导读:本文包含了存储器验证论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:参数化,向量存储器,UVM,验证平台
存储器验证论文文献综述
侯林涛,陈海燕,李明,陈俊杰[1]（2019）在《一种面向片上向量存储器的UVM验证平台》一文中研究指出随着嵌入式微处理器的不断发展,片上存储器的设计复杂度日趋增长,传统的功能验证方法面临着验证效率低、完备性、可重用性等各方面挑战。论文针对自主设计的FT_M系列高性能DSP片上向量存储器设计需求,基于UVM验证方法学,采用层次化建模方式搭建参数化的UVM验证平台,利用定向激励与带约束的随机激励相结合的方式测试不同访存模式下的正确性;提高了验证的验证效率和验证平台的可重用性。(本文来源于《计算机与数字工程》期刊2019年11期）
罗军,范剑峰,吕宏峰,王小强,罗宏伟[2]（2018）在《基于FPGA的块存储器资源功能验证及实现》一文中研究指出可编程逻辑阵列由于具备片内资源丰富、灵活、可重构等特点在数字信号处理、硬件加速及芯片原型验证中具有广泛的应用。块存储器作为可编程逻辑阵列中的重要片内资源,具备高速及大容量的特点。为了解决高速块存储资源功能验证时序约束要求高等不足,设计了采用跨时钟域的高速块存储器资源功能验证方法,并基于可编程逻辑阵列进行了功能仿真验证。实验结果表明,该方法能够满足640 MHz的高速块存储器资源验证需求,并且具备模块化的特点,能够方便地对大容量块存储器资源进行测试验证。(本文来源于《电子技术应用》期刊2018年09期）
[3]（2018）在《是德科技推出DDR5和LPDDR5存储器协议调试和验证解决方案》一文中研究指出助力企业服务器、移动设备和无线设备设计人员加速数字创新,为5G用例提供有力支持2018年6月12日,北京——是德科技(NYSE:KEYS)宣布推出DDR51和LPDDR52协议调试和验证解决方案。作为一家领先的技术公司,是德科技帮助企业、服务提供商和政府加速创新,创造一个安全互联的世界。这些解决方案与Keysight U4164A逻辑分析仪搭配使用,将使企业服务器、移动设备和无线设备的设计人员能够调试和测试DDR5和(本文来源于《电子测量技术》期刊2018年12期）
彭楠[4]（2018）在《基于UVM的Flash存储器功能验证》一文中研究指出近年来,随着集成电路产业的迅猛发展,集成电路的运算能力得到大幅度提升,集成电路的规模和复杂程度也在不断提高。验证工作,作为芯片设计中重要的一环,贯穿于整个芯片设计流程,已经逐步成为制约集成电路发展的瓶颈。高效的验证不但能够确保设计的功能正常,还可以提高整个设计的效率,缩减芯片的上市时间,创收效益。为了构建一种能够被广大厂商和验证人员接受的、更快更好的验证方法学,提高验证的自动化能力,提高验证平台的可重用性、灵活性、易交互性,对日益繁杂的DUT进行全面的功能验证。本文从提升验证环境效率、可靠性和可读性的角度出发,结合实习公司自身的项目,使用主流的验证方法学,自主搭建完成验证平台完成对DUT的验证,并根据仿真的结果对验证环境进行了优化。本文研究的主要内容是基于UVM方法学的功能验证。论文首先分析了关于验证方法学的研究背景、研究目的与意义以及国内外的研究现状,说明了验证的重要性。接着总结了当前主流的功能验证技术,提到了一些当前实用的验证方法,包括使用受约束的随机测试用例代替定向测试用例;使用基于功能覆盖率的验证方法,对测试用例进行度量;使用基于System Verilog的UVM方法学,提升验证平台的质量和效率;使用断言验证等。本文在完成测试平台搭建时,严格按照项目处理的一般流程进行。先是对DUT的功能行为进行总结,并根据提供的DUT特性列表,建立验证计划。然后根据验证计划,完成验证平台主要架构的搭建和自检,并结合自检的仿真结果对验证平台进行debug和优化。在生成测试用例时,秉承着将DUT简单功能与复杂功能分割处理的原则,先完成简单的功能测试行为,再组合完成复杂的测试行为。其次本文还使用了少量断言完成了对DUT模拟电路部分的功能测试,提高了整个验证平台完备性和可靠性。最后,论文还对测试用例的覆盖率信息进行了收集,通过观测覆盖率从而完成了对测试用例的度量,并以覆盖率信息作为反馈对测试用例进行了调试,使测试用量尽可能的完备。同时在随机测试不能完全覆盖时,增加额外的定向测试用例,使功能覆盖率进一步得到了完善,获得了100%的功能覆盖率,完成验证工作的同时保证了它的高质量。(本文来源于《西安电子科技大学》期刊2018-06-01）
