）
朱必林,裘婧[2]（2017）在《椭圆偏振法对药用镀膜玻瓶膜层厚度的测量》一文中研究指出本文提出利用椭圆偏振技术对药用镀聚二甲基硅氧烷膜玻瓶的膜层厚度进行测量,选择Cauchy模型进行拟合分析,准确测出镀膜玻瓶的膜厚。实验结果表明,该方法适用于此类镀膜产品膜厚的测量。(本文来源于《人人健康》期刊2017年24期）
全伟,刘阳,陈瑶[3]（2014）在《基于受抑全反射的碱金属气室镀膜厚度测量》一文中研究指出针对原子自旋器件的碱金属气室镀膜层厚度的精确测量,提出了一种基于受抑全反射的膜层厚度测量方法。根据该方法搭建了膜厚测量系统,并进行了实验测试。分析了受抑全反射的基本理论和基于受抑全反射的膜厚测量原理,介绍了基于该方法的膜厚测量系统的构成及工作原理并分析了影响系统测量精度的主要因素和解决方案。通过分析和仿真激光器波长的波动、入射角变化以及折射率参数的不准确等对膜厚测量结果的影响评价了系统的性能。最后,利用该系统对镀膜样品进行了测量实验,并利用薄膜分析仪做了对比试验。实验结果表明:该方法的测量结果存在一个2.6nm左右的常值偏差,对其补偿后能够较为准确地对镀膜层厚度进行测量,测量精度接近1nm,基本满足碱金属气室镀膜质量检测的需求,且具有较高的稳定性和可靠性。(本文来源于《光学精密工程》期刊2014年01期）
王菊,苏婷,杨振辉,刘涌,韩高荣[4]（2013）在《薄膜厚度对柱状晶形貌TiO_2:F/SnO_2:F镀膜玻璃的亲水性,低辐射以及透过性能的影响》一文中研究指出采用溶胶-凝胶旋涂法,在SnO_2:F(FTO)镀膜玻璃衬底上成功地制备了掺氟浓度为4%的不同厚度的柱状晶TiO_2:F/FTO复合薄膜。研究了TiO_2:F膜厚对TiO_2:F/FTO镀膜玻璃样品的结晶性能,亲水性能、低辐射性能以及透光性能的影响。结果表明,TiO_2:F/FTO镀膜玻璃的结晶性能随着薄膜厚度的增大而明显增强。经过一定时间的紫外光照后,薄膜表现出了很强的亲水性,且亲水性随着薄膜厚度的增加而先提高后下降,当膜厚为320nm时亲水性能最好。与此同时,TiO_2:F/FTO镀膜玻璃的低辐射性能随着厚度的增大而下降,当膜厚为320nm时其辐射率小于0.25,满足工业要求。TiO_2:F薄膜的厚度对TiO_2:F/FTO镀膜玻璃样品的影响大不,可见光区域平均透过率约为70%,满足建筑采光要求。(本文来源于《2013全国玻璃科学技术年会论文集》期刊2013-05-18）
田兴玲,李乃胜,张治国,冯跃川[5]（2013）在《镀膜厚度对派拉纶耐蚀性的影响》一文中研究指出派拉纶真空镀膜用于文物保护能解决其他材料不能解决的问题,目前其在金属文物保护上应用较少。采用3D表面形貌仪对派拉纶镀膜的孔隙率进行了测试,结合静态挂片法、电化学极化曲线和电化学交流阻抗谱研究了pH值为5的HCl溶液中不同厚度的派拉纶真空镀膜对Z30灰口铸铁的保护作用。结果表明:随着派拉纶填料质量增加,派拉纶真空镀膜厚度不断增加,其对金属腐蚀抑制的效果越好;该镀膜主要通过降低铸铁表面的孔隙率以减少材料表面缺陷,抑制阴极的氧扩散控制来达到保护效果。(本文来源于《材料保护》期刊2013年02期）
孙祥乐,孙茜,孙金妮,王忆锋,余连杰[6]（2012）在《提高红外器件磁控溅射沉积镀膜厚度均匀性的一种方法》一文中研究指出介绍了一种提高红外器件磁控溅射沉积镀膜厚度均匀性的方法。这种方法被称为基片离心旋转法,是在保持磁控溅射靶不动及靶和样品台间距不变的情况下,通过样品台离心旋转的方法,补偿或改善圆形磁控靶在正对的基片上沿径向的溅射沉积不均匀分布,是一种动态沉积法。这种方法可以在不改变磁控靶结构的情况下大大提高磁控溅射沉积镀膜的厚度均匀性。(本文来源于《红外技术》期刊2012年05期）
