导读:本文包含了全速测试论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:存储器内建自测试,流水寄存器,全速测试
全速测试论文文献综述
张立博,唐威,颜伟,李俊玲[1]（2018）在《基于存储器内建自测试的全速测试设计》一文中研究指出存储器内建自测试(memory built-in-self-test,MBIST)已成为可测性设计(design-for-testability,DFT)中用以测试嵌入式存储器的重要方法.在一款以太网芯片中基于传统存储器内建自测试,提出了一种多级流水寄存器的全速测试结构,减少了测试时的读写时钟周期,缩短了测试时间,降低了测试成本.经过仿真验证,证明了该流水结构设计能够有效提高内建自测试效率.(本文来源于《微电子学与计算机》期刊2018年11期）
韩少锋,管成程[2]（2011）在《对全速测试中时序例外路径的处理方法的改进》一文中研究指出全速测试(at-speed ATPG)是现代电子设计中必需的一个重要环节。然而由于在做ATPG时,时序信息不完整,所以某些全速测试的向量会激活一些实际系统中不需要那么快时钟速度的路径,这样就会使得这些向量在芯片量产测试中无法通过,导致芯片良率的降低,而这些降低却是由测试的失误造成的。本文主要解释了时序例外路径(timing path exception)在全速自动测试向量生成(at-speed ATPG)中的重要性,以及如何使用时序例外防止芯片良率降低的误发生,并且结合工作中的实际项目对旧的处理时序例外的方法和新方法做了比较,结果证明采用新方法可以使测试向量的覆盖率增加,被屏蔽的测试单元减少。(本文来源于《电子测试》期刊2011年11期）
郭朝有,欧阳光耀,吴雄学[3]（2011）在《基于全速电流测试的印制电路板电路故障信息获取方法》一文中研究指出针对当前印制电路板(PCB)非介入式故障诊断的需要,结合电源电流测试技术发展现状,提出了基于全速电流测试,通过向测试电路施加测试序列使被测电路处于静置和全功能状态交替工作,采集电源电流在若干个工作周期内的平均电流值以实现非介入PCB电路故障信息获取的新方法。ITC’97国际标准电路中的CTSV滤波器电路的全速电流测试仿真实验结果表明,该方法可完成PCB电路非介入的故障信息获取,有望实现印制电路板的非介入式故障诊断。(本文来源于《机电工程》期刊2011年10期）
于博[4]（2011）在《HDMI引领高清标准全速前进——“数字接口及软件测试技术国际论坛"嘉宾专访》一文中研究指出2011年5月11日,由北京赛西科技发展有限责任公司主办的"数字接口及软件测试技术国际论坛"在北京召开。论坛上,专家们分析了HDMI等多种数字接口测试技术以及软件测试技术的发展及应用前景,同时对相应国际合作模式等重要议题进行了讨论。在论坛上主办方宣布:继2006年在深圳和上海后,国内第叁家"HDMI授权测试实验室"落户北京。有业界评论家认为,这标志着中国高清消费电子设备数字连接应用正式驶入高速发展通道,而新实验室的成立,更将为国内HDMI测试服务体系的完(本文来源于《中国电子商情(基础电子)》期刊2011年06期）
胡晓春[5]（2010）在《“天河一号”测试全速运行》一文中研究指出时报讯 8月31日，从位于滨海新区的国家超级计算天津中心了解到，我国首台千万亿次超级计算机系统“天河一号”的13排计算机柜已全部安装到位，9月份开始进行系统调试与测试，并分步提交用户使用，计划年内投入运营。 据了解，今年1月，“天河(本文来源于《滨海时报》期刊2010-09-02）
郭朝有,欧阳光耀[6]（2010）在《基于全速电流测试的模拟电路故障诊断》一文中研究指出研究了全速电流测试技术在模拟电路故障诊断中的应用,对待测电路施加一测试序列,使电路交替工作于静置状态和全功能状态以实现全速电流测试,并以电源端在一时间段内的平均电流为故障特征,建立人工免疫系统进行电路诊断。ITC′97国际标准电路CTSV滤波电路的故障诊断实验表明,该全速电流测试方法能实现模拟电路的高故障覆盖率的故障检测与定位。(本文来源于《电子测量技术》期刊2010年01期）
邓杭剑,邝继顺,蔡烁[7]（2008）在《用全速电流测试方法检测PIC12F509微处理器》一文中研究指出全速电流测试是一种新的电路测试方法。这里将一种指令级的全速电流测试方法应用到RISC指令集流水线结构的PIC12F509微处理器测试实验中。实验结果表明使用指令级的全速电流测试方法对PIC12F509微处理器进行测试是可行的。(本文来源于《微处理机》期刊2008年01期）
