导读:本文包含了失效率预计论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:智能电能表,可靠性预计,现场数据,工作失效率
失效率预计论文文献综述
李翰斌[1]（2018）在《基于失效率等级的智能电能表可靠性预计应用方法研究》一文中研究指出智能电能表承担着重要的社会服务功能,具有安装量大、分布区域广的特点。如果在长期运行的使用过程中可靠性不高,不仅由于质量问题引起的更换费时费力,而且容易引起用电安全问题。可靠性预计是决策设计、改进设计,确保产品满足可靠性指标要求的不可缺少的技术手段。随着智能化、数字化仪器仪表的快速发展,智能电能表的功能不断完善,采用传统手册预计方法已无法满足工程实际的需求。存在现场使用失效率高和手册中查询不到数据的元器件,且预计过程繁琐,给预计工作增加了困难。针对可靠性预计手册与现场使用存在差异的问题,提出结合现场数据的可靠性预计方法。根据元器件不同失效率等级应用不同的预计方法,建立相应的可靠性预计模型。常规元器件采用传统的IEC62059/61709手册预计方法;现场使用失效率高的关键元器件通过故障数据进行可靠性评估;对于电阻电容可靠性高数量大的元器件应用元器件计数法进行预计,简化预计过程,提高应用性。通过对大量的智能电能表现场数据进行收集、处理和分析,找到常见的故障模式、故障原因以及影响整机可靠性水平的失效率高的关键元器件。基于概率图估法对关键元器件故障间隔时间分布模型拟合、参数估计、假设检验,得到现场工作失效率。最后,以正泰公司DTZY666型表为实例进行可靠性预计,预计结果与现场数据评估的真实寿命和GJB/Z299C手册预计结果进行误差对比分析,验证本文研究方法的适用性。(本文来源于《哈尔滨理工大学》期刊2018-03-01）
薛来[2]（2017）在《一种失效率极小情况下的维修性预计方法》一文中研究指出在产品研制过程中,需要对具体装备设计方案或构型的维修性参数进行预计,但在实际工程中,对于一些可靠度很高、失效率极小的产品,按传统方法进行预计难度很大。因此本文提出了一种失效率极小情况下的维修性预计方法,并给出了工程应用的实例,说明了该方法计算简便,计算结果相对已有方法具有一定的优越性。(本文来源于《科技广场》期刊2017年09期）
谭世勇,索双富,陈绍仁[3]（2014）在《基于层次分析法的机械元件失效率预计》一文中研究指出机械元件失效率预计可用于不同机械系统构型的可靠性论证,对机械可靠性设计起着指导的作用。在机械系统设计初期,评分预计法是简便有效的可靠性预计方法。文中就大量元件的评分预计方法存在的评分难度大、评分结果不确定的问题,提出了采用层次分析法,将大量元件评估分解为元件之间的两两比较,大大降低评分难度,从而提高评分预计的质量。(本文来源于《机械设计》期刊2014年03期）
同长虹,王锡寿,董世方[4]（2011）在《失效率预计法在产品研发中的应用》一文中研究指出介绍了失效率预计法的应用特点和方法步骤,并利用失效率预计法对直升飞机升降舵和方向舵控制系统进行了具体应用,结果表明在重大产品详细设计研发阶段利用该方法对产品的可靠性进行评价是非常有效的,而且该方法具有一定的通用性,既适用于评价电子产品,也适用于非电子产品。(本文来源于《机械研究与应用》期刊2011年06期）
莫郁薇,张增照,古文刚,聂国健,李志国[5]（2006）在《多芯片组件MCM的失效率预计研究》一文中研究指出通过对多芯片组件(MCM)的结构、失效模式和机理的分析,提出了适合我国生产实际的MCM 失效率预计模型。采用加速寿命试验和点估计法获得了膜电阻的基本失效率λRT和布线与工艺基本失效率λC;并采用极限应力对比试验获得了层间系数πcp。(本文来源于《半导体技术》期刊2006年03期）
