本文主要研究内容
作者张云,姜楠,王立平（2019）在《基于Wiener过程的数控转台极小子样可靠性分析》一文中研究指出：针对数控转台性能退化过程较为缓慢且存在波动的特点,采用Wiener过程进行数学建模,利用极大似然法结合试验数据分析模型中各未知参数的特点。根据分析结果将模型中的漂移系数和扩散系数设为恒定值,假设性能退化初值服从正态分布,得出数控转台的相关可靠性函数,并与基于伪寿命分布法得出的结果进行比较。结果表明:基于Wiener过程得出的结果较基于伪寿命分布法得出的结果更加符合实际情况。
Abstract
zhen dui shu kong zhuai tai xing neng tui hua guo cheng jiao wei huan man ju cun zai bo dong de te dian ,cai yong Wienerguo cheng jin hang shu xue jian mo ,li yong ji da shi ran fa jie ge shi yan shu ju fen xi mo xing zhong ge wei zhi can shu de te dian 。gen ju fen xi jie guo jiang mo xing zhong de piao yi ji shu he kuo san ji shu she wei heng ding zhi ,jia she xing neng tui hua chu zhi fu cong zheng tai fen bu ,de chu shu kong zhuai tai de xiang guan ke kao xing han shu ,bing yu ji yu wei shou ming fen bu fa de chu de jie guo jin hang bi jiao 。jie guo biao ming :ji yu Wienerguo cheng de chu de jie guo jiao ji yu wei shou ming fen bu fa de chu de jie guo geng jia fu ge shi ji qing kuang 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自清华大学学报(自然科学版)的张云,姜楠,王立平，发表于刊物清华大学学报(自然科学版)2019年02期论文，是一篇关于数控转台论文,过程论文,极大似然估计论文,可靠性估计论文,清华大学学报(自然科学版)2019年02期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自清华大学学报(自然科学版)2019年02期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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