刘银萍,谢俊玲,谷羽,宗宇,赵微[5]（2017）在《基于FPGA的固态存储器信号处理单元设计与验证》一文中研究指出本文介绍了一种基于FPGA的固态存储器信号处理单元的设计与验证。系统以8051核为控制,通过接收到的系统命令和模式指示,采集、编码、存储和传输来自各传感器的遥测信号,切换工作模式,和提供控制接口。完善的状态机设计和验证保证了系统能正确的切换各种工作模式和处理传感器数据,为宇航级信号处理应用提供了安全可靠的产品。(本文来源于《航天电子军民融合论坛暨第十四届学术交流会优秀论文集（2017年）》期刊2017-12-05）
龚其海[6]（2016）在《基于墨盒控制芯片的存储器设计及FPGA验证》一文中研究指出打印机、复印机、绘图设备在当今办公自动化、工程绘图、金融台帐等各个方面扮演着重要的角色。而不少打印机厂家却对打印机使用的墨盒和墨水,采用基于ASIC技术的墨盒控制IC形成技术上的壁垒,从而实现对墨盒的垄断销售。为了破除打印机厂家利用墨盒控制IC对墨盒实行的垄断,本课题进行了墨盒控制IC的研发,本文从墨盒控制IC的内部存储器设计这一角度介绍了这一研发过程。由于墨盒控制IC的更新换代速度很快,所以本课题采用了FPGA技术对设计的墨盒控制IC进行了验证以加快产品上市的速度。验证过程作为IC设计中的一个重要环节,本文对此进行了详细的介绍。本文的主要工作如下:1、从存储器的分类出发,对EEPROM、FLASH、SRAM、FRAM等存储器进行简要介绍,然后重点分析了电可擦除存储器的擦/写工作原理。在IC应用设计中,存储器一般都是采用第叁方提供的IP,所以本文对IP技术进行了介绍。2、在将IP嵌入到设计中之前,需要配置相应的数字外围电路和关键的模拟电路。本文设计了这两个部分的电路并进行了仿真验证。3、墨盒控制IC内的存储器需要对墨盒与打印的通信数据进行实时存储,打印机厂家设计的墨盒控制IC采用的是FRAM存储器作为其存储结构,而FRAM在国内还不能工业化生产,同时国外的工艺商对FRAM的制作工艺技术进行了严格的保密,因此制作FRAM必须要到国外去,其生产成本也很高。为了完成墨盒控制IC对实时数据的存储,同时降低生产成本,本文详细介绍了采用第叁方提供的FLASH存储器IP与SRAM存储器组合,实现对墨盒控制IC内FRAM存储结构的替换,实现实时存储。4、为了加速产品的上市,本文使用Xilinx的FPGA对墨盒控制IC设计进行了验证工作。墨盒控制IC是基于ASIC的方法设计的,在进行FPGA的验证前需要将ASIC模块转换成FPGA模块,因此本文对这个转换过程也做了详细介绍。为需要进行同类转换工作的人员提供了一定的借鉴价值。本文采用FLASH与SRAM的组合实现了对原装墨盒FRAM存储结构的替换,并设计了墨盒存储器的外围电路,采用FPGA对墨盒控制芯片完成了验证工作。完成了本课题的设计任务,初步达到了墨盒控制芯片的设计要求。(本文来源于《电子科技大学》期刊2016-03-18）
