导读:本文包含了液晶盒厚论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:液晶显示器,柔性显示,光刻胶支柱,光刻技术
液晶盒厚论文文献综述
顾俊,常翔宇,许军[1]（2012）在《利用光刻胶支柱控制柔性液晶盒厚的方法》一文中研究指出液晶显示器凭借其低功耗、轻薄化等优点逐渐成为平板显示技术的主流.随着显示技术的不断进步和发展,柔性显示已经成为了平板显示发展的重要方向之一.对于柔性液晶显示器件的制备,如何稳定地控制液晶盒厚均匀性成为了一项重要课题.采用了光刻胶作为间隔支柱的材料,利用光刻技术制备均匀分布、图形可控的间隔支柱,控制柔性液晶盒的盒厚.并通过支柱形貌表征、盒厚均匀性的测量研究光刻胶支柱盒厚控制效果.(本文来源于《复旦学报(自然科学版)》期刊2012年06期）
陈洪财,张荣学,孙名伟[2]（2011）在《基于FPGA的液晶盒厚快速测量系统》一文中研究指出在复杂的液晶显示器制造工艺中,液晶盒厚及其测量对液晶滴入量起着关键作用,进而影响液晶显示器件的底色及响应速度等光电特性。从光干涉原理出发,以FPGA为核心芯片,利用倾角传感器、光电传感器等模组设计了液晶盒厚快速测量系统,通过实验验证,系统具有误差小,设备简单,操作快捷等特点,满足液晶盒厚在线自动测量的同时,相对标准差提高到0.02%以上,充分满足了液晶显示器件生产厂家进行盒厚过程监控和液晶量准确计算的需要。(本文来源于《电视技术》期刊2011年22期）
陈洪财,张荣学[3]（2011）在《基于图像识别的液晶盒厚在线测量系统》一文中研究指出从光干涉条纹图像的CCD获取出发,进行Canny算法优化处理,并以FPGA为核心芯片设计了液晶盒厚测量系统。实验结果表明,本系统具有误差小、设备简单、操作快捷等特点,在满足液晶盒厚在线自动测量的同时,相对标准差提高到0.02%以上,可以满足液晶显示器件生产厂家盒厚实时监控的需要。(本文来源于《液晶与显示》期刊2011年04期）
崔宏青,陈冬静,任娇燕,冯亚云,凌志华[4]（2009）在《快速测量扭曲向列相液晶盒盒厚》一文中研究指出提出了一种利用圆偏光仪测量扭曲向列相液晶盒盒厚的新方法,即:圆偏光仪组成为两端是一对起偏器和检偏器,中间放置一对四分之一波片.起偏器和检偏器平行或垂直放置,其中一个四分之一波片的快轴和起偏器透光轴成45°,另一个四分之一波片的快轴和起偏器透光轴成-45°.液晶盒样品直接插入到两四分之一波片中间,无需调整方向.不同于旋转液晶盒或偏振片寻找输出光强最大值或最小值的方法,圆偏光仪测量盒厚不需要旋转任何光学元件或液晶盒观测输出光强的变化,只需要观测检偏器在平行和垂直方向的两个强度值,能够实现快速测量,简洁而且有效.(本文来源于《光子学报》期刊2009年04期）
崔宏青,凌志华[5]（2008）在《傅里叶分析法求Stokes矢量测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角(英文)》一文中研究指出本文提出了一种测量扭曲向列相液晶盒盒厚与扭曲角的新方法,在液晶盒和检偏器之间放置四分之一波片,通过旋转此四分之一波片,测量各个调制点的光强,用傅里叶分析法计算线偏振光穿过液晶盒后的stokes矢量,从而求出液晶盒盒厚以及扭曲角。实验证明,用此方法测量盒厚比较小的液晶盒厚有较高测量精度。另外,此方法也可以应用到单偏振片反射式液晶盒盒厚和扭曲角的测量。(本文来源于《电子器件》期刊2008年01期）
陈冬静,崔宏青,冯亚云,任娇燕,凌志华[6]（2007）在《一种新的测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角的Stokes矢量法》一文中研究指出提出了一种新的测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角的Stokes矢量法。根据Jones矩阵推导出了Stokes矢量与液晶盒参数的关系,其原理是通过确定经过液晶盒之后偏振光的偏振特性来求解液晶盒盒厚和扭曲角。该方法在测量一个Stokes矢量时,在液晶盒后依次放两种波片,目的是改变经过液晶盒后的光的偏振态,再置一偏振分光棱镜分开水平Ip和垂直Is线偏振分量,测得两组光强,根据公式算得该Stokes矢量,从而求解液晶盒盒厚以及扭曲角。实验中我们用该方法测量了不同盒厚、扭曲角度的TN液晶盒。实验结果证明该方法可行,结果准确,并且可以测量盒厚较小的液晶盒。最后,我们理论分析了实验误差。(本文来源于《液晶与显示》期刊2007年06期）
