导读:本文包含了高故障覆盖率论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:小时延缺陷,单通路敏化,非强健测试,跳变时延故障覆盖率
高故障覆盖率论文文献综述
魏建龙,邝继顺[1]（2014）在《用不同敏化方法提高超速测试的故障覆盖率》一文中研究指出面向小时延缺陷(small delay detect,SDDs)的测试产生方法不仅要求测试产生算法复杂度低,还要尽可能地检测到小时延缺陷。超速测试避免了因测试最长敏化通路而带来的测试效率过低的问题,而且它要求测试向量按敏化通路时延进行分组,对每组分配一个合适的超速测试频率,再采用一种可快速、准确选择特定长度的路径选择方法来有效地提高测试质量。同时,文中首次通过优先选用单通路敏化标准对短通路进行检测,对关键通路有选择地进行非强健测试,相对采用单一的敏化方法,能以很小的时间代价提高含有小时延缺陷的结点的跳变时延故障覆盖率(TDF)。在ISCAS’89基准电路中对小时延缺陷的检测结果表明:用不同敏化方法进行测试产生,能在低的cpu时间里取得更高的跳变时延故障覆盖率。(本文来源于《计算机科学》期刊2014年05期）
杨佳,刘力轲,游定山,元国军,沈华[2]（2011）在《曙光5000交换芯片的故障覆盖率分析与改善》一文中研究指出随着超大规模集成电路技术的不断发展,集成电路测试的地位正变得日益显着,成为贯穿于集成电路设计、制造、生产中保证芯片质量的重要环节。而故障覆盖率的高低直接决定着测试质量的好坏。本文结合曙光5000交换芯片,介绍了几种常用的提高覆盖率的方法,并依据丢失覆盖率的分析结果,采取了针对性的措施进一步提高了覆盖率。(本文来源于《第十五届计算机工程与工艺年会暨第一届微处理器技术论坛论文集（A辑）》期刊2011-08-12）
徐文丰[3]（2011）在《FPGA芯片TILE单元建模以及故障覆盖率分析》一文中研究指出FPGA是目前运用广泛的一种可编程逻辑器件,FPGA的出现填补了ASIC在设计成本,设计周期上的缺陷。FPGA主要分为叁个部分：逻辑资源结构、互连资源结构以及编程配置。本文针对FPGA芯片,进行了逻辑资源、互联资源基本单元TILE的建模工作,设计了TILE基本单元功能仿真模型,并且完成了TILE单元互连模型的简化设计流程以及功能单元编程点配置流程,完成了TILE单元功能仿真以及验证。此外,本文采用TurboFault软件,对针对TILE单元中负责逻辑功能配置的SLICE单元所设计的一组遍历测试pattern进行了故障覆盖率的测试。最终,本文得到了各个测试pattern的故障覆盖报告,并且通过对测试pattern故障覆盖率报告的分析整理得到了整体故障覆盖率,发现了一些原来没有覆盖到的故障,并通过设计新的测试pattern完成了这些故障的覆盖。为了更好地完成TILE单元的建模、仿真过程,本文在设计过程中提出了一些逻辑资源模块的建模思路以及对互连模块简化建模的一种创新的方法,并且为TILE单元仿真过程中功能单元编程点配置这一问题设计了一个从配置文件直接生成编程点配置信息的解决办法。最终本文设计了完成这些过程的脚本,实现了从测试pattern提供的配置文件得到TILE单元功能仿真模型以及编程点配置文件,不仅帮助完成了这组测试pattern故障覆盖率测试工作,也为整体FPGA芯片功能仿真的实现提供了部分软件以及方法的基础。最终,本文经过对现有测试pattern的分析,总结了将一个TILE单元作为仿真测试模型的情况下两个SLICE单元没有覆盖到的故障以及原因,并且针对单个SLICE单元补充设计了新的测试pattern,将SLICE单元测试pattern的故障覆盖率提高到了93.4%,通过数据定量地评估了测试pattern的有效性。(本文来源于《复旦大学》期刊2011-05-02）