李鹏[7]（2015）在《高速大容量存储器的控制器设计与验证》一文中研究指出现如今,处理器技术的发展日新月异,其对高速大容量存储器性能的要求也越发的严苛。而在各类常用的随机存储器件中,尤以DDR3存储器的使用最为广泛。DDR3存储器具有速率高、容量大、售价低廉等多种优势。由于存储器无法对处理器的访存命令做出直接的应答,且操作起来逻辑十分复杂,对读写时序的要求也尤其严格,因而设计出一款效能良好的存储器控制器将是该领域今后很长一段时间努力的重点。另外,近些年FPGA整体性能的提升也越发的迅猛。新一代的FPGA已经能够提供更多的逻辑资源、更快的运算速度和更丰富的存储器接口解决方案。因此,选用FPGA来辅助进行存储器控制器的设计受到越来越多开发人员的青睐。本文以DDR3高速大容量存储器为研究对象,结合存储器的国内外发展现状,对DDR3存储芯片的特性及使用原理进行了深入细致地分析。最终,设计出一款以Altera公司Stratix Ⅳ系列FPGA为开发平台的DDR3控制器,完成了与新型UniPHY物理接口的集成。之后搭建了相应的测试平台,通过相关软件完成了控制器的仿真测试及FPGA验证工作。测试的结果与预期相符,验证了控制器设计的正确性。具体完成的工作如下:(1)从DDR3存储器的内部结构及工作机理出发,对存储器的读写控制时序进行了详细的分析;(2)系统地规划了DDR3控制器的整体架构,对控制器内部每个子系统的功能、设计思路及实现方式进行了细致的描述;(3)对新型UniPHY物理IP核的内部结构进行了深入的研究,完成了UniPHY物理接口的设计;(4)搭建了软硬件测试平台,采用Modelsim和Quartus Ⅱ 12.1软件对DDR3控制器的数据读写功能进行了系统的测试及验证工作,切实保证了控制器的实际应用价值和良好的稳定性。(本文来源于《西安电子科技大学》期刊2015-12-01）
肖爱斌,王斐尧,王文炎,隽扬,张雷浩[8]（2015）在《宇航用静态随机存储器验证方法研究与应用》一文中研究指出在研究静态随机存储器故障模型以及常用功能验证方法的基础上,提出采用March SOF算法结合故障注入的EDAC测试程序作为宇航用带EDAC功能SRAM存储器的验证方法。该方法将March SOF算法扩展为32位字定向算法,同时增加数据保持故障以及EDAC功能的测试,可以对宇航用SRAM进行全方位功能验证。采用实际电路,对该方法进行实现和验证,验证结果表明了方法的可行性和有效性。(本文来源于《电子与封装》期刊2015年05期）
徐沛文[9]（2015）在《32位高性能DSP SIMD向量存储器的设计和验证》一文中研究指出DSP(Digital Signal Processor,DSP)是数字信号处理系统的核心与引擎。随着集成电路工艺的发展以及芯片设计技术的不断进步,DSP的主频越来越高,其中央处理单元计算能力的增长远远超过了存储器的性能增长,日益加剧的“存储墙”问题严重制约着处理器性能的提升。如何开发更高层次的并行性进一步提升微处理器性能成为高性能DSP设计面临的挑战。无线通信、图像、视频等媒体处理嵌入式应用具有大量的数据级并行(DLP),采用SIMD(Single Instruction stream Multiple Data streams)结构开发其数据级并行已经成为当前高性能DSP体系结构发展的重要方向。如何为多宽度SIMD DSP中的多个运算单元提供连续的高带宽SIMD并行访存数据,设计一个并行访存冲突少、硬件开销小的高效向量存储器(Vector Memory,VM)成为设计中的重要问题。M-DSP是我校自主研制的一款32位高性能多核DSP,具有自主设计的指令集结构,主要应用于通信技术、图像处理等嵌入式系统。M-DSP的内核采用11发射的超长指令字结构,包含16个完全同构的向量处理单元(Vector Process Element,VPE)。本文针对其访存需求设计实现了片上大容量SIMD结构向量存储器,实现了高带宽、低冲突率的向量访存指令和DMA的并行访存操作。本文的主要工作和创新点如下:1、针对典型的应用和算法进行分析,并在此基础上优化了VM的地址译码过程,使其支持非对齐访问;设计了一套支持多种寻址模式和访存粒度的向量访存指令,其中包含专门用于加速FFT算法的混洗访存指令。2、设计并实现了两条向量指令访存流水线和DMA访存流水线,使向量存储器支持两路SIMD非对齐向量访存指令、DMA读和DMA写共四路请求并行访问。