锥光干涉论文-李东,刘勇,刘旭,姜宏振,郑芳兰

锥光干涉论文-李东,刘勇,刘旭,姜宏振,郑芳兰

导读:本文包含了锥光干涉论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献,主要关键词:高精度测量,偏离角,晶体,大口径

锥光干涉论文文献综述

李东,刘勇,刘旭,姜宏振,郑芳兰[1](2016)在《基于锥光干涉的开关晶体Z轴偏离角高精度测量装置研制》一文中研究指出等离子体电极普克尔盒(PEPC)是实现大型激光装置多程放大技术的关键部件之一,其采用开关晶体实现线性电光效应,进而控制激光输出或者隔离反射激光。开关晶体的质量直接决定着PEPC的性能。PEPC中使用的开关晶体采用KDP晶体,其切割方向为垂直于Z轴切割,设计要求开关晶体通光面法线与Z轴平行,定轴误差(即Z轴偏离角)须小于0.5mrad。在晶体加工过程中,现在普遍采用X射线衍射法来实现晶体定(本文来源于《第十六届全国光学测试学术交流会摘要集》期刊2016-09-25)

商继芳,孙军,张勇军,杨金凤,李清连[2](2015)在《一种锥光干涉和近光轴调制结合测量晶体电光系数的方法》一文中研究指出提出了一种测量晶体电光系数的简易方法,即在近光轴电光调制的基础上,通过采用散射程度合适的毛玻璃,同时获得了透射光点和锥光干涉图样。根据透射光点在锥光干涉图样中的位置确定激光通过晶体后产生的相位差,并结合理论可计算出相应的电光系数。该方法对光强以及环境稳定性要求较低,所用设备简单、调节方便。用此方法测量计算了铌酸锂晶体的电光系数,与其他方法测得的结果进行了比较,并且分析估算了其误差来源及大小。结果表明该方法和其他方法相比,测量结果相差不超过5%。对测量误差进行简单分析,主要来自对相位差的判断,此误差不超过4.2%。(本文来源于《人工晶体学报》期刊2015年11期)

林远芳,郑赪,郑晓东,王晓萍,刘旭[3](2012)在《运用ASAP光学软件模拟单轴晶体的锥光干涉》一文中研究指出为了模拟不同光轴取向、光束发散角、晶体厚度或入射波长等参数下的单轴晶体锥光干涉,在ASAP中定义起偏器、晶体、检偏器和接收屏的几何形状和光学特性,产生一组锥状高斯光束并设置其相干性和波动性,进行光线追迹、计算并显示接收屏上的干涉场能量分布。所得模拟结果表明,光轴与晶体表面垂直时,干涉条纹是1组以光轴为圆心且被十字分割的内疏外密、明暗相间的同心圆环;平行时,是2组分别以光轴的平行和垂直方向为对称轴的、内疏外密、明暗相间的双曲线;既不垂直也不平行时,条纹特征因光轴取向而异;当增大发散角、晶体厚度或减小波长时,干涉条纹都向内移动且条纹数增多,反之亦然;起、检偏器正交时的干涉条纹都和它们平行时的条纹互补。(本文来源于《光电工程》期刊2012年02期)

林远芳,郑赪,郑晓东,王晓萍,刘旭[4](2011)在《运用ASAP光学软件模拟单轴晶体的锥光干涉》一文中研究指出提出了通过编写和运行ASAP光学软件的命令脚本来模拟单轴晶体锥光干涉的方法。脚本中的命令主要有:设定光源波长、晶体寻常光和非常光折射率、光轴方向;定义起偏器、晶体、检偏器和观察屏的几何形状和光学特性;产生一组光线并设置其相干性、波动性和角度特性;将近基光线数设为4以完成对以基线为中心的高斯光束的定义;在光线追迹中利用菲涅尔公式为每条光线重新计算分界面上两偏振分量的反射和透射系数;精确计算复杂干涉场的能量分布并加以显示。模拟结果表明:该方法能仿真任意光轴取向的单轴晶体锥光干涉图。光轴垂直于折射表面时,干涉图为以光轴为圆心且被十字分割的内密外疏的同心圆环,并且:当起、检偏方向由互为垂直逐渐转为平行时,干涉图随之转动直至图样互补;增加晶体厚度、减小光源波长或增大其发散角时,圆环向内收缩且环数增加,反之亦然。光轴平行于折射表面时,干涉图为两组对称轴分别平行和垂直于光轴方向的同轴双曲线,当光轴绕着折射表面法线转动时,干涉图随之转动且视场亮度发生变化,当两倍光轴方位角的正弦值为0时,视场最暗;为1时,视场最亮,干涉条纹对比度最好。(本文来源于《中国光学学会2011年学术大会摘要集》期刊2011-09-05)