马琪,焦鹏,周宇亮[8]（2007）在《基于扫描的VLSI全速测试方法》一文中研究指出当工艺进入到超深亚微米以下,传统的故障模型不再适用,必须对电路传输延迟引发的故障采用延迟故障模型进行全速测试。给出了常用的延迟故障模型,介绍了一种基于扫描的全速测试方法,并给出了全速测试中片上时钟控制器的电路实现方案。对芯片进行测试,可以直接利用片内锁相环电路输出的高速时钟对电路施加激励和捕获响应,而测试向量的扫描输入和响应扫描输出则可以采用测试机提供的低速时钟,从而降低了全速测试对测试机时钟频率的要求。最后,对于全速测试方案提出了若干建议。(本文来源于《半导体技术》期刊2007年12期）
刘胜军[9]（2007）在《高速数字电路需要全速测试技术》一文中研究指出市场调查公司FBR日前公布的最新调查报告称，微处理器制造商AMD与代工龙头厂商台积电(TSMC)近期签订了高端CPU代工合同，后者将于明年第二季度开始采用45nm技术大规模代工AMD公司处理器。虽然当事双方并未就此事件的真伪表态，但我们还是可以从这一报道(本文来源于《中国电子报》期刊2007-08-21）
邓杭剑[10]（2007）在《PIC12F509全速电流测试及自反馈测试研究》一文中研究指出集成电路测试技术是生产高性能集成电路和提高集成电路成品率的关键。随着集成电路制造技术的发展,电压测试和稳态电流测试方法已不能满足高性能集成电路的要求。90年代中期提出的瞬态电流测试方法(IDDT Testing)能够发现一些其他测试方法所不能发现的故障,进而从总体上进一步提高测试的故障覆盖率,满足人们对高性能集成电路的需要,但是由于其对测试设备要求苛刻现在仍处于研究阶段。针对瞬态电流测试过于依赖测试设备的现状,中科院闵应骅教授等提出了全速电流测试方法(IDDA Testing)。全速电流测试的可行性已在仿真实验中得到了验证,现在需要实测实验的支持。本文运用指令级全速电流测试方法,以PIC12F509微处理器为例,通过实验说明全速电流测试方法的可行性。PIC12F509的指令级测试以汇编测试程序作为测试激励,实验中通过对PIC12F509的详细分析,确定了针对数据通路的测试策略,并给出了测试程序的产生方法。实验结果表明,用指令级全速电流测试方法对PIC12F509微处理器进行测试是可行的。通过测试所有的数据通路,不仅可以检测数据通路的故障,而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误。随机自反馈测试方法测试生成简单,节省了保存测试向量的存储器开销,但它需要对测试产生的每个测试集都做故障模拟来寻找故障覆盖率高的测试集,耗费的测试产生时间太大。为了减少故障模拟次数和故障模拟时间,本文研究了基于海明距离的随机自反馈测试方法,通过探讨测试集的海明距离和故障覆盖率之间的关系,寻找故障覆盖率高的测试集对应的海明距离的区间范围,从而只对该范围内的测试集做故障模拟,以减少故障模拟的次数达到减少测试产生时间的目的。(本文来源于《湖南大学》期刊2007-05-14）
全速测试论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
全速测试(at-speed ATPG)是现代电子设计中必需的一个重要环节。然而由于在做ATPG时,时序信息不完整,所以某些全速测试的向量会激活一些实际系统中不需要那么快时钟速度的路径,这样就会使得这些向量在芯片量产测试中无法通过,导致芯片良率的降低,而这些降低却是由测试的失误造成的。本文主要解释了时序例外路径(timing path exception)在全速自动测试向量生成(at-speed ATPG)中的重要性,以及如何使用时序例外防止芯片良率降低的误发生,并且结合工作中的实际项目对旧的处理时序例外的方法和新方法做了比较,结果证明采用新方法可以使测试向量的覆盖率增加,被屏蔽的测试单元减少。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
全速测试论文参考文献
[1].张立博,唐威,颜伟,李俊玲.基于存储器内建自测试的全速测试设计[J].微电子学与计算机.2018
[2].韩少锋,管成程.对全速测试中时序例外路径的处理方法的改进[J].电子测试.2011
[3].郭朝有,欧阳光耀,吴雄学.基于全速电流测试的印制电路板电路故障信息获取方法[J].机电工程.2011
[4].于博.HDMI引领高清标准全速前进——“数字接口及软件测试技术国际论坛"嘉宾专访[J].中国电子商情(基础电子).2011
[5].胡晓春.“天河一号”测试全速运行[N].滨海时报.2010
[6].郭朝有,欧阳光耀.基于全速电流测试的模拟电路故障诊断[J].电子测量技术.2010
[7].邓杭剑,邝继顺,蔡烁.用全速电流测试方法检测PIC12F509微处理器[J].微处理机.2008
[8].马琪,焦鹏,周宇亮.基于扫描的VLSI全速测试方法[J].半导体技术.2007
[9].刘胜军.高速数字电路需要全速测试技术[N].中国电子报.2007
[10].邓杭剑.PIC12F509全速电流测试及自反馈测试研究[D].湖南大学.2007