杨旭:中压交联电缆铜带变色现象的分析和解决论文

杨旭:中压交联电缆铜带变色现象的分析和解决论文

本文主要研究内容

作者杨旭(2019)在《中压交联电缆铜带变色现象的分析和解决》一文中研究指出:0 引言在中压交联电缆中,铜带主要起着屏蔽抗干扰、传输短路电流的作用。如果铜带发生氧化腐蚀,则电缆在使用过程中,将存在一定的安全隐患。由于中压交联电缆在生产过程中[1],不可避免地与热、水汽、其他氧化物接触而发生电化学反应[2],造成铜带氧化变色,因此本文通过试验直观地验证实际电缆生产中造成铜带氧化的直接原因,指出生产中的关键控制点,从而防止铜带氧化变色现象的发生。1 铜带氧化机理铜原子的电子层为K-L-M-N,其电子层分

Abstract

0 yin yan zai zhong ya jiao lian dian lan zhong ,tong dai zhu yao qi zhao bing bi kang gan rao 、chuan shu duan lu dian liu de zuo yong 。ru guo tong dai fa sheng yang hua fu shi ,ze dian lan zai shi yong guo cheng zhong ,jiang cun zai yi ding de an quan yin huan 。you yu zhong ya jiao lian dian lan zai sheng chan guo cheng zhong [1],bu ke bi mian de yu re 、shui qi 、ji ta yang hua wu jie chu er fa sheng dian hua xue fan ying [2],zao cheng tong dai yang hua bian se ,yin ci ben wen tong guo shi yan zhi guan de yan zheng shi ji dian lan sheng chan zhong zao cheng tong dai yang hua de zhi jie yuan yin ,zhi chu sheng chan zhong de guan jian kong zhi dian ,cong er fang zhi tong dai yang hua bian se xian xiang de fa sheng 。1 tong dai yang hua ji li tong yuan zi de dian zi ceng wei K-L-M-N,ji dian zi ceng fen

论文参考文献

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  • 论文详细介绍

    论文作者分别是来自光纤与电缆及其应用技术的杨旭,发表于刊物光纤与电缆及其应用技术2019年04期论文,是一篇关于,光纤与电缆及其应用技术2019年04期论文的文章。本文可供学术参考使用,各位学者可以免费参考阅读下载,文章观点不代表本站观点,资料来自光纤与电缆及其应用技术2019年04期论文网站,若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权,请联系我们删除。

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