导读:本文包含了边界扫描技术论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:边界扫描,扫描链路,互连测试,TPS
边界扫描技术论文文献综述
柳颖,徐小杰[1]（2019）在《基于边界扫描技术的某引俄指控系统复杂电路板的TPS开发》一文中研究指出针对某引俄指控电路板中大量采用集成度很高的芯片,传统的测试方法无法进行测试与诊断的问题,运用边界扫描技术开发高集成度、高性能的PCB板的TPS,详细阐述了该系统中典型电路板的测试分析。(本文来源于《舰船电子工程》期刊2019年07期）
吴中[2]（2018）在《基于边界扫描技术的自适应测试算法及实现的研究》一文中研究指出超大规模集成电路、高密度芯片封装技术以及多层印制板的出现,使得集成电路引脚和芯片内部逻辑的物理可访问性正在逐步减弱以至于消失,常规的探针已逐渐无法使用。另一方面随着市场对电子产品质量可靠性要求越来越严格,测试开销在电路和系统总开销中所占的比例不断上升,常规的测试方法正面临着日趋严重的困难,边界扫描测试技术的出现正解决了这一难题。本课题顺应当前电路测试发展的研究趋势,并结合公司的实际生产需求,对边界扫描测试技术,尤其是测试矩阵生成算法进行了深入研究。论文首先研究了边界扫描技术相关基本理论,对边界扫描测试的类型进行了分析,将研究重点放在互连测试。针对互连测试进行了相关概念数学化分析,并对电路中的故障建立数学模型,同时,为方便测试算法生成测试矩阵的分析,对短路故障模型优化处理,通过数学推导分析,优化的故障模型在复杂性和故障数量等方面对边界扫描算法分析具有更优越的效果。然后针对互连测试的测试矩阵生成算法进行了研究,现有单步算法的检测性能相对较差,往往不能完成较高的测试要求。分析各单步算法的性能指标,并结合现有自适应算法的分析思想,分别从初级测试,测试结果分析,次级测试对W算法进行优化处理。另外论文鲜有地将电路故障中线与线或逻辑短路同时纳入考虑,从测试矩阵紧凑性和完备性对优化算法分析,得出测试性能高于现有自适应算法。最后本文针对边界扫描测试设计,首先结合工程实践,考虑硬件电路中不具备边界扫描结构的器件可测试性设计研究,在板级互连设计中进行改善和优化,引入可测试性设计后电路板的测试覆盖率相比较之前提高了近30%,为边界扫描测试算法的更好施加提供了硬件基础。其次应用FPGA对边界扫描测试系统进行模块搭建,对优化的自适应算法实现流程进行了分析,并实现对边界扫描逻辑的测试仿真及算法的验证,结果表明算法仿真效果明显。(本文来源于《江苏科技大学》期刊2018-06-05）
毕伟镇,杜舒明[3]（2017）在《基于边界扫描的雷达嵌入式测试和诊断技术》一文中研究指出为解决因雷达数字化、高速化发展引起的测试和诊断技术难题,提出了基于边界扫描的雷达嵌入式测试和诊断方案,介绍了系统的硬件架构和软件设计;该方法可以在雷达系统正常执行任务期间,实时检测数字集成电路的故障,并将故障定位到芯片引脚;对低速数字信号,可以采集完整的信号波形;对较高速度的数字信号,可以通过多次采集和统计分析的方法提取故障特征;该方法已通过试验验证。(本文来源于《计算机测量与控制》期刊2017年11期）
陆云云[4]（2016）在《基于边界扫描技术实现电路板全面测试》一文中研究指出板级边界扫描测试技术,也就是IEEE-1149.1标准在电子行业得到了广泛的认可。对于一个特定的电路设计项目,为了实现最高的测试覆盖率和最优的测试性能,详尽的可测试性分析是不可或缺的。边界扫描的可测试性设计不仅仅是选择支持JTAG扫描链的芯片及设定芯片特定引脚这么简单,还需要关注边界扫描芯片周围的逻辑器件或存储器的簇测试。本文描述了边界扫描进行电路板测试的常用测试项并提出利用边界扫描技术提高测试覆盖率的一些方法。(本文来源于《国外电子测量技术》期刊2016年09期）