杨玉成[7]（2007）在《液晶盒反射谱用于盒厚测量的研究》一文中研究指出在液晶显示屏的制造过程中,液晶盒的厚度和尺寸一般都要进行严格选择,以便使液晶层的厚度达到设计要求,保证液晶显示器所要求的特定显示模式的实现,例如,扭曲向列液晶显示模式(TN工作模式)、超扭曲液晶显示模式(STN工作模式)、电控双折射模式(ECB工作模式)等,从而能够实现正常的显示效果。具体来说,液晶盒厚度对液晶显示器性能的影响主要体现在以下两个方面:第一,为了获得高对比度、高亮度、高响应速度的显示效果,液晶显示器盒厚的精度必须控制在0.1μm以下,特别是彩色超扭曲向列相液晶显示器( CSTN- LCD),对盒厚的精度要求更高,一般必须控制在±0.05μm以下。第二,液晶显示器盒厚的均匀性对于其显示均匀性也有着至关重要的作用。如果盒厚不均匀,便会引起液晶显示器底色变化,造成颜色废品,特别是在彩色超扭曲向列相液晶显示器制造过程中,对液晶盒厚的均匀性要求更高,该技术的关键之一就是精确控制液晶盒的厚度。本文研究了一种新型的液晶盒厚度测试技术——反射光谱极大值优化拟合法。该技术实现了以白光作为前端光源照射液晶盒,通过测量液晶盒的反射光谱来获得盒厚的信息。在实验中,前端光纤光谱仪主要用于测试反射光谱,光纤光谱仪通过USB接口,将反射光谱及其对应的测试数据传输到计算机中,通过对反射光谱的分析、优化拟合最终得出被测液晶盒厚度。本方法的优点是:测量数据处理过程完全程序化,液晶的物理性质、琼斯矩阵相关的公式推导及其光学相关的复杂公式与测量过程关系不是很大,测试人员可以更容易得到测试结果。本文以生产线上常见的6μm厚的液晶盒为测试对象,采用光干涉法、反射光极值拟合法两种方法对液晶盒进行对比测试,以确定其精度。结果证明,反射光极值优化拟合法测量的重复误差为0.1μm左右,测量范围5μm至30μm,测量时间在1秒以下,有较强的实用价值。(本文来源于《电子科技大学》期刊2007-05-01）
林强,朱鹤年[8]（1997）在《两种液晶盒厚测量光电扫描方案的比较》一文中研究指出为提高液晶盒厚测量的准确性，对两种光电扫描测量方法进行了介绍与比较，对层厚度和折射率的不确定度进行了分析；设计了斜细光束动量扫描系统，该系统分辨率高、重复性好，已在实际生产中得到应用(本文来源于《大连理工大学学报》期刊1997年S2期）
液晶盒厚论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
在复杂的液晶显示器制造工艺中,液晶盒厚及其测量对液晶滴入量起着关键作用,进而影响液晶显示器件的底色及响应速度等光电特性。从光干涉原理出发,以FPGA为核心芯片,利用倾角传感器、光电传感器等模组设计了液晶盒厚快速测量系统,通过实验验证,系统具有误差小,设备简单,操作快捷等特点,满足液晶盒厚在线自动测量的同时,相对标准差提高到0.02%以上,充分满足了液晶显示器件生产厂家进行盒厚过程监控和液晶量准确计算的需要。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
液晶盒厚论文参考文献
[1].顾俊,常翔宇,许军.利用光刻胶支柱控制柔性液晶盒厚的方法[J].复旦学报(自然科学版).2012
[2].陈洪财,张荣学,孙名伟.基于FPGA的液晶盒厚快速测量系统[J].电视技术.2011
[3].陈洪财,张荣学.基于图像识别的液晶盒厚在线测量系统[J].液晶与显示.2011
[4].崔宏青,陈冬静,任娇燕,冯亚云,凌志华.快速测量扭曲向列相液晶盒盒厚[J].光子学报.2009
[5].崔宏青,凌志华.傅里叶分析法求Stokes矢量测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角(英文)[J].电子器件.2008
[6].陈冬静,崔宏青,冯亚云,任娇燕,凌志华.一种新的测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角的Stokes矢量法[J].液晶与显示.2007
[7].杨玉成.液晶盒反射谱用于盒厚测量的研究[D].电子科技大学.2007
[8].林强,朱鹤年.两种液晶盒厚测量光电扫描方案的比较[J].大连理工大学学报.1997