导读:本文包含了自动生产测试论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:通用自动测试系统,模拟量,开关量,自动化测试
自动生产测试论文文献综述
周菊,曹希龙,黄光慈,李慧慧[1]（2018）在《一种工业生产通用自动测试系统的实现及其应用》一文中研究指出本文介绍了一种工业生产通用自动测试系统的架构组成和系统实现,该测试系统上位机基于.NET开发,面向测试流程,应用基于STM32的嵌入式系统作为信号处理控制器(下位机),进行信号采集和动作输出,自动完成测试流程和数据管理。本文以搅拌主机产品的下线自动化测试为例,介绍了本测试系统在工业生产中的应用情况。(本文来源于《智能制造》期刊2018年09期）
姜文喜,刘建学[2]（2014）在《批量生产快速熔断器自动测试系统的设计》一文中研究指出为了在快速熔断器产品生产线上进行快速、准确、可靠的批量测试,开发设计了快速熔断器自动检测控制系统,解决了人工测试结果离散性大,打印名牌、数据记录、报表生成费时等问题。详细介绍了自动测试系统基于PC的设计方案及软硬件的设计实现。自动测试系统投入生产线运行,验证了该系统具有较强的实用性和较高的性价比。(本文来源于《第五届数控机床与自动化技术专家论坛、第18届中国西部国际装备制造业博览会专刊》期刊2014-03-13）
[3]（2010）在《LED封装生产中自动测试与分拣设备的研制》一文中研究指出本文介绍了国内LED封装生产企业对自动测试与分拣设备的需求情况,分析了LED自动测试与分拣设备的光机电一体化系统构架设计,光色电参数的高速高精度检测技术,设备可靠性研究与设备成本控制等关键问题。着重介绍LED测试与分拣设备工作原理,以及目前的技术状况。(本文来源于《第七届中国国际半导体照明论坛论文集》期刊2010-10-14）
张丽颖[4]（2009）在《基于本体的核电站生产用软件测试用例自动生成》一文中研究指出核电领域是典型的安全关键领域,人们对核电站生产用软件的质量要求较高。软件测试是保证软件质量的重要手段,也是一个知识密集型活动。本文将知识工程的方法引入到软件测试中,解决GUI软件测试用例的自动生成以及测试用例的维护和重用问题。本文阐述了GUI软件测试的相关理论和研究现状,指出了目前GUI软件测试中存在的问题——缺乏对GUI的形式化表示方法,使得测试用例不易维护,对软件变化的适应性不足;测试用例状态空间的巨大,难以生成符合一定测试需求、快速暴露软件缺陷的测试用例子集。本文采用基于本体的建模技术和基于规则的推理来解决上述两个问题。首先,建立了一个通用的GUI软件测试用例本体模型,这个本体模型中涉及了GUI软件测试用例领域内的通用概念和概念间的制约关系;通过对其的继承和实例化,可以获得一个针对具体软件(堆芯换料系统)的测试用例本体模型。采用OWL对本体做形式化表达。然后将测试用例生成分为测试数据生成和测试路径生成两部分,开发了蕴含业务逻辑的测试用例生成规则,这些规则保留了被测软件应用领域的业务知识和测试经验。采用SWRL对规则做形式化表达。最后,将形式化表达的测试用例生成知识与推理系统相结合,采用基于产生式规则的Jess推理引擎来求解测试用例子集,完成了测试用例的自动生成,并分别以核电站生产用软件(堆芯换料管理系统)和造船厂曲面分段计划系统对本文方法进行了验证。(本文来源于《上海交通大学》期刊2009-04-01）
冯勇[5]（2007）在《一种适合批量生产的自动在线测试技术》一文中研究指出本文介绍了一种基于火灾报警系统探测器的自动测试技术,该技术通过简单的办法对探测器进行批量的编程以及测试,使探测器的生产效率得到极大地提高。(本文来源于《安徽电子信息职业技术学院学报》期刊2007年04期）
周娟[6]（2007）在《微机补偿晶体振荡器工业生产自动测试系统设计》一文中研究指出随着信息技术的快速发展，具有频率稳定度高，体积小，工作温度范围宽等优良特点的微机补偿晶体器振荡器(MCXO)的市场需求量越来越大，但是由于MCXO自身的技术特点，使得手工生产MCXO的成品率及生产效率都很低，所以急需设计一种可自动化、批量化生产及测试微机补偿晶体振器(MCXO)的计算机控制系统，以满足市场的需求。本文依据“华经北川电子科技有限责任公司”的要求，采用计算机控制和通信的方法设计了一种MCXO测试系统，该系统可以完成频率为32.512MHz的MCXO的批量生产，并且可以较容易的推广到其它频率的MCXO批量生产中去。本设计将PC机、MCXO、温箱、频率计及接口电路板组成一个闭环测试系统，通过调节温箱模拟MCXO的环境温度，在不同温度下同时测试多个MCXO(4～32个)的频率温度特性，依据频率计的输出建立MCXO温度电压补偿数据表，在PC机中对数据进行保存、打开查看等处理，实现MCXO的批量生产。系统设计主要包括硬件设计和软件设计两部分，硬件电路主要负责PC机和多个MCXO的电路接口，软件部分则主要负责提供操作界面、进行数据处理及通信等功能。实验结果表明本系统的设计思想可行，设计性能达到了委托方的基本要求。(本文来源于《西北大学》期刊2007-06-01）