张继伟,杨兵[5]（2016）在《边界扫描测试技术综述》一文中研究指出随着集成电路的快速发展,使得测试面临的问题也越来越多,在众多的测试技术中边界扫描测试越来越多的受到人们的关注。本文总结性的从边界扫描技术的研究现状,现如今已经取得的部分研究成果,以及边界扫描技术所面临的问题叁方面进行介绍并总结,并对边界扫描技术的发展做出展望,提出一种延时故障测试的方法。(本文来源于《电子世界》期刊2016年10期）
李薇[6]（2016）在《边界扫描技术在板级可测性设计中的应用探索》一文中研究指出随着硬件系统的规模不断庞大,其内部精度也逐渐增加,相关的测试工作难度越来越大,在这一过程中应用边界扫描技术则能够较好的解决这一问题。本文主要探讨了边界扫描技术的原理,从设计、优化等各个方便针对边界扫描技术在板级可测性设计中的应用。最终结果提示该技术能够显着降低测试时间,对于提高系统经济价值具有较好的作用。(本文来源于《电子测试》期刊2016年05期）
胡志胜[7]（2016）在《叁维激光扫描点云边界检测和孔洞修补技术研究》一文中研究指出叁维激光扫描技术是测绘科学的一次技术革新,它以其独特的优势逐渐成为了多个领域的研究热点。由于在叁维激光扫描过程中物体遮挡或者被测物体表面复杂等因素的影响,测量数据不可避免地产生孔洞,必然会对重建后数字模型的质量产生影响。研究点云边界检测和孔洞修补,确保点云数据的完整性,对后续点云数据处理和模型重构是十分有利的。本文重点研究了孔洞修复过程中的相应算法,通过编程实现及实验检验,完成了相关算法的改进,主要工作及成果如下:(1)针对散乱点云数据分布不规律性,本文提出了改进的动态网格k邻域算法,建立点云空间拓扑关系,实验表明该算法不仅能够快速、准确地查找出目标点的k邻近点,还具有较为广泛的适用范围。(2)为了检测出点云数据的边界,提出了基于吊锤法的方法。将目标点及其邻近点赋予相同的重量,以目标点作为支点进行悬挂,根据其物理表现中各点的空间分布关系判别目标点是否为边界点。实验证明,该算法能够准确地检测出边界特征点。(3)为了判别点云数据的内外边界,研究分析了内外边界与其他数据点的关系,基于内外边界的形心点与其他数据点相对于边界的位置的不同,对内外边界进行判别。实验证明,该方法能够准确地判别出内外边界。(4)为了修补点云数据的孔洞区域,深入研究了相关算法,利用基于径向基函数的改进方法对孔洞区域进行修补。通过将孔洞边界点投影到特征平面上,并基于扫描线进行特征面插值,然后利用径向基函数进行曲面拟合,最后将特征平面上的新增点映射到拟合曲面上,实现孔洞修补。实验证明,该算法在处理不同曲率变化的区域都有较好的修补效果,并具有较强的适用性。(5)通过将本文算法应用于龟山汉墓和峰峰矿区瓦斯罐点云数据孔洞修补中,验证了算法具有一定的实用性。(本文来源于《中国矿业大学》期刊2016-05-01）
陈宝华,宋晓东,王新洲[8]（2015）在《基于边界扫描的一种电路板测试技术》一文中研究指出边界扫描技术是复杂电路板测试和维修的有效手段,但是由于被测试电路板结构的限制,使该技术的应用受到一定程度的制约。如果通过设计适配器,将边缘连接器上的所有数据融合到边界扫描链路中,则能够提高电路板测试的完备性,有效完成故障检测和隔离。文章就上述过程进行了描述并提出了实现方法。(本文来源于《中国修船》期刊2015年06期）
高天虹[9]（2015）在《基于边界扫描技术的新一代电路板测试平台》一文中研究指出随着电子设备复杂程度的日益提高,其核心电路板的品质已成为决定电子设备质量和性能的重要因素,而电路板的测试主要面临技术、周期和费用3大方面的挑战,集成最新技术的电路板测试平台被越来越多的测试工程师所关注。基于泛华电路板测试平台可以实现电路板的功能测试与诊断,利用边界扫描技术,能够快速适应多种类电路板的共平台测试,基于云端数据服务与专家库技术,能够快速进行故障定位。(本文来源于《国外电子测量技术》期刊2015年11期）
