锆钛比论文-刘长流,张珍宣,张元松,赖炜,张玉芬

锆钛比论文-刘长流,张珍宣,张元松,赖炜,张玉芬

导读:本文包含了锆钛比论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献,主要关键词:压电陶瓷,锆钛比,烧结温度,压电介电性能

锆钛比论文文献综述

刘长流,张珍宣,张元松,赖炜,张玉芬[1](2019)在《锆钛比和烧结温度对PMS-PZT压电陶瓷性能的影响》一文中研究指出本文采用传统固相烧结法制备Pb_(0.995)Sr_(0.005)(Zrx Ti_(1-x))_(0.96)(Sb_(2/3)Mn_(1/3))_(0.04)O_3压电陶瓷,研究了锆钛比和烧结温度对该体系的压电陶瓷性能的影响,并测试其居里温度。结果表明:陶瓷的压电性能随Zr/Ti减小先升高后下降,当Zr/Ti为50.5/49.5时,该体系的压电性能取得最大值;压电陶瓷的压电性能随烧结温度增加先升高然后下降,在1200℃烧结温度下,当Zr/Ti=50.5/49.5时,获得最优的综合性能,此时ε_(33)~T/ε_0=1628,tanδ=0.45%,K_p=0.73,d_(33)=409p C/N,Q_m=700;在所研究的组成范围内,随着Zr/Ti的减小,介电常数温度图谱峰值向高温移动,当Zr/Ti=50.5/49.5时,介电峰值对应的居里温度为325℃。(本文来源于《佛山陶瓷》期刊2019年09期)

江凤,蔡锴,邓平晔,王云丽,郭栋[2](2015)在《不同锆钛比铁铌锆钛酸铅热释电陶瓷的结构与性能》一文中研究指出研究了Zr/Ti摩尔比对两步法合成的0.3Pb(Fe1/2Nb1/2)O3–0.7Pb(ZrxTi1-x)O3(PFNZxT1-x)复合热释电陶瓷微观结构、相构成和综合电学性能的影响。结果表明,所制备的陶瓷样品均为单一钙钛矿结构。在x=0.50处出现四方、菱方相共存的准同型相界。随着Zr/Ti摩尔比增加(x从0.50增至0.95),逐渐从两相共存变为菱方相,同时伴随晶胞体积和陶瓷晶粒尺寸的不断增大。随x增加,体系介电常数减小,介电损耗变化较小,而体系热释电系数及优值呈现出逐渐增大趋势。当Zr/Ti摩尔比在富锆的80/20~85/15之间时,材料室温热释电系数p大于11×10-8 C/(cm2·K1),探测率优值FD大于16×10-5 Pa-1/2,具有较好的综合电学性能。(本文来源于《硅酸盐学报》期刊2015年09期)

张邦劳,常云飞[3](2007)在《锆钛比变化对PZT-PZN-PMS压电陶瓷相结构及电学性能的影响》一文中研究指出通过传统固相法合成了四元系压电陶瓷材料Pb0.95Sr0.05(Zr1-xTix)O3-Pb(Mn1/3Sb2/3)O3-Pb(Zn1/3Nb2/3)O3(简称PZT-PMS-PZN),用XRD技术分析了陶瓷的相结构,研究了不同Zr/Ti比对该材料的机械品质因数Qm、机电耦合系数KP、压电常数d33、介电常数rε以及介电损耗tanδ的影响.结果表明,当0.46≤x≤0.50时,材料四方与菱方两相共存,即为材料的准同型相界.当x=0.48且烧结温度为1150℃时,陶瓷具有优良的综合电学性能.其主要性能参数为:εr=1 761,tanδ=0.002 8,Qm=1300,d33=351pC/N,Kp=0.58.该材料可作为大功率压电陶瓷变压器的候选材料.(本文来源于《陕西师范大学学报(自然科学版)》期刊2007年01期)