K,L,Wong,常亮明[6]（1996）在《元器件失效率预计模型的新框架》一文中研究指出本文介绍一种元器件失效率模型的新框架。它是美国空军研制军事电子可靠性预计模型工作的一部分.这里没有包括的其它工作是关于组件和系统级的可靠性预计.已出版的数据表明现有的可靠性预计方法远远达不到要求的精度.现有方法的问题之一是未包含关键性因子.新框架基于这样的假设:本质上所有的失效都是由于内部缺陷、失效机理和应力相互作用引起的.这叁种成分有助于形成作为应力施加时间、热循环次数和振动时间的函数的失效分布.Weibull分布已经被选做一般分布.为了提供元器件失效率函数,通过诸如缺陷数量、环境应力筛选的效果、日历时间的可靠性改进以及卖主的质量差别等关键因素来修改此分布.为了对框架提供说服力,应用已出版的数据和信息.本文不是一种纯理论的练习.对预计失效率特征的认识已经使作者正确地做出许多可靠性工程决策,特别是在环境应力筛选和可靠性验证试验方面.为了改进用现有手册预计可靠性的精度,在根据新框架建立的新的可靠性预计方法完善之前,不可避免的是模型框架适用的部分和关于识别关键因子的有用知识立刻得到应用,以改进使用现存手册的可靠性预计.这能够通过减少现有手册中的参数而用新的模型参数重新分配它们,并且加上忽略了的新参数来实现.(本文来源于《电子产品可靠性与环境试验》期刊1996年03期）
常亮明[7]（1996）在《零件失效率预计模型的新框架》一文中研究指出本文介绍了一种研制零件失效率模型的新框架,它是美国空军研制军事电子可靠性预计模型工作的一部分。对预计失效率的特征,做出了许多可靠性工程决策。(本文来源于《国外石油机械》期刊1996年01期）
杨家铿,翁寿松[8]（1994）在《晶体管非工作期失效率预计》一文中研究指出本文根据晶体管非工作期可靠性统计数据建立了我国晶体管非工作期失效率预计模型，经验证，预计失效率与现场失效率相吻合．通过预计模型可预计晶体管在各类环境下的非工作期失效率，尤其给出了我国晶体管普通库房贮存失效率和贮存有效期．(本文来源于《半导体学报》期刊1994年08期）
杨家铿,莫郁薇,陈学军[9]（1992）在《晶体管基本失效率预计公式的建立》一文中研究指出介绍了为建立晶体管基本失效率预计公式所开展的晶体管“增额—额定—减额”PN结温度—失效率试验结果,从失效物理角度初步探讨了Arrehnius公式的适用范围,由此说明本试验曲线的客观性,概述了综合我国各类数据,回归得具有母体代表性的晶体管基本失效率曲线的一般过程,并概述了通过参照美国军用手册、采用Arrehnius补充式数学模型,求解我国晶体管基本失效率回归线模型参数,从而建立本国晶体管基本失效率公式的全过程,经验证,所建立的基本失效率公式的预计效果较好。(本文来源于《北京工业大学学报》期刊1992年01期）
Tin,Turner,吕清元[10]（1982）在《集成电路的失效率预计能真实地评价器件》一文中研究指出各种类型的失效率虽不一样,然而,一旦懂得如何正确计算它们,在选择卖主和器件或者在决定产品是否需要实施老化试验方面你会得到有益的见识。(本文来源于《半导体情报》期刊1982年05期）
失效率预计论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
在产品研制过程中,需要对具体装备设计方案或构型的维修性参数进行预计,但在实际工程中,对于一些可靠度很高、失效率极小的产品,按传统方法进行预计难度很大。因此本文提出了一种失效率极小情况下的维修性预计方法,并给出了工程应用的实例,说明了该方法计算简便,计算结果相对已有方法具有一定的优越性。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
失效率预计论文参考文献
[1].李翰斌.基于失效率等级的智能电能表可靠性预计应用方法研究[D].哈尔滨理工大学.2018
[2].薛来.一种失效率极小情况下的维修性预计方法[J].科技广场.2017
[3].谭世勇,索双富,陈绍仁.基于层次分析法的机械元件失效率预计[J].机械设计.2014
[4].同长虹,王锡寿,董世方.失效率预计法在产品研发中的应用[J].机械研究与应用.2011
[5].莫郁薇,张增照,古文刚,聂国健,李志国.多芯片组件MCM的失效率预计研究[J].半导体技术.2006
[6].K,L,Wong,常亮明.元器件失效率预计模型的新框架[J].电子产品可靠性与环境试验.1996
[7].常亮明.零件失效率预计模型的新框架[J].国外石油机械.1996
[8].杨家铿,翁寿松.晶体管非工作期失效率预计[J].半导体学报.1994
[9].杨家铿,莫郁薇,陈学军.晶体管基本失效率预计公式的建立[J].北京工业大学学报.1992
[10].Tin,Turner,吕清元.集成电路的失效率预计能真实地评价器件[J].半导体情报.1982