导读:本文包含了扫描组件论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:反射镜,激光雷达,扫描检测,微晶玻璃
扫描组件论文文献综述
何秉高,孙向阳,史丽娟[1]（2019）在《激光雷达扫描反射镜组件设计与分析》一文中研究指出为了满足激光雷达大视场扫描检测的实际要求,本文在对反射镜材料及固定安装方法分析对比的基础上,提出一种采用微晶玻璃并可纵向调节的反射镜组件设计方案,并进行结构设计与分析。分析结果表明,反射镜最大应力为0.096Mpa,远小于材料的屈服强度;反射镜组件的一阶振型频率为1913.6Hz,最大结构应力小于材料的屈服强度;在±20℃温度变化范围内,反射镜面形误差小于63.28nm,完全满足应用要求。(本文来源于《轻工科技》期刊2019年06期）
邓容,袁海涛,胡亭亮,孙小进,杨军[2]（2016）在《空间相机扫描机构固体润滑轴承组件的寿命试验》一文中研究指出开展了固体润滑轴承组件的真空加速寿命试验,以验证固体润滑轴承组件的设计是否满足在轨寿命要求。研究了MoS2基薄膜固体润滑轴承组件在小角度摆动情况下的寿命。试验采用4对轴承模拟在轨±6°连续往复摆动,通过检测轴承组件工作时的摩擦力矩、电机电流和轴承温升判断轴承运行状态。结果显示,寿命试验运行正常,累计摩擦次数为6.2×10~7次。寿命试验后对轴承进行了尺寸精度和旋转精度复测,然后对轴承组件进行了解剖分析。复测结果显示,轴承尺寸精度和旋转精度与试验前一致,轴承润滑状态良好。试验结果验证了固体润滑轴承组件寿命满足在轨任务要求,为其它空间相机小角度摆动的扫描机构固体润滑轴承组件的长寿命设计提供了依据。(本文来源于《光学精密工程》期刊2016年06期）
陈伟[3]（2011）在《大尺寸碳化硅扫描反射镜组件结构设计与研究》一文中研究指出航空航天相机在经济建设和国防中发挥了越来越重要的作用，在地形测绘、资源调查、道路建设以及水利和农业规划等诸多领域得到了广泛的应用。获得的图像能够为城市规划与建设提供依据，在战争和自然灾害中帮助指挥部门把握时机。基于一种新型相机的研制，在相机的入瞳处放置扫描反射镜，可以减小扫描反射镜的尺寸，从而减小反射镜的转动惯量，提高反射镜的扫描精度。相机设置了两维扫描（沿飞行方向扫描、垂直于飞行方向扫描），通过扫描反射镜和镜筒摆动，实现对地面景物的成像，扩大地面覆盖范围。为了保证相机的成像质量，扫描反射镜需要在减轻质量的前提下保证优良的光学面形精度（RMS值优于130，λ=632.8nm），同时扫描反射镜结构要有好的强度和刚度。为了满足这些要求，扫描反射镜的材料选择了碳化硅。在对扫描反射镜进行轻量化设计时，探索了叁角形和矩形的复合轻量化、镜体背部采用开放和封闭相结合的形式。结合相机的结构特点以及扫描反射镜的工作方式，选择了侧面支撑方式。同时相机工作时，环境条件会发生变化，在扫描反射镜支撑结构中设计了柔性环节，对扫描反射镜和支撑结构之间热特性的不匹配进行补偿，减小装配应力向扫描反射镜传递。在重力载荷和温度载荷作用下对扫描反射镜面形变化进行了分析，满足设计要求。(本文来源于《中国科学院研究生院（长春光学精密机械与物理研究所）》期刊2011-04-01）
孔令讲,易伟,杨建宇,宋艳[4]（2009）在《激光雷达液晶相控阵组件扫描精度分析》一文中研究指出扫描精度是激光雷达液晶相控阵扫描组件的一个重要指标。提出了一种对液晶相控阵扫描组件扫描精度误差进行定量计算的方法,利用瑞利-索末菲(Rayleigh-Sommerfeld)公式精确计算出扫描激光束的远场波束,得到角度误差值,采用角度误差值和3 dB主瓣宽度的比值对精度误差进行衡量。利用该方法对电压节化误差、制造误差、高斯预处理叁种典型的因素进行了仿真分析,并得到叁种误差造成的扫捕精度误差量级分别为10-3,10-2,10-5。因此,激光雷达液晶相控阵扫描组件的设计加工必须考虑加工精度对扫描角度的影响。(本文来源于《中国激光》期刊2009年05期）
陈友林[5]（2007）在《胶接结构组件超声C扫描检测》一文中研究指出对于板/板、板/芯胶接结构组件,超声波C扫描检测更为直观,能直接显示出试件内部缺陷大小、形状及其分布,有较高的分辨能力。超声C扫描在板/板、板/芯胶接结构、蜂窝胶接结构的检测中具有很大的优越性。(本文来源于《航空制造技术》期刊2007年11期）
