本文主要研究内容
作者于磊,胡芳菲,宋永清（2019）在《X射线荧光光谱法测定硅片中锑、砷、磷》一文中研究指出：利用X射线荧光光谱法直接测定硅片中锑、砷、磷三个主要元素,选择化学法标定的硅片作为标准,通过仪器绘制标准曲线,计算各元素的检出限及各元素的精密度。用电感耦合等离子体光谱法定量分析三个元素,将两种方法的结果进行比对,所得结果基本一致。因此,通过仪器法和化学法的比较,表明该法与常规化学分析相比,具有简便、成本低、分析速度快,准确等优点。
Abstract
li yong Xshe xian ying guang guang pu fa zhi jie ce ding gui pian zhong ti 、shen 、lin san ge zhu yao yuan su ,shua ze hua xue fa biao ding de gui pian zuo wei biao zhun ,tong guo yi qi hui zhi biao zhun qu xian ,ji suan ge yuan su de jian chu xian ji ge yuan su de jing mi du 。yong dian gan ou ge deng li zi ti guang pu fa ding liang fen xi san ge yuan su ,jiang liang chong fang fa de jie guo jin hang bi dui ,suo de jie guo ji ben yi zhi 。yin ci ,tong guo yi qi fa he hua xue fa de bi jiao ,biao ming gai fa yu chang gui hua xue fen xi xiang bi ,ju you jian bian 、cheng ben di 、fen xi su du kuai ,zhun que deng you dian 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自化学世界的于磊,胡芳菲,宋永清，发表于刊物化学世界2019年11期论文，是一篇关于射线荧光光谱法论文,硅片论文,定量分析论文,化学世界2019年11期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自化学世界2019年11期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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