导读:本文包含了失效激活能论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:激活能,加速寿命试验,快速评价
失效激活能论文文献综述
郭春生,谢雪松,马卫东,李志国,程尧海[1]（2006）在《快速评价半导体器件失效激活能的方法》一文中研究指出通过对序进应力加速寿命试验的研究,提出了一种快速评价半导体器件失效激活能的方法,建立了计算失效激活能的理论模型。并对硅pnp叁极管3CG120进行额定功率下,170-345℃范围内的序进应力加速寿命试验,快速提取器件失效敏感参数hFE与所施加应力的关系,根据模型对器件退化过程中的失效机理进行研究、计算,从而确定其对应的失效激活能。(本文来源于《半导体技术》期刊2006年02期）
郭春生,李志国,吴月花,程尧海,廖京宁[2]（2005）在《微电子器件失效激活能的快速评价方法》一文中研究指出通过对序进应力加速寿命试验的研究,提出了一种快速评价微电子器件失效激活能的方法,建立了计算失效激活能的理论模型。并对硅PNP叁极管3CG120进行额定功率下,170℃-345℃范围内的序进应力加速寿命试验,快速提取器件失效敏感参数hR与所施加应力的关系,根据模型对器件退化过程中的失效机理进行研究、计算,从而确定其对应的失效激活能。(本文来源于《第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集》期刊2005-10-01）
李杰,郭春生,莫郁薇,谢雪松,程尧海[3]（2005）在《快速确定微电子器件失效激活能及寿命试验的新方法》一文中研究指出提出了一种新的微电子器件快速评价方法-温度斜坡法,建立了确定失效激活能的新模型和寿命外推新模型,使用此模型可计算出单支器件的失效激活能并外推其寿命.同时,该方法的试验温度范围较宽,可以触发不同温度范围的多种退化模式,实现对不同退化机理的研究.(本文来源于《半导体学报》期刊2005年08期）
失效激活能论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
通过对序进应力加速寿命试验的研究,提出了一种快速评价微电子器件失效激活能的方法,建立了计算失效激活能的理论模型。并对硅PNP叁极管3CG120进行额定功率下,170℃-345℃范围内的序进应力加速寿命试验,快速提取器件失效敏感参数hR与所施加应力的关系,根据模型对器件退化过程中的失效机理进行研究、计算,从而确定其对应的失效激活能。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
失效激活能论文参考文献
[1].郭春生,谢雪松,马卫东,李志国,程尧海.快速评价半导体器件失效激活能的方法[J].半导体技术.2006
[2].郭春生,李志国,吴月花,程尧海,廖京宁.微电子器件失效激活能的快速评价方法[C].第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集.2005
[3].李杰,郭春生,莫郁薇,谢雪松,程尧海.快速确定微电子器件失效激活能及寿命试验的新方法[J].半导体学报.2005