本文主要研究内容
作者李璐,邹利兰,杨庆生,谭聪林（2019）在《M（Au、Ag、Ti）/TiO2/Pt器件的电致阻变性质》一文中研究指出：该文分析了不同的类型的金属顶电极对TiO2薄膜电致阻变效应的影响,通过对器件I-V曲线的分析,发现器件Au/TiO2/Pt和Ag/TiO2/Pt具有稳定的电致阻变性质,且Ag/TiO2/Pt器件的置位电压和复位电压较小。相反的,器件Ti/TiO2/Pt的电致阻变性质具有不稳定的电致阻变性质,这与Ti电极容易被氧化在界面处形成氧化物有关,界面处氧化物的形成影响了器件的电致阻变性质。结合电致阻变效应机制的分析,表明顶电极材料会影响RRAM器件的电致阻变性质。
Abstract
gai wen fen xi le bu tong de lei xing de jin shu ding dian ji dui TiO2bao mo dian zhi zu bian xiao ying de ying xiang ,tong guo dui qi jian I-Vqu xian de fen xi ,fa xian qi jian Au/TiO2/Pthe Ag/TiO2/Ptju you wen ding de dian zhi zu bian xing zhi ,ju Ag/TiO2/Ptqi jian de zhi wei dian ya he fu wei dian ya jiao xiao 。xiang fan de ,qi jian Ti/TiO2/Ptde dian zhi zu bian xing zhi ju you bu wen ding de dian zhi zu bian xing zhi ,zhe yu Tidian ji rong yi bei yang hua zai jie mian chu xing cheng yang hua wu you guan ,jie mian chu yang hua wu de xing cheng ying xiang le qi jian de dian zhi zu bian xing zhi 。jie ge dian zhi zu bian xiao ying ji zhi de fen xi ,biao ming ding dian ji cai liao hui ying xiang RRAMqi jian de dian zhi zu bian xing zhi 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自科技资讯的李璐,邹利兰,杨庆生,谭聪林，发表于刊物科技资讯2019年01期论文，是一篇关于二氧化钛薄膜论文,电致阻变论文,顶电极论文,科技资讯2019年01期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自科技资讯2019年01期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
标签：二氧化钛薄膜论文; 电致阻变论文; 顶电极论文; 科技资讯2019年01期论文;