本文主要研究内容
作者段华伟（2019）在《基于Halcon的太阳能硅片缺陷检测技术研究》一文中研究指出：针对太阳能硅片生产过程中碎片率增加的问题,同时为了有效避免太阳能电池对相关工艺造成的影响,需要使用机器视觉系统进行有效的缺陷检测,因此,提出了基于Halcon图像处理的太阳能硅片表面缺陷系统的总体设计方案,介绍了太阳能硅片检测系统的主要组成部分、图像处理的关键算法以及实施此项技术的好处。
Abstract
zhen dui tai yang neng gui pian sheng chan guo cheng zhong sui pian lv zeng jia de wen ti ,tong shi wei le you xiao bi mian tai yang neng dian chi dui xiang guan gong yi zao cheng de ying xiang ,xu yao shi yong ji qi shi jiao ji tong jin hang you xiao de que xian jian ce ,yin ci ,di chu le ji yu Halcontu xiang chu li de tai yang neng gui pian biao mian que xian ji tong de zong ti she ji fang an ,jie shao le tai yang neng gui pian jian ce ji tong de zhu yao zu cheng bu fen 、tu xiang chu li de guan jian suan fa yi ji shi shi ci xiang ji shu de hao chu 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自智慧工厂的段华伟，发表于刊物智慧工厂2019年03期论文，是一篇关于太阳能硅片论文,机器视觉论文,智慧工厂2019年03期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自智慧工厂2019年03期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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