本文主要研究内容
作者吴兆希,韩晓东,朱恒静,白璐（2019）在《基于阿雷尼乌斯模型开展的加速寿命试验激活能研究》一文中研究指出：目前"长寿命"已成为航空航天产品的通用要求,而整个系统的长寿命很大程度上取决于电子产品的寿命,Arrhenius模型是使用最为广泛的用于预计电子产品寿命的加速寿命试验方法之一。而在使用Arrhenius模型时,激活能一般都参照美军标中的参考值取0.5～0.7eV,该数值表征产品的失效机理。本文基于国内90年代建成的某模拟集成电路生产线生产的一款运算放大器,通过多组试验数据,拟合计算其激活能Ea,并用相同试验方法拟合出基于同一生产线的AD转换器、驱动器的激活能Ea,通过对比得出激活能Ea与哪些因素相关。
Abstract
mu qian "chang shou ming "yi cheng wei hang kong hang tian chan pin de tong yong yao qiu ,er zheng ge ji tong de chang shou ming hen da cheng du shang qu jue yu dian zi chan pin de shou ming ,Arrheniusmo xing shi shi yong zui wei an fan de yong yu yu ji dian zi chan pin shou ming de jia su shou ming shi yan fang fa zhi yi 。er zai shi yong Arrheniusmo xing shi ,ji huo neng yi ban dou can zhao mei jun biao zhong de can kao zhi qu 0.5～0.7eV,gai shu zhi biao zheng chan pin de shi xiao ji li 。ben wen ji yu guo nei 90nian dai jian cheng de mou mo ni ji cheng dian lu sheng chan xian sheng chan de yi kuan yun suan fang da qi ,tong guo duo zu shi yan shu ju ,ni ge ji suan ji ji huo neng Ea,bing yong xiang tong shi yan fang fa ni ge chu ji yu tong yi sheng chan xian de ADzhuai huan qi 、qu dong qi de ji huo neng Ea,tong guo dui bi de chu ji huo neng Eayu na xie yin su xiang guan 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自环境技术的吴兆希,韩晓东,朱恒静,白璐，发表于刊物环境技术2019年01期论文，是一篇关于模拟集成电路论文,阿雷尼乌斯模型论文,激活能论文,环境技术2019年01期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自环境技术2019年01期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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