裴颂伟,李华伟,李晓维[4]（2010）在《采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法》一文中研究指出选择关键的常规扫描触发器进行置换是采用部分增强型扫描时延测试方法的核心问题.通过定义常规扫描触发器和未检测跳变时延故障的相关度的概念及其计算方法,提出一种触发器选择方法.首先找到被测电路中采用捕获加载方法不可测,但采用增强型扫描可测的跳变时延故障;然后依据常规扫描触发器与这些故障的相关度把少量关键的常规扫描触发器替换成为增强型扫描单元,从而有效地提高电路中跳变时延故障被检测的概率.实验结果表明,采用文中方法在可以接受的硬件开销下能有效地提高被测电路中的跳变时延故障覆盖率.(本文来源于《计算机辅助设计与图形学学报》期刊2010年09期）
丁琳,虞美兰[5]（2008）在《逻辑内建自测试高故障覆盖率设计》一文中研究指出基于扫描的可测性设计技术需要大量空间存储测试矢量,并且难以实现全速测试,随着芯片规模越来越大,频率越来越高,其测试成本也将越来越高,逻辑内建自测试(Logic Built-In-Self-Test,LBIST)技术以其简单的硬件实现和较小的设计开销开始被业界广泛使用,但该技术也存在覆盖率较低的问题,主要原因在于:一是线性反馈移位寄存器(Linear Feedback Shift Register,LFSR)产生的伪随机矢量的空间相关性;二是电路结构上对伪随机矢量的抵抗性;针对这两种原因给出了一些改善的方法,从而达到提高故障覆盖率的目的,为实际设计提供借鉴。(本文来源于《计算机测量与控制》期刊2008年01期）
席筱颖[6]（2007）在《8位MCU设计验证及测试向量故障覆盖率分析》一文中研究指出随着科学技术发展,嵌入式单片机正发挥着越来越重要的作用,广泛应用在生产、生活及科研领域。从实现数据采集、过程控制、模糊控制等智能系统到人类的日常生活,都离不开单片机。因此,嵌入式单片机设计成为科技工作者所关注的焦点。美国ATMEL公司生产的89系列单片机是和8051兼容的新型单片机。由于内部含有Flash存储器,在产品开发及生产便携式商品和手提式仪器等方面得到广泛应用,是目前取代传统MCS-51系列单片机的主流单片机之一。本文对一款能够兼容89系列单片机指令集的8位MCU(ssh417)进行剖析,针对设计项目对其进行功能验证和测试向量故障覆盖率评估。目前测试技术主要分两个方向:1)集成电路设计阶段考虑到测试需要而插入一些可测试性结构,即基于DFT的测试;2)传统测试方法—不基于DFT的测试。可测试性技术是目前测试技术的发展方向。本文研究的8位MCU设计项目,由于产品性能和工程项目的要求,若采用可测试性设计会增加设计难度、增大芯片面积及增加生产成本。因此本文最终提取工业用测试向量由系统功能验证的测试激励产生,不基于可测性设计。激励生成和覆盖评估是模拟验证中的核心问题,本文对该问题展开研究,目的在于针对MCU设计项目,由Verilog结构化门级网表分析其功能测试向量的故障覆盖率。首先建立基于Verilog-HDL结构化门级网表仿真环境,包括结构化门级网表提取、指令集编译器应用、系统外部逻辑模型建模和建立各种激励。其次,应用Cadence公司的Verilog-XL仿真器对结构化门级网表进行功能验证,并应用Verifault-XL故障仿真器分析该功能测试向量的故障覆盖率。最后,在得到故障覆盖统计文件的基础上,通过分析故障统计文件中“status=undetected”的故障点,改进部分测试程序和适当地增加部分测试功能点,使功能测试向量故障覆盖率提高到92.1%,满足苏州国微工大微电子有限公司开发的8位MCU ssh417设计工程项目要求,该MCU可以进行初次投片与测试。(本文来源于《哈尔滨理工大学》期刊2007-03-01）