鲜飞[7]（2004）在《自动光学测试实现生产效益最大化》一文中研究指出AOI已成为有效的过程控制工具,帮助制造商提高在线测试(ICT)或功能测试的通过率、降低目检和ICT的人工成本、避免ICT成为生产瓶颈、缩短新产品产能提升周期以及通过统计过程控制(SPC)改善成品率,以实现生产效益的最大化。(本文来源于《电气时代》期刊2004年01期）
[8]（1997）在《HP自动生产过程测试解决方案——最大的测试效率 最小的测试开支 较低的制造成本》一文中研究指出HP自动生产过程测试系统 降低制造成本 我们是生产过程电气测试的领导者 HP3070产品系列 十几年前,在HP公司自己的制造车间和客户的生产现场,我们看到表面安装技术已越来越影响到无故障印制板的产量,导致功能测试中遇到大量的‘坏板’。据此,随着表面安装技术在世界范围的制造业越来越(本文来源于《世界电子元器件》期刊1997年09期）
唐德兴[9]（1995）在《TZ—107型自动探针测试台在大生产中的应用及其启示》一文中研究指出ＴＺ—１０７型自动探针测试台在大生产中的应用及其启示电子工业部第４５研究所唐德兴概述自动探针测试台是我所的一项主导产品。在国内有较大的市场覆盖面。ＴＺ—１０７型自动探针测试台是近年研制的新产品。设计时课题组对国内、外探针台的结构特点进行了较深入地剖析...(本文来源于《电子工业专用设备》期刊1995年04期）
[10]（1994）在《自动测试设备(ATE)的新目标专用集成电路(ASIC)生产测试》一文中研究指出从八十年代中期起,ASIC对减小电子设备的尺寸,降低价格比其它元件,包括微控制器或微处理器,有更大的作用。在此期间,ASIC的复杂定时电路,数据速率和门电路数,插针数的年增长率也超出了微处理器的年增长率。 早期具有通常测试速度的ASIC只作为简单的设备使用,而现在更多的供货者和用户要求按现有的时钟和数据速率进行快速测试。 完成ASIC试验常常是在上一代的LSI ATE,ASIC检验试验系统,有时在高性能(本文来源于《国外电子测量技术》期刊1994年02期）
自动生产测试论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
为了在快速熔断器产品生产线上进行快速、准确、可靠的批量测试,开发设计了快速熔断器自动检测控制系统,解决了人工测试结果离散性大,打印名牌、数据记录、报表生成费时等问题。详细介绍了自动测试系统基于PC的设计方案及软硬件的设计实现。自动测试系统投入生产线运行,验证了该系统具有较强的实用性和较高的性价比。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
自动生产测试论文参考文献
[1].周菊,曹希龙,黄光慈,李慧慧.一种工业生产通用自动测试系统的实现及其应用[J].智能制造.2018
[2].姜文喜,刘建学.批量生产快速熔断器自动测试系统的设计[C].第五届数控机床与自动化技术专家论坛、第18届中国西部国际装备制造业博览会专刊.2014
[3]..LED封装生产中自动测试与分拣设备的研制[C].第七届中国国际半导体照明论坛论文集.2010
[4].张丽颖.基于本体的核电站生产用软件测试用例自动生成[D].上海交通大学.2009
[5].冯勇.一种适合批量生产的自动在线测试技术[J].安徽电子信息职业技术学院学报.2007
[6].周娟.微机补偿晶体振荡器工业生产自动测试系统设计[D].西北大学.2007
[7].鲜飞.自动光学测试实现生产效益最大化[J].电气时代.2004
[8]..HP自动生产过程测试解决方案——最大的测试效率最小的测试开支较低的制造成本[J].世界电子元器件.1997
[9].唐德兴.TZ—107型自动探针测试台在大生产中的应用及其启示[J].电子工业专用设备.1995
[10]..自动测试设备(ATE)的新目标专用集成电路(ASIC)生产测试[J].国外电子测量技术.1994