刘磊峰,谢永成,李光升,魏宁[10]（2015）在《基于边界扫描技术的测试性优化方法研究》一文中研究指出针对基于边界扫描测试技术对集成电路测试复杂的问题,提出了贪婪算法和图的色素理论算法;贪婪算法是指在测试网络与器件之间建立一个矩阵模型,通过局部最优解来寻找全局最优解的一种算法;图的色素理论是借助图的色数理论和技术,通过图形绘制网络与器件的关系,从中寻找最少着色方案的一种算法;实验结果表明,贪婪算法和图的色素理论两种算法的应用都能够较好地解决电路板测试性复杂性和测试性完备性问题,具有很强的实用性,可用于复杂数字电路板测试。(本文来源于《计算机测量与控制》期刊2015年08期）
边界扫描技术论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
超大规模集成电路、高密度芯片封装技术以及多层印制板的出现,使得集成电路引脚和芯片内部逻辑的物理可访问性正在逐步减弱以至于消失,常规的探针已逐渐无法使用。另一方面随着市场对电子产品质量可靠性要求越来越严格,测试开销在电路和系统总开销中所占的比例不断上升,常规的测试方法正面临着日趋严重的困难,边界扫描测试技术的出现正解决了这一难题。本课题顺应当前电路测试发展的研究趋势,并结合公司的实际生产需求,对边界扫描测试技术,尤其是测试矩阵生成算法进行了深入研究。论文首先研究了边界扫描技术相关基本理论,对边界扫描测试的类型进行了分析,将研究重点放在互连测试。针对互连测试进行了相关概念数学化分析,并对电路中的故障建立数学模型,同时,为方便测试算法生成测试矩阵的分析,对短路故障模型优化处理,通过数学推导分析,优化的故障模型在复杂性和故障数量等方面对边界扫描算法分析具有更优越的效果。然后针对互连测试的测试矩阵生成算法进行了研究,现有单步算法的检测性能相对较差,往往不能完成较高的测试要求。分析各单步算法的性能指标,并结合现有自适应算法的分析思想,分别从初级测试,测试结果分析,次级测试对W算法进行优化处理。另外论文鲜有地将电路故障中线与线或逻辑短路同时纳入考虑,从测试矩阵紧凑性和完备性对优化算法分析,得出测试性能高于现有自适应算法。最后本文针对边界扫描测试设计,首先结合工程实践,考虑硬件电路中不具备边界扫描结构的器件可测试性设计研究,在板级互连设计中进行改善和优化,引入可测试性设计后电路板的测试覆盖率相比较之前提高了近30%,为边界扫描测试算法的更好施加提供了硬件基础。其次应用FPGA对边界扫描测试系统进行模块搭建,对优化的自适应算法实现流程进行了分析,并实现对边界扫描逻辑的测试仿真及算法的验证,结果表明算法仿真效果明显。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
边界扫描技术论文参考文献
[1].柳颖,徐小杰.基于边界扫描技术的某引俄指控系统复杂电路板的TPS开发[J].舰船电子工程.2019
[2].吴中.基于边界扫描技术的自适应测试算法及实现的研究[D].江苏科技大学.2018
[3].毕伟镇,杜舒明.基于边界扫描的雷达嵌入式测试和诊断技术[J].计算机测量与控制.2017
[4].陆云云.基于边界扫描技术实现电路板全面测试[J].国外电子测量技术.2016
[5].张继伟,杨兵.边界扫描测试技术综述[J].电子世界.2016
[6].李薇.边界扫描技术在板级可测性设计中的应用探索[J].电子测试.2016
[7].胡志胜.叁维激光扫描点云边界检测和孔洞修补技术研究[D].中国矿业大学.2016
[8].陈宝华,宋晓东,王新洲.基于边界扫描的一种电路板测试技术[J].中国修船.2015
[9].高天虹.基于边界扫描技术的新一代电路板测试平台[J].国外电子测量技术.2015
[10].刘磊峰,谢永成,李光升,魏宁.基于边界扫描技术的测试性优化方法研究[J].计算机测量与控制.2015