刘剑,王明乐,李剑,钟何金,郭刚[5](2011)在《锥光干涉法表征偶氮苯侧链液晶聚合物的光致取向》一文中研究指出采用偏光显微镜在平行光和锥光条件下对液晶聚合物膜内分子的取向排列状态进行了研究,不同取向状态的膜由线偏振光或圆偏振光照射偶氮苯侧链液晶聚合物得到。结果表明,液晶聚合物膜采用线偏振光照射时,偶氮苯介晶基元沿面排列,形成单相畴面内取向态。该取向态的锥光干涉图为位于视场中心的粗黑十字,旋转载物台小于10°,该干涉图即完全退出视场。采用圆偏振光照射时,介晶基元沿光入射方向取向,形成的锥光干涉图消光中心与取向光的倾斜方向呈线性关系逐渐偏移视场中心。同时,圆偏振光照射时介晶基元有面内取向和面外取向两种排列方式存在。圆偏振光垂直照射取向后的薄膜在Tg以上温度退火处理后,面内取向的分子重新发生面外取向,液晶聚合物膜呈现单轴、垂直光轴切面的锥光干涉图样。(本文来源于《高分子通报》期刊2011年08期)

刘剑,王明乐,钟何金,郭刚,李剑[6](2010)在《锥光干涉法表征偶氮苯侧链液晶聚合物的光致取向》一文中研究指出偶氮苯液晶聚合物的介晶基元在偏振光的作用下会沿偏振光电矢量垂直方向取向,从而形成有序的排列状态。经典表征液晶聚合物光致取向的方法是膜双折射(透射率)的变化,但双折射变化只能说明聚合物有序程度的大小,不能确定介晶基元的取向方向。锥光干涉法是表征矿物和岩石等晶体的光学特性最有力的方法之一,(本文来源于《2010年两岸叁地高分子液晶态与超分子有序结构学术研讨会(暨第十一次全国高分子液晶态与超分子有序结构学术论文报告会)会议论文集》期刊2010-08-23)

高成勇,徐建强,王安凯,孙尚倩,周灿林[7](2010)在《锥光干涉技术在光学晶体相关测量中的应用》一文中研究指出本文主要提出了一种利用锥光干涉技术测试光学晶体相关参数的基本方法。利用该技术测试了给定双光轴晶体Nd:LaVO4样品的定向切割精度及双光轴间的夹角,2β=26°;同时测定了负单轴晶体SBN60的折射率,n o=2.358,ne,2.340,与相关文献记录结果相吻合。(本文来源于《中国光学学会2010年光学大会论文集》期刊2010-08-23)

孔丽晶,骆万发[8](2009)在《晶体电光调制实验中锥光干涉图样的模拟》一文中研究指出根据偏振光干涉原理,在Matlab环境中完成不同情况下单轴晶体锥光干涉图样的光学模型建构和计算机模拟,其结果图样细致逼真,使实验所体现的物理过程变得直观形象,为光学实验教学提供了新的有效的辅助手段.(本文来源于《闽江学院学报》期刊2009年02期)

孔丽晶,骆万发[9](2009)在《基于Matlab的单轴晶体锥光干涉图样模拟》一文中研究指出根据偏振光干涉原理,在Matlab环境中完成晶体电光调制实验中锥光干涉图样的计算模型建构和仿真模拟,其结果图样细致逼真.在此基础上,模拟出其他情况下单轴晶体锥光干涉图样,从而使复杂的干涉现象变得直观形象,为光学实验教学提供了有效的辅助手段.(本文来源于《物理实验》期刊2009年02期)