3、设计了专用的向量长度寄存器,程序员可以通过配置该寄存器将不参与计算的VPE禁止,提供向量长度可变的SIMD访存支持。4、设计了专用DMA写接口,该接口包含8个相互独立的写通道,一次DMA访问中的每个通道都可以访问相应地址范围内的任意地址。另外,专门设计了3条向量Store指令,通过配置VM内部的寄存器副本控制DMA的配置寄存器,帮助程序员快速配置DMA。5、使用某厂家40nm工艺库对向量存储器进行综合,并采用典型的时序优化技巧对报告中的时序违反路径进行分析和优化,使向量存储器达到1GHz主频;对向量存储器的面积组成进行分析,并找到面积最佳的存储体组成方案。6、基于SystemVerilog搭建了层次化的VM验证平台,在较高抽象层次上对VM进行了模块级验证,在保证功能验证完备性、正确性的前提下提高了验证效率;在M-DSP单核环境中完成了VM的系统级验证,验证结果正确,代码覆盖率接近100%。(本文来源于《国防科学技术大学》期刊2015-03-01）
王倩,陈后鹏,张怡云,金荣,许伟义[10]（2015）在《小容量相变存储器芯片版图设计与验证分析》一文中研究指出设计了基于1T1R结构的16kb相变存储器(PCRAM)芯片及其版图。芯片包括存储阵列、外围读写控制电路、纠错电路(ECC)、静电防护电路(ESD)。版图上对纳米存储单元(1R)与CMOS工艺的融合作了优化处理,给出了提高存储单元操作电流热效率的具体方法。1R位于顶层金属(TM)和二层金属(TM-1)之间,包含存储材料以及上下电极,需要在传统CMOS工艺基础上添加掩膜版。读出放大器采用全对称的差分拓扑结构,大大提升了抗干扰能力、灵敏精度以及读出速度。针对模块布局、电源分配、二级效应等问题,给出了版图解决方案。采用中芯国际130nm CMOS工艺流片,测试结果显示芯片成品率(bit yield)可达99.7%。(本文来源于《微电子学》期刊2015年01期）
存储器验证论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
可编程逻辑阵列由于具备片内资源丰富、灵活、可重构等特点在数字信号处理、硬件加速及芯片原型验证中具有广泛的应用。块存储器作为可编程逻辑阵列中的重要片内资源,具备高速及大容量的特点。为了解决高速块存储资源功能验证时序约束要求高等不足,设计了采用跨时钟域的高速块存储器资源功能验证方法,并基于可编程逻辑阵列进行了功能仿真验证。实验结果表明,该方法能够满足640 MHz的高速块存储器资源验证需求,并且具备模块化的特点,能够方便地对大容量块存储器资源进行测试验证。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
存储器验证论文参考文献
[1].侯林涛,陈海燕,李明,陈俊杰.一种面向片上向量存储器的UVM验证平台[J].计算机与数字工程.2019
[2].罗军,范剑峰,吕宏峰,王小强,罗宏伟.基于FPGA的块存储器资源功能验证及实现[J].电子技术应用.2018
[3]..是德科技推出DDR5和LPDDR5存储器协议调试和验证解决方案[J].电子测量技术.2018
[4].彭楠.基于UVM的Flash存储器功能验证[D].西安电子科技大学.2018
[5].刘银萍,谢俊玲,谷羽,宗宇,赵微.基于FPGA的固态存储器信号处理单元设计与验证[C].航天电子军民融合论坛暨第十四届学术交流会优秀论文集（2017年）.2017
[6].龚其海.基于墨盒控制芯片的存储器设计及FPGA验证[D].电子科技大学.2016
[7].李鹏.高速大容量存储器的控制器设计与验证[D].西安电子科技大学.2015
[8].肖爱斌,王斐尧,王文炎,隽扬,张雷浩.宇航用静态随机存储器验证方法研究与应用[J].电子与封装.2015
[9].徐沛文.32位高性能DSPSIMD向量存储器的设计和验证[D].国防科学技术大学.2015
[10].王倩,陈后鹏,张怡云,金荣,许伟义.小容量相变存储器芯片版图设计与验证分析[J].微电子学.2015