导读:本文包含了存储器诊断论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:存储器,测试算法,诊断覆盖率
存储器诊断论文文献综述
陈金鸿,谢亚莲[1]（2014）在《存储器测试算法及诊断覆盖率研究》一文中研究指出随着微电子技术的快速进步,半导体集成电路高速发展,新的存储器测试技术也不断更新。文章描述了存储器的经典测试算法运算过程,并分析了其原理。在研究经典测试算法的基础上,吸收经典算法的思想,比较各种不同算法的优缺点,改进测试算法,以便在实际检测中能够减少测试所需要的时间,提高故障诊断覆盖率,达到比较满意的测试效果。(本文来源于《企业技术开发》期刊2014年12期）
Wu,Yang,Ruifeng,Guo[2]（2013）在《生产测试中存储器BIST诊断的高效故障数据收集》一文中研究指出嵌入式存储器测试一般是通过存储器BIST(Built-in Self Test,内建自测)进行的。生产过程中,人们不仅要知道存储器是合格的或是不合格的,而且要知道哪一个存储器不合格,故障位及其行/列。一种流行的诊断方法能帮助实现这个目的,这个方法称为出错-停止(SOE)。基于特性测定和调试包(CDP)的BIST SOE诊断已在EDA软件和ATE(自动测试设备)平台间提供了标准界面。诊断算法和诊断相关的设计信息能与ATE的主机软件互动,并相应地传送到ATE硬件。这个方法已经缓解了运行的诊断对ATE专门平台的依赖性。案例研究显示,这一流程有助于用户界面的开发和现有诊断方法性能的提高。(本文来源于《功能材料与器件学报》期刊2013年06期）
罗云林,程晓鹏[3]（2012）在《TCAS视频存储器板卡故障诊断系统研究》一文中研究指出TCAS是保障飞机飞行安全的重要机载电子设备,然而国内对TCAS系统板卡只能进行板卡级的测试,不能进行元件级的维修和测试。以TCAS系统中的视频存储器板为例,根据板卡电路特点及适航要求提出一种改进后的基于故障树分析的元件级故障诊断新方法,该方法通过对待测板卡提供外围激励信号、编写程控控制命令、故障树分析和编写输出结果优化程序等对待测板卡进行故障检测与定位,该系统通过调试与运行证明效果良好,并由实验数据得出故障检测精度大大提高,为国内自主研发元件级自动检测设备和机载电子板卡的深度维修提供了可靠的理论依据。(本文来源于《控制工程》期刊2012年01期）
王莉,黄洪,刘海青[4]（2011）在《基于March算法的叁态内容寻址存储器的故障诊断及实现》一文中研究指出介绍了叁态内容寻址存储器的硬件组成,分析了叁态内容寻址存储器的工作原理,结合March算法的理论设计了叁态内容寻址存储器故障诊断的方法,并介绍了故障检测的流程,在VxWorks的操作系统下以Tornado为开发平台实现了叁态内容寻址存储器的故障诊断功能,最后给出了实验结果。实际应用表明结果可靠性能高能满足用户的需求。(本文来源于《成都信息工程学院学报》期刊2011年01期）
刘炎华,景为平[5]（2006）在《存储器故障诊断算法的研究与实现》一文中研究指出集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战。文中从存储器的故障模型入手,着重描述了存储器常见的诊断算法。诊断算法和诊断策略要在诊断时间、故障覆盖率、面积开支之间进行权衡。因此要根据存储器的故障类型和测试需求来选择合适的诊断算法,才能达到比较满意的效果。(本文来源于《电子与封装》期刊2006年12期）
王晓琴,黑勇,吴斌,乔树山[6]（2005）在《嵌入式存储器MBIST设计中内建自诊断功能研究》一文中研究指出针对大规模嵌入式存储器可测性设计技术——存储器内建自测试(MBIST)中的故障诊断问题,介绍了MBIST设计的扩展功能——存储器内建自诊断(MBISD)。在引入存储器内建自测试的基础上,详细分析了存储器内建自诊断模块根据输出故障信息自动分析器件失效原因、并对失效单元进行故障定位和识别的基本原理及其中的关键算法,并用一块SRAM的MBIST设计(采用Mentor公司的MBISTArchitect完成)中的MBISD具体实例进行了仿真验证。存储器内建自诊断的应用,大大提高了存储器的成品率。(本文来源于《电子器件》期刊2005年04期）
郝延红,王家礼,方葛丰[7]（2005）在《存储器故障诊断算法的研究与改进》一文中研究指出由于存储器的结构比较复杂,应用又十分广泛,所以一直是国内外测试领域重点研究的课题之一。在研究经典的存储器故障诊断算法的基础上,吸取经典算法的思想,并结合实际需要,提出了一种基于地址移位的存储器故障诊断方法。他克服了以往算法占用计算机存储空间大、诊断耗时长的缺点,简单易行。实践证明,他的故障覆盖率完全满足要求。(本文来源于《现代电子技术》期刊2005年10期）
