导读:本文包含了基准二极管论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:基准二极管,低频噪声,时频分析,小波变换
基准二极管论文文献综述
张苑[1]（2009）在《基准二极管低频噪声测试系统设计及其可靠性筛选方法研究》一文中研究指出基准二极管作为许多控制和应用电路系统中必不可少的稳压器件,其稳定性在国防、卫星通信、航天和医学仪器等一些要求高可靠性的领域中,有着至关重要的地位。本文将在原有的采用噪声谱进行半导体器件可靠性筛选方法的基础上,针对目前该领域内存在的不足,结合虚拟仪器技术提出基准二极管器件噪声成分及可靠性估计的新方法,并建立一套基于LabVIEW的半导体器件低频噪声测试系统。具体研究内容如下:1)明确了基准二极管低频噪声与可靠性的关系;2)结合数据采集卡,构建了新的低频噪声测试系统;3)为了弥补点频噪声参数表征不充分的缺点,本文通过全频参数进行频域上的噪声分析;4)最后,采用小波变换对基准二极管的1/f噪声特性进行了详细的分析,并通过小波变换对微等离子体噪声进行了检测。(本文来源于《吉林大学》期刊2009-05-01）
宋传立,卫东,马瑞芬[2]（2000）在《2DW_(232-236)~(14-18)型硅电压基准二极管的研制》一文中研究指出本文介绍了２ＤＷ_（２３２－２３６）~（１４－１８）型硅电压基准二极管的研制过程及研制结果。(本文来源于《山东电子》期刊2000年03期）
庄奕琪,孙青[3]（1996）在《亚表面齐纳基准二极管可靠性的1／f噪声预测方法》一文中研究指出寿命试验和噪声测试结果表明，亚表面齐纳基准二极管的主要失效模式是经历长时间应力作用后基准电压的突然退化，同时发现失效器件皆为高初始１／ｆ噪声器件，而且其寿命与初始１／ｆ噪声电压近似成反比关系．机理分析表明，１／ｆ噪声和基准电压退化均可归因于ｐ－ｎ结耗尽区内的位错．据此，可利用１／ｆ噪声测量对基准二极管的可靠性进行快速且非破坏性的评价．(本文来源于《半导体学报》期刊1996年08期）
顾晓红,陈志坚[4]（1982）在《温度补偿基准二极管的特性分析与测量》一文中研究指出本文通过分析TCZD的内外特性,导出了电压随温度变化的定量关系式和零温度系数工作电流的计算公式;在此基础上,提出了一种简单而准确的测量方法;指出精选该器件的原则;并给出了上述结果和方法的实验验证。(本文来源于《山东大学学报(自然科学版)》期刊1982年01期）
基准二极管论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
本文介绍了２ＤＷ_（２３２－２３６）~（１４－１８）型硅电压基准二极管的研制过程及研制结果。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
基准二极管论文参考文献
[1].张苑.基准二极管低频噪声测试系统设计及其可靠性筛选方法研究[D].吉林大学.2009
[2].宋传立,卫东,马瑞芬.2DW_(232-236)~(14-18)型硅电压基准二极管的研制[J].山东电子.2000
[3].庄奕琪,孙青.亚表面齐纳基准二极管可靠性的1／f噪声预测方法[J].半导体学报.1996
[4].顾晓红,陈志坚.温度补偿基准二极管的特性分析与测量[J].山东大学学报(自然科学版).1982