陈志冲,周锦锋,倪光南[7]（2004）在《完全RTL的故障数目预测及故障覆盖率计算》一文中研究指出在超大规模集成电路设计过程中 ,门级故障仿真通常因仿真速度太慢而不能满足市场需求 ,因此近年来寄存器传输级 (RTL)故障仿真成了一个研究热点 已有的RTL的故障模型和故障仿真方法在计算系统的故障覆盖率时 ,对故障数目或者加权系数的计算需要将RTL设计综合到门级 文中在信号位宽和运算符类型的基础上 ,提出了一种在RTL预测故障数的手段 ,并由此得到完全RTL的故障覆盖率计算方法 实验结果证明了该方法的有效性(本文来源于《计算机辅助设计与图形学学报》期刊2004年08期）
李立健,赵瑞莲[8]（2002）在《低成本高故障覆盖率内建自测试方案》一文中研究指出提出了一个基于重复播种的新颖的BIST(build -inself-test)方案 .它使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子 ,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩 .通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间 .实验表明 ,本方案需要外加硬件少 ,测试施加时间较短 ,而故障覆盖率高 ,近似等于所依赖的ATPG工具的故障覆盖率(本文来源于《同济大学学报(自然科学版)》期刊2002年12期）
刘泽坚[9]（1996）在《对固定故障覆盖率的再认识和VLSI功能测试的展望》一文中研究指出在数字系统测试方法研究工作中,门级固定故障覆盖率已被沿用了几十年。本文综述近年来一些学者对此所作的分析。研究结果表明,单凭故障覆盖率,仍难以衡量测试工作的质量。用故障覆盖率来预料芯片测试筛选的失误率,带有明显的局限性。从实效出发看问题,以100％故障覆盖率为目标的结构测试花费代价很大,仍难以达到满意的结果。功能测试方法有逐渐走向成熟的趋势。(本文来源于《微电子测试》期刊1996年03期）
高故障覆盖率论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
随着超大规模集成电路技术的不断发展,集成电路测试的地位正变得日益显着,成为贯穿于集成电路设计、制造、生产中保证芯片质量的重要环节。而故障覆盖率的高低直接决定着测试质量的好坏。本文结合曙光5000交换芯片,介绍了几种常用的提高覆盖率的方法,并依据丢失覆盖率的分析结果,采取了针对性的措施进一步提高了覆盖率。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
高故障覆盖率论文参考文献
[1].魏建龙,邝继顺.用不同敏化方法提高超速测试的故障覆盖率[J].计算机科学.2014
[2].杨佳,刘力轲,游定山,元国军,沈华.曙光5000交换芯片的故障覆盖率分析与改善[C].第十五届计算机工程与工艺年会暨第一届微处理器技术论坛论文集（A辑）.2011
[3].徐文丰.FPGA芯片TILE单元建模以及故障覆盖率分析[D].复旦大学.2011
[4].裴颂伟,李华伟,李晓维.采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法[J].计算机辅助设计与图形学学报.2010
[5].丁琳,虞美兰.逻辑内建自测试高故障覆盖率设计[J].计算机测量与控制.2008
[6].席筱颖.8位MCU设计验证及测试向量故障覆盖率分析[D].哈尔滨理工大学.2007
[7].陈志冲,周锦锋,倪光南.完全RTL的故障数目预测及故障覆盖率计算[J].计算机辅助设计与图形学学报.2004
[8].李立健,赵瑞莲.低成本高故障覆盖率内建自测试方案[J].同济大学学报(自然科学版).2002
[9].刘泽坚.对固定故障覆盖率的再认识和VLSI功能测试的展望[J].微电子测试.1996