导读:本文包含了测试壳论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:IEEE,1500标准,SoC测试,测试壳,自动生成
测试壳论文文献综述
冯燕,陈岚,王东,赵新超,彭智聪[1]（2016）在《基于IEEE 1500标准的IP核测试壳的设计与验证》一文中研究指出IEEE 1500标准对测试壳行为和芯核测试语言进行规定,可有效解决嵌入式IP核测试复用的问题.研究了IEEE 1500标准的测试机制,以ISCAS’89Benchmark S349电路为例,详细设计了符合IEEE 1500标准的测试壳,并对测试壳的全部测试模式进行验证.结果表明,测试壳电路在所有指令下正确有效.实现了测试壳自动生成工具,经Benchmark电路验证,工具能正确生成符合IEEE 1500标准的测试壳电路.(本文来源于《微电子学与计算机》期刊2016年07期）
杨刚,颜学龙[2]（2015）在《IP测试壳的量子蚁群优化》一文中研究指出针对片上系统(SoC)的IP核扫描链分配问题,提出量子蚁群算法对SoC测试壳(Wrapper)进行优化,以有效地解决陷入局部最优解的问题,快速地寻找扫描链的最佳分配方式,从而缩短最长扫描链,减少单个IP核的测试时间.以ITC'02Test benchmarks中的典型IP核为实验对象,实验结果表明量子蚁群算法能有效快速地解决IP测试壳的优化问题.(本文来源于《微电子学与计算机》期刊2015年10期）
谈恩民,柴华,江志强[3]（2012）在《基于IEEE 1500标准的嵌入式存储器测试壳的研究》一文中研究指出超大规模集成电路和超深亚微米技术的快速发展,促使了系统芯片(System on Chip,SoC)的产生,同时在SoC中也集成了越来越多的嵌入式存储器,因此嵌入式存储器对SoC芯片的整体性能有非常重要的影响;文章针对SoC中的嵌入式存储器的可测试性设计展开研究;文章基于IEEE 1500标准针对DRAM和SRAM设计了具有兼容性的存储器的测试壳结构,并结合BIST控制器,在Quar-tusⅡ平台上,采用硬件描述语言对测试壳在不同测试指令下的有效性和灵活性进行验证,结果表明文章所设计的测试壳结构达到了预期的要求。(本文来源于《计算机测量与控制》期刊2012年10期）
乔立岩,向刚,俞洋,王帅[4]（2010）在《基于IEEE 1500标准的IP核测试壳设计》一文中研究指出随着集成电路规模的不断扩大,基于IP核复用的SOC设计技术被广泛应用,但是由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难。IEEE1500标准设立的目标是标准化IP核提供商与用户之间的测试接口,简化核测试信息的复用。本文在研究IEEE1500标准的硬件结构基础上,讨论了1500的测试指令集,然后以基准电路集ISCAS89中的s349时序电路为例,对其进行全扫描设计之后,详细说明了基于IEEE1500标准的IP核测试壳各部分的设计过程,最后通过仿真实验,验证了在不同测试指令和故障模式下,测试壳的有效性。(本文来源于《电子测量技术》期刊2010年07期）
崔小乐,程伟[5]（2009）在《SoC测试访问机制和测试壳的蚁群联合优化》一文中研究指出针对系统级芯片(SoC)测试壳优化和测试访问机制的测试总线划分问题,提出了基于蚁群算法的SoCWrapper/TAM联合优化方法.构造蚁群算法时首先进行IP核的测试壳优化,用于缩短最长扫描链长度,减少单个IP核的测试时间;在此基础上进行TAM结构的蚁群优化,通过算法迭代逼近测试总线的最优划分,从而缩短SoC测试时间.对ITC2002基准SoC电路进行实验的结果表明,该方法能有效地解决SoC测试优化问题.(本文来源于《计算机辅助设计与图形学学报》期刊2009年04期）
程伟,崔小乐[6]（2008）在《基于蚁群算法的SOC测试存取机制和测试壳联合优化》一文中研究指出针对系统级芯片(SoC)测试壳优化和测试访问机制的测试总线划分问题,提出了基于蚁群算法的SoC中Wrapper/TAM联合最优化方法,用于缩短最长扫描链长度,并减少SoC的测试时间。对ITC2002基准SoC电路进行测试优化实验,结果表明此算法能有效解决SoC测试优化问题,与算法设计目标较为符合。(本文来源于《第五届中国测试学术会议论文集》期刊2008-05-01）
王永生,曹贝,肖立伊[7]（2006）在《基于混合遗传算法的测试壳优化》一文中研究指出本文针对兼容于IEEE 1500标准的测试壳,提出了采用基于BFD(FFD)的混合遗传算法的测试壳优化方案。遗传算法是一种解决NP问题的有效方法,针对测试壳的结构特点, 构建新的混合遗传算法,解决测试壳优化问题。在利用较少的测试端口的情况下,最长测试壳扫描链长度得到普遍缩短;对于ITC’02基准电路d695和p93791电路,最大的缩短量可达2％。(本文来源于《第四届中国测试学术会议论文集》期刊2006-08-01）
丁颖,殷燕芬[8]（2005）在《基于IP核测试复用的内核测试壳单元的设计研究》一文中研究指出基于可复用的嵌入式IP核的系统级芯片SOC设计方法使IP核测试面临新的挑战,需要研究开发新的IP核复用测试方法和策略。结合IP核测试复用技术设计所面临的难点,本文在IEEE P1500传统内核测试壳单元电路结构基础上提出了一种将内核测试壳单元与BIST技术设计相结合的改进内核测试壳单元结构。实现了对内核测试壳单元的功能数据路径测试,并改善了内核测试壳单元扫描链“安全”移位,同时实现了允许共用同一条测试总线的不同IP核直接连接到测试总线上。(本文来源于《2005中国通信集成电路技术与应用研讨会论文集》期刊2005-09-01）
测试壳论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
针对片上系统(SoC)的IP核扫描链分配问题,提出量子蚁群算法对SoC测试壳(Wrapper)进行优化,以有效地解决陷入局部最优解的问题,快速地寻找扫描链的最佳分配方式,从而缩短最长扫描链,减少单个IP核的测试时间.以ITC'02Test benchmarks中的典型IP核为实验对象,实验结果表明量子蚁群算法能有效快速地解决IP测试壳的优化问题.
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
测试壳论文参考文献
[1].冯燕,陈岚,王东,赵新超,彭智聪.基于IEEE1500标准的IP核测试壳的设计与验证[J].微电子学与计算机.2016
[2].杨刚,颜学龙.IP测试壳的量子蚁群优化[J].微电子学与计算机.2015
[3].谈恩民,柴华,江志强.基于IEEE1500标准的嵌入式存储器测试壳的研究[J].计算机测量与控制.2012
[4].乔立岩,向刚,俞洋,王帅.基于IEEE1500标准的IP核测试壳设计[J].电子测量技术.2010
[5].崔小乐,程伟.SoC测试访问机制和测试壳的蚁群联合优化[J].计算机辅助设计与图形学学报.2009
[6].程伟,崔小乐.基于蚁群算法的SOC测试存取机制和测试壳联合优化[C].第五届中国测试学术会议论文集.2008
[7].王永生,曹贝,肖立伊.基于混合遗传算法的测试壳优化[C].第四届中国测试学术会议论文集.2006
[8].丁颖,殷燕芬.基于IP核测试复用的内核测试壳单元的设计研究[C].2005中国通信集成电路技术与应用研讨会论文集.2005