范东华[8]（2001）在《利用BIST技术测试并诊断嵌入式存储器》一文中研究指出目前,绝大多数集成电路(IC)都设计有嵌入式存储器,IC的复杂化要求对它进行比传统的合格/不合格更深入一步的测试。随着IC几何尺寸日益浓缩,在制作工艺中应实现诊断测试和内置自修复(BISR)等新技术。在片上系统中,嵌入式存储器是最密集的器件,约占总面积的90％;它也是对工艺中的缺陷最敏感的器件,在片上系统内对它进行充分的测试是十分必要的。(本文来源于《世界产品与技术》期刊2001年01期）
杨宗正[9]（2000）在《简易诊断技术用于设备中CPU及内存储器等电路的调试和维修》一文中研究指出笔者把诊断技术应用于设备中CPU及内存储器等电路,探索出经济的调整方法,只用普通万用电表、常用的双踪脉冲示波器和EPROM写入器。在实际调试中证明了这方法是正确和有效的,本文是以具体芯片为例叙述,但调试方法有共性,对于以其它型号的CPU和内存储器等芯片联成的电路,可以类推使用。维修工作中要查找故障,也可以使用。(本文来源于《第十届全国设备监测与诊断技术学术会议论文集》期刊2000-05-01）
韩维明[10]（1997）在《基于知识的半导体存储器故障诊断系统》一文中研究指出目前，半导体存储器(RAM)是应用范围最广、使用数量巨大的集成电路。随着电子设备的智能程度的提高和计算机通讯的飞速发展，促使半导体存储器在品种、读写周期和容量上都发生了很大变化。为了确保半导体存储器的质量和研制开发符合系统的设计要求，在集成电路研制、生产和应用等各个阶段都要进行反复多次的检验和测试，并且需要对存储器的故障进行诊断，以便对产品进行改进。 《GH3163半导体存储器故障测试系统》是国家“八·五”重点科技攻关项目，已于1995年12月通过了国家技术鉴定。作者参加了该项任务，主持了测试系统软件设计开发和部分硬件的研制工作，并以此为基础设计实现了基于知识的《KBSM_Diag半导体存储器诊断系统》，对半导体存储器的故障进行了实验性诊断。 本文简要地介绍了存储器测试系统的硬件的结构和新一代的面向对象的编程方法对测试系统的设计与实现。由Derek Colreman等提出的合成方法的面向对象编程技术发展了OMT／Rumbaugh，Booch，CRC和Objectory的最好的特性，并对面向对象的分析、设计和实现，提供了更直接的途径。半导体存储器测试系统采用了新一代面向对象的技术-合成方法，使得测试系统的软件技术更实用和效率更高。 本文经过对半导体存储器的结构和故障分析，着重地给出了测试算法故障覆盖几率的定义，对测试算法的评价提供了一个科学的方法；并且采取了新的分析方法，对几种常用的测试算法的测试能力进行了分析，为以后新的测试算法的实现提供了一个新的思路；同时，测试算法故障覆盖几(本文来源于《中国科学院研究生院（计算技术研究所）》期刊1997-05-01）
存储器诊断论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
嵌入式存储器测试一般是通过存储器BIST(Built-in Self Test,内建自测)进行的。生产过程中,人们不仅要知道存储器是合格的或是不合格的,而且要知道哪一个存储器不合格,故障位及其行/列。一种流行的诊断方法能帮助实现这个目的,这个方法称为出错-停止(SOE)。基于特性测定和调试包(CDP)的BIST SOE诊断已在EDA软件和ATE(自动测试设备)平台间提供了标准界面。诊断算法和诊断相关的设计信息能与ATE的主机软件互动,并相应地传送到ATE硬件。这个方法已经缓解了运行的诊断对ATE专门平台的依赖性。案例研究显示,这一流程有助于用户界面的开发和现有诊断方法性能的提高。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
存储器诊断论文参考文献
[1].陈金鸿,谢亚莲.存储器测试算法及诊断覆盖率研究[J].企业技术开发.2014
[2].Wu,Yang,Ruifeng,Guo.生产测试中存储器BIST诊断的高效故障数据收集[J].功能材料与器件学报.2013
[3].罗云林,程晓鹏.TCAS视频存储器板卡故障诊断系统研究[J].控制工程.2012
[4].王莉,黄洪,刘海青.基于March算法的叁态内容寻址存储器的故障诊断及实现[J].成都信息工程学院学报.2011
[5].刘炎华,景为平.存储器故障诊断算法的研究与实现[J].电子与封装.2006
[6].王晓琴,黑勇,吴斌,乔树山.嵌入式存储器MBIST设计中内建自诊断功能研究[J].电子器件.2005
[7].郝延红,王家礼,方葛丰.存储器故障诊断算法的研究与改进[J].现代电子技术.2005
[8].范东华.利用BIST技术测试并诊断嵌入式存储器[J].世界产品与技术.2001
[9].杨宗正.简易诊断技术用于设备中CPU及内存储器等电路的调试和维修[C].第十届全国设备监测与诊断技术学术会议论文集.2000
[10].韩维明.基于知识的半导体存储器故障诊断系统[D].中国科学院研究生院（计算技术研究所）.1997