张勇喜,金秀,胡雯雯,宋姝,张玲玲[7]（2011）在《靶材刻蚀对磁控溅射镀膜厚度分布的影响》一文中研究指出为考察实际磁控溅射镀膜生产过程中由于靶材不断刻蚀消耗而造成的膜厚分布变化,文中就圆形磁控溅射靶建立了沉积模型,采用泰勒级数展开方式得到了薄膜分布的叁阶近似解,并采用数值积分的方法计算出不同溅射角分布和靶基距时新靶和旧靶的相对厚度分布。计算结果表明溅射角分布的变化对膜厚分布影响较小,而靶基距变化影响较大;随着靶基距增加,旧靶材与新靶材的膜厚分布差距逐步减小。为验证计算结果,对新靶材和旧靶材进行了简单实验,实验结果与计算结果相符。(本文来源于《光学仪器》期刊2011年01期）
姚茂莹,徐家云,高党忠,张地大,杨尊勇[8]（2010）在《用中子活化分析镀膜厚度及其探测极限研究》一文中研究指出本工作提出用中子活化分析有基底的单层或多层镀膜厚度的方法。用Am-Be中子源对Au、Al、Cu等薄膜活化后,用HPGe探测器测量被活化薄膜放出的特征γ射线全能峰面积,并用蒙特卡罗方法模拟计算HPGe探测器对不同特征γ射线的探测效率,得到用反应堆中子源活化分析不同元素镀膜厚度的方法和探测极限。与目前广泛使用的X射线荧光方法相比,其分析灵敏度可提高几个量级。(本文来源于《原子能科学技术》期刊2010年12期）
陈万金,孙颖[9]（2010）在《镀膜平玻璃板厚度测量实验设计》一文中研究指出利用散射干涉法设计出测量镀膜平玻璃板厚度实验,叙述了实验原理并进行了实测。该实验原理简单,操作方便,测量精度高,适合于为物理专业学生开设物理实验。(本文来源于《实验技术与管理》期刊2010年05期）
徐家云,白立新,张地大[10]（2007）在《用中子活化方法分析镀膜材料厚度及测量灵敏度研究》一文中研究指出本文提出了用中子活化分析镀层材料厚度的方法。其分析基本过程是将镀层材料置于热中子场中辐照一定时间,使待分析样品中的一些稳定核素通过中子俘获反应生成放射性核素,该放射性核素具有一定的半衰期,衰变时放出确定能量的γ射线,用γ能谱仪(高纯锗γ谱仪或 NaIγ谱仪)测量活化后放射性核释放的γ射线能谱,由测得的全能峰面积 N_0通过下式(本文来源于《第九届中国核靶技术学术交流会摘要集》期刊2007-09-01）
镀膜厚度论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
本文提出利用椭圆偏振技术对药用镀聚二甲基硅氧烷膜玻瓶的膜层厚度进行测量,选择Cauchy模型进行拟合分析,准确测出镀膜玻瓶的膜厚。实验结果表明,该方法适用于此类镀膜产品膜厚的测量。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
镀膜厚度论文参考文献
[1].李航宇.基于色散谱分析的镀膜透镜中心厚度检测研究[D].江苏大学.2018
[2].朱必林,裘婧.椭圆偏振法对药用镀膜玻瓶膜层厚度的测量[J].人人健康.2017
[3].全伟,刘阳,陈瑶.基于受抑全反射的碱金属气室镀膜厚度测量[J].光学精密工程.2014
[4].王菊,苏婷,杨振辉,刘涌,韩高荣.薄膜厚度对柱状晶形貌TiO_2:F/SnO_2:F镀膜玻璃的亲水性,低辐射以及透过性能的影响[C].2013全国玻璃科学技术年会论文集.2013
[5].田兴玲,李乃胜,张治国,冯跃川.镀膜厚度对派拉纶耐蚀性的影响[J].材料保护.2013
[6].孙祥乐,孙茜,孙金妮,王忆锋,余连杰.提高红外器件磁控溅射沉积镀膜厚度均匀性的一种方法[J].红外技术.2012
[7].张勇喜,金秀,胡雯雯,宋姝,张玲玲.靶材刻蚀对磁控溅射镀膜厚度分布的影响[J].光学仪器.2011
[8].姚茂莹,徐家云,高党忠,张地大,杨尊勇.用中子活化分析镀膜厚度及其探测极限研究[J].原子能科学技术.2010
[9].陈万金,孙颖.镀膜平玻璃板厚度测量实验设计[J].实验技术与管理.2010
[10].徐家云,白立新,张地大.用中子活化方法分析镀膜材料厚度及测量灵敏度研究[C].第九届中国核靶技术学术交流会摘要集.2007