陈友林[6]（2007）在《胶接结构组件超声C扫描检测》一文中研究指出文中通过采用超声喷水 C 扫描穿透法,对板/板、板/芯胶接(复材、金属)构件的脱粘、复材层压板分层缺陷进行了检测试验,通过对缺陷构件的解剖验证,证明了本文的检测方法及检测结果准确性与可靠性。(本文来源于《2007四川省理化检验、无损检测学术交流年会论文集》期刊2007-10-01）
先登飞,韩震宇,陈万良,李绍卓[7]（2006）在《用激光扫描投影法检测核燃料模拟组件变形》一文中研究指出鉴于核燃料组件变形水下检测的需求,本文提出了一种基于激光扫描投影的模拟组件整体轮廓变形检测系统的原理和实现方法:首先在光路部分分析了组件的变形情况及其各自的评价标准,以及位移测量法和CCD成像法的局限性;在数据采集和软件算法上,着重对信号调理部分采用的特殊整形方法和引入相对测量以提高系统精度作了介绍;最后给出了一批静态尺寸测量数据,对测量精度作了验证。(本文来源于《激光与红外》期刊2006年03期）
WJun[8]（2003）在《文件扫描好帮手——Office 2003的新组件》一文中研究指出$T微软的Office 2003增加了一个名为Microsoft Office Docu－ment Imaging的组件。该组件可以让用户轻松扫描文档，包括扫描单页文档和多页文档、执行光学字符识(本文来源于《电脑报》期刊2003/11/10）
赵妙娟,张良[9]（2001）在《热成像组件光机扫描方案分析》一文中研究指出对红外热像仪光机扫描特性进行了分析。提出了叁种不同扫描机构方案(本文来源于《电光与控制》期刊2001年04期）
毛成巾[10]（1997）在《印制板组件的边界扫描检测技术》一文中研究指出电子系统对集成电路性能、封装密度及微型化的要求似乎是永无止境的。当今的“奔腾”(Pentium)芯片是0.8μ的工艺,一共有320万个晶体管,而SIA预言到2001年超亚微米技术(<0.18μ)将成为主要技术。一个芯片将可包含6400万个以上的晶体管,性能将达到600兆赫。器件复杂性和集成度的剧增导致了它的高密度封装(BGA,COB,TAB,MCM等)。就当前的封装技术而言,管脚引线数达到数百甚至更多已不是什么新闻,而其管脚引线间距已从DIT/PGA器件的2.54mm缩小到了SOIC的1.27mm、QFP的0.635mm、TAB的0.203mm了。(本文来源于《微电子测试》期刊1997年03期）
扫描组件论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
开展了固体润滑轴承组件的真空加速寿命试验,以验证固体润滑轴承组件的设计是否满足在轨寿命要求。研究了MoS2基薄膜固体润滑轴承组件在小角度摆动情况下的寿命。试验采用4对轴承模拟在轨±6°连续往复摆动,通过检测轴承组件工作时的摩擦力矩、电机电流和轴承温升判断轴承运行状态。结果显示,寿命试验运行正常,累计摩擦次数为6.2×10~7次。寿命试验后对轴承进行了尺寸精度和旋转精度复测,然后对轴承组件进行了解剖分析。复测结果显示,轴承尺寸精度和旋转精度与试验前一致,轴承润滑状态良好。试验结果验证了固体润滑轴承组件寿命满足在轨任务要求,为其它空间相机小角度摆动的扫描机构固体润滑轴承组件的长寿命设计提供了依据。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
扫描组件论文参考文献
[1].何秉高,孙向阳,史丽娟.激光雷达扫描反射镜组件设计与分析[J].轻工科技.2019
[2].邓容,袁海涛,胡亭亮,孙小进,杨军.空间相机扫描机构固体润滑轴承组件的寿命试验[J].光学精密工程.2016
[3].陈伟.大尺寸碳化硅扫描反射镜组件结构设计与研究[D].中国科学院研究生院（长春光学精密机械与物理研究所）.2011
[4].孔令讲,易伟,杨建宇,宋艳.激光雷达液晶相控阵组件扫描精度分析[J].中国激光.2009
[5].陈友林.胶接结构组件超声C扫描检测[J].航空制造技术.2007
[6].陈友林.胶接结构组件超声C扫描检测[C].2007四川省理化检验、无损检测学术交流年会论文集.2007
[7].先登飞,韩震宇,陈万良,李绍卓.用激光扫描投影法检测核燃料模拟组件变形[J].激光与红外.2006
[8].WJun.文件扫描好帮手——Office2003的新组件[N].电脑报.2003
[9].赵妙娟,张良.热成像组件光机扫描方案分析[J].电光与控制.2001
[10].毛成巾.印制板组件的边界扫描检测技术[J].微电子测试.1997