曹硕,马莹莹,高鹏[10](2007)在《锥光干涉图、光强透过率曲线对电光调制实验的影响》一文中研究指出基于电光效应的基本原理,讨论了铌酸锂(LiNbO3)晶体横向电光调制实验中利用锥光干涉图暗十字线图样确定起偏器和检偏器偏振方向分别平行于晶体x、y光轴的方法,及光强透过率曲线偏移对测量铌酸锂晶体半波电压的影响.(本文来源于《辽宁大学学报(自然科学版)》期刊2007年04期)

锥光干涉论文开题报告

(1)论文研究背景及目的

此处内容要求:

首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景,再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题,并提出你的论文准备的观点或解决方法。

写法范例:

提出了一种测量晶体电光系数的简易方法,即在近光轴电光调制的基础上,通过采用散射程度合适的毛玻璃,同时获得了透射光点和锥光干涉图样。根据透射光点在锥光干涉图样中的位置确定激光通过晶体后产生的相位差,并结合理论可计算出相应的电光系数。该方法对光强以及环境稳定性要求较低,所用设备简单、调节方便。用此方法测量计算了铌酸锂晶体的电光系数,与其他方法测得的结果进行了比较,并且分析估算了其误差来源及大小。结果表明该方法和其他方法相比,测量结果相差不超过5%。对测量误差进行简单分析,主要来自对相位差的判断,此误差不超过4.2%。

(2)本文研究方法

调查法:该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。

观察法:用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。

实验法:通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。

文献研究法:通过调查文献来获得资料,从而全面的、正确的了解掌握研究方法。

实证研究法:依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。

定性分析法:对研究对象进行“质”的方面的研究,这个方法需要计算的数据较少。

定量分析法:通过具体的数字,使人们对研究对象的认识进一步精确化。

跨学科研究法:运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。

功能分析法:这是社会科学用来分析社会现象的一种方法,从某一功能出发研究多个方面的影响。

模拟法:通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。

锥光干涉论文参考文献

[1].李东,刘勇,刘旭,姜宏振,郑芳兰.基于锥光干涉的开关晶体Z轴偏离角高精度测量装置研制[C].第十六届全国光学测试学术交流会摘要集.2016

[2].商继芳,孙军,张勇军,杨金凤,李清连.一种锥光干涉和近光轴调制结合测量晶体电光系数的方法[J].人工晶体学报.2015

[3].林远芳,郑赪,郑晓东,王晓萍,刘旭.运用ASAP光学软件模拟单轴晶体的锥光干涉[J].光电工程.2012

[4].林远芳,郑赪,郑晓东,王晓萍,刘旭.运用ASAP光学软件模拟单轴晶体的锥光干涉[C].中国光学学会2011年学术大会摘要集.2011

[5].刘剑,王明乐,李剑,钟何金,郭刚.锥光干涉法表征偶氮苯侧链液晶聚合物的光致取向[J].高分子通报.2011

[6].刘剑,王明乐,钟何金,郭刚,李剑.锥光干涉法表征偶氮苯侧链液晶聚合物的光致取向[C].2010年两岸叁地高分子液晶态与超分子有序结构学术研讨会(暨第十一次全国高分子液晶态与超分子有序结构学术论文报告会)会议论文集.2010

[7].高成勇,徐建强,王安凯,孙尚倩,周灿林.锥光干涉技术在光学晶体相关测量中的应用[C].中国光学学会2010年光学大会论文集.2010

[8].孔丽晶,骆万发.晶体电光调制实验中锥光干涉图样的模拟[J].闽江学院学报.2009

[9].孔丽晶,骆万发.基于Matlab的单轴晶体锥光干涉图样模拟[J].物理实验.2009

[10].曹硕,马莹莹,高鹏.锥光干涉图、光强透过率曲线对电光调制实验的影响[J].辽宁大学学报(自然科学版).2007

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