魏然:CNAS的电工电子产品低温试验能力验证比对试验解析论文

魏然:CNAS的电工电子产品低温试验能力验证比对试验解析论文

本文主要研究内容

作者魏然,夏丽娇,李娟(2019)在《CNAS的电工电子产品低温试验能力验证比对试验解析》一文中研究指出:以电子电工领域低温试验为例,对相关实验室进行了检测能力的考察,分析了比对数据,使相关实验室进一步了解自身的检测能力、整个行业的检测水平以及所处的行业位置。

Abstract

yi dian zi dian gong ling yu di wen shi yan wei li ,dui xiang guan shi yan shi jin hang le jian ce neng li de kao cha ,fen xi le bi dui shu ju ,shi xiang guan shi yan shi jin yi bu le jie zi shen de jian ce neng li 、zheng ge hang ye de jian ce shui ping yi ji suo chu de hang ye wei zhi 。

论文参考文献

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  • 论文详细介绍

    论文作者分别是来自信息通信技术与政策的魏然,夏丽娇,李娟,发表于刊物信息通信技术与政策2019年03期论文,是一篇关于中国实验室国家认可委员会论文,低温试验论文,比对试验论文,信息通信技术与政策2019年03期论文的文章。本文可供学术参考使用,各位学者可以免费参考阅读下载,文章观点不代表本站观点,资料来自信息通信技术与政策2019年03期论文网站,若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权,请联系我们删除。

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