本文主要研究内容
作者陈志军,周芳,杨学印,王薇,胡彦平,张涛（2019）在《基于加速退化数据的某导电膜电阻贮存寿命预测方法》一文中研究指出：提出了一种基于加速退化数据的某导电膜电阻贮存寿命预测方法。首先对该导电膜电阻采用温度应力进行加速性能退化试验,试验中将该导电膜电阻的总阻值作为反映其性能的指标判据,在不同加速应力水平下得到在线测试和离线测试获取的加速性能退化数据;然后通过引入温度因数去除在线测试数据的温漂效应,再融合在线数据和离线数据进行退化轨迹模型参数辨识,获得该导电膜电阻在各加速应力水平下的伪寿命;然后结合经过修正的三参数温度加速模型评估得到该导电膜电阻在正常应力下的贮存寿命。最终以某导电膜电阻为例验证了所提方法的适用性和有效性。
Abstract
di chu le yi chong ji yu jia su tui hua shu ju de mou dao dian mo dian zu zhu cun shou ming yu ce fang fa 。shou xian dui gai dao dian mo dian zu cai yong wen du ying li jin hang jia su xing neng tui hua shi yan ,shi yan zhong jiang gai dao dian mo dian zu de zong zu zhi zuo wei fan ying ji xing neng de zhi biao pan ju ,zai bu tong jia su ying li shui ping xia de dao zai xian ce shi he li xian ce shi huo qu de jia su xing neng tui hua shu ju ;ran hou tong guo yin ru wen du yin shu qu chu zai xian ce shi shu ju de wen piao xiao ying ,zai rong ge zai xian shu ju he li xian shu ju jin hang tui hua gui ji mo xing can shu bian shi ,huo de gai dao dian mo dian zu zai ge jia su ying li shui ping xia de wei shou ming ;ran hou jie ge jing guo xiu zheng de san can shu wen du jia su mo xing ping gu de dao gai dao dian mo dian zu zai zheng chang ying li xia de zhu cun shou ming 。zui zhong yi mou dao dian mo dian zu wei li yan zheng le suo di fang fa de kuo yong xing he you xiao xing 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自空军工程大学学报(自然科学版)的陈志军,周芳,杨学印,王薇,胡彦平,张涛，发表于刊物空军工程大学学报(自然科学版)2019年04期论文，是一篇关于加速退化数据论文,贮存寿命论文,温漂效应论文,加速模型论文,空军工程大学学报(自然科学版)2019年04期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自空军工程大学学报(自然科学版)2019年04期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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