符欣[4](2006)在《高锆钛比PZT薄膜的Sol-Gel方法制备和铁电性能的研究》一文中研究指出近半个世纪以来,科学和生产发展的事实说明,电子学的发展深刻影响着当今社会的各个领域。而在电子学的发展中,起重要作用的是在理论研究的指导下,关键性的新器件和新材料的制造。薄膜科学就是开发新材料和新器件非常重要的领域。铁电薄膜早在几十年前就已问世,但是直到近几年才得到广泛的重视并投入力量加以研究和开发使用,它可用于电子技术、激光技术、红外探测技术、光电检测技术以及其它工程技术方面。Pb(Zr,Ti)O3(通常简写为PZT)是五十年代初出现的一种铁电材料,由于其介电、铁电、压电及热释电性可通过改变Zr/Ti的份量比以及掺杂的方法得到改善,因此倍受国内外的关注。本文基于前人的实验理论,研究了用溶胶-凝胶(Sol-Gel)法制备高锆钛比(Zr/Ti=95/5)的锆钛酸铅薄膜,并研究其结构和电性能。实验中薄膜样品的结构为Ag/PZT/LNO/Si,Si为基底材料,Ag和LNO分别为PZT薄膜的上电极和下电极,LNO薄膜用Sol-Gel方法制备在Si基底上,PZT薄膜同样用Sol-Gel工艺生长在下电极LNO薄膜上。随后我们对样品的结晶状况,铁电性能进行了测试,并且讨论了退火温度对薄膜样品的影响,摸索出薄膜生长的较好工艺条件。实验结果所测出来的XRD衍射谱表明, PZT薄膜样品具有较好的结晶程度,晶格取向比较明显;电滞回线也同样表明PZT薄膜具有好的铁电性能。(本文来源于《南京航空航天大学》期刊2006-09-01)

张孝文,叶楚才,李成萃[5](1979)在《锆钛比为50/50的PZT陶瓷极化前后的X射线研究》一文中研究指出铁电陶瓷在极化及使用过程中有畴结构的变化。这种变化对材料宏观性能有直接影响。本文提出了一种从X射线强度变化来定量地测定四方铁电相中90°畴转向率的简便方法。只要正确地测定出未极化状态的强度I_(200)与I_(002)之比以及极化状态相应的比值,就可以直接求得极化过程90°畴转向的百分比。公式推导过程考虑了结构因素及可能存在的择优取向。用上述方法对锆钛比为50/50的PZT陶瓷在不同极化条件下90°畴的转向率作了计算,所得的结果与宏观性能变化平行。与过去用测量形变进行间接换算的方法作了比较。文中还讨论了用X射线线形变宽方法来测定极化前后的内应力问题。(本文来源于《物理学报》期刊1979年04期)

锆钛比论文开题报告

(1)论文研究背景及目的

此处内容要求:

首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景,再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题,并提出你的论文准备的观点或解决方法。

写法范例:

研究了Zr/Ti摩尔比对两步法合成的0.3Pb(Fe1/2Nb1/2)O3–0.7Pb(ZrxTi1-x)O3(PFNZxT1-x)复合热释电陶瓷微观结构、相构成和综合电学性能的影响。结果表明,所制备的陶瓷样品均为单一钙钛矿结构。在x=0.50处出现四方、菱方相共存的准同型相界。随着Zr/Ti摩尔比增加(x从0.50增至0.95),逐渐从两相共存变为菱方相,同时伴随晶胞体积和陶瓷晶粒尺寸的不断增大。随x增加,体系介电常数减小,介电损耗变化较小,而体系热释电系数及优值呈现出逐渐增大趋势。当Zr/Ti摩尔比在富锆的80/20~85/15之间时,材料室温热释电系数p大于11×10-8 C/(cm2·K1),探测率优值FD大于16×10-5 Pa-1/2,具有较好的综合电学性能。

(2)本文研究方法

调查法:该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。

观察法:用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。

实验法:通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。

文献研究法:通过调查文献来获得资料,从而全面的、正确的了解掌握研究方法。

实证研究法:依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。

定性分析法:对研究对象进行“质”的方面的研究,这个方法需要计算的数据较少。

定量分析法:通过具体的数字,使人们对研究对象的认识进一步精确化。

跨学科研究法:运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。

功能分析法:这是社会科学用来分析社会现象的一种方法,从某一功能出发研究多个方面的影响。

模拟法:通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。

锆钛比论文参考文献

[1].刘长流,张珍宣,张元松,赖炜,张玉芬.锆钛比和烧结温度对PMS-PZT压电陶瓷性能的影响[J].佛山陶瓷.2019

[2].江凤,蔡锴,邓平晔,王云丽,郭栋.不同锆钛比铁铌锆钛酸铅热释电陶瓷的结构与性能[J].硅酸盐学报.2015

[3].张邦劳,常云飞.锆钛比变化对PZT-PZN-PMS压电陶瓷相结构及电学性能的影响[J].陕西师范大学学报(自然科学版).2007

[4].符欣.高锆钛比PZT薄膜的Sol-Gel方法制备和铁电性能的研究[D].南京航空航天大学.2006

[5].张孝文,叶楚才,李成萃.锆钛比为50/50的PZT陶瓷极化前后的X射线研究[J].物理学报.1979

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