关海山闫安平（通讯作者）刘艳红
(郑州人民医院新生儿科450000)
【摘要】研究早产儿低血糖与脑损伤发生的相关程度。方法:2010年8月～2013年8月对本院收治276例高危早产儿患儿，在生后1小时-7天内进行测量血糖、头颅磁共振检查，并根据有无低血糖进行分组，观察低血糖与脑损伤的情况。结果:伴低血糖早产儿脑损伤明显高于无脑损伤组，差异显著存在统计学意义(P＜0.01)。结论:早产儿脑损伤的发生及严重程度与多因素有关，头颅磁共振检查可对早产儿脑损伤做出早期诊断，为早期干预提供依据。
【中图分类号】R722【文献标识码】A【文章编号】1672-5085（2014）17-0153-01
随着新生儿重症监护病房(NICU)的建立和发展，早产儿存活率明显提高，但早产儿各系统发育不完善，易出现低血糖[1]。低血糖对中枢神经系统的影响是直接的、不可逆的脑损害，是造成智力落后及神经系统损害的一个重要因素。目前颅脑CT及超声学方法尚不能早期的判定神经损伤类型，随着而磁共振成像技术，特别是磁共振频谱(MRS)及弥散成像(DWI)技术有可能提供早期的低血糖脑损伤改变。我科对住院早产儿低血糖患儿进行头颅磁共振检查，能早期发现早产儿脑损伤，及时合理治疗，以减少后遗症更为重要。
1研究对象
2010年8月～2013年8月本院收治276例高危早产儿患儿[2]，其中男例155，女121；均对该患儿进行了动态血糖检测及头颅磁共振检查（MRS）检查。根据有无低血糖进行分组。低血糖组有102例，伴脑损伤患儿69例。正常血糖组有174例，伴脑损伤37例。并排除母亲有妊娠期高血压疾病、先兆子痫、慢性高血压、前置胎盘、胎盘早剥、剖宫产前患绒毛膜羊膜炎、TORCH感染、艾滋病、梅毒、肾病、自身免疫等疾病。
1.1血糖和头颅磁共振检查方法
（1）所有早产患儿均在出生后0～12h，12～24h，24～48h，48～72h分别测量血糖1次，检出低血糖者则每1h重复检测1次，直至连续2次血糖正常。血糖仪采用美国强生公司生产的测定仪器及其相配套的血糖试纸，采血部位为足跟。（2）患儿在做磁共振检查前静注苯巴比妥钠10～20mg/kg，使患儿处于睡眠状态并监测心率变化。飞利浦Intera1.5T超导型MR扫描仪。常规做轴位T1、T2、弥散加权成像（DWI）和磁敏感加权成像（SWI），矢状位T1WI像。
1.2低血糖及脑损伤的判断标准：
不论出生体重和胎龄，血糖<2.2mmol/L为早产儿低血糖[3]，低血糖时，在急性期的患儿皮层、枕后皮层区域出现水肿及慢性期的大脑皮层的表面萎缩，脑干和齿状核等病理变化。
1.3应用SPSS16.0统计软件。计量资料采用均数±标准差（）表示，两两比较采用t检验；计数资料采用χ2检验及率表示。
2结果
一般资料：低血糖组有脑损伤69例，正常血糖组发生脑损伤为（21.2%）。两组早产患儿在性别、胎龄、体重、Apagar评分比较差异，无统计学意义。(P>0.05)
2.1两组早产患儿一般情况比较见表1。
两组早产患儿在性别、胎龄、体重、Apagar评分比较差异，无统计学意义（P＞0.05)）
表1低血糖组和正常血糖组一般情况对比（x-±s）
男女胎龄体重Apagar评分
低血糖组633933.38±2.32983.5±231.57.2±0.5
正常血糖组898532.57±1.82819.9±189.67.8±0.8
t/x22.5151.7852.9860.574
P＞0.05＞0.05＞0.05＞0.05
2.2两组早产儿患儿在发生脑损伤情况的比较
早产儿低血糖组中发生脑损伤为69例（67.7%），正常血糖组发生脑损伤为（21.2%）。两组比较差异，有统计学意义。见表2。
表2两组早产儿患儿在发生脑损伤情况的比较（x-±s）
例数脑损伤组非脑损伤组
例数%例数%
低血糖组1026967.73332.3
正常血糖组1743721.213778.7
注χ2=56.536p＜0.01
3讨论
近年来，关于早产儿糖代谢紊乱的研究较多，胎儿肝糖原的贮备主要在最后胎龄4w～8w，早产儿和小于胎龄儿糖原存量少，更易发生低血糖，以生后48h内，尤其生后12h内发生低血糖最高，生后24h、48h发生率呈逐步下降趋势。表2结果示胎龄越小，低血糖发生率逐步增高，同时脑损伤也相应增高。有研究认为，早产儿在发生脑损伤中由低血糖所致的各种原因中占30%左右[4]。因此本研究对出生后1-3d早产儿进行血糖监测，低血糖发生率为36.9%。从文献报道和本文的结果看，早产儿低血糖确实会提高脑损伤的发生率，同时胎龄越低，发生脑损伤也相应增多。
另外，由于早产儿低血糖经常与围产期其他导致脑损伤的因素同时发生，如出生时重度窒息时更关注缺氧缺血造成的脑损害而忽略了低血糖性的脑损伤的发生。同时，早产儿低血糖早期又缺乏特征性的神经系统症状和体征，临床上要确定脑损伤及严重程度很困难，故易漏诊。有文献报道，低血糖所致脑损伤在早产儿给予头颅磁共振检查，能够早期发现早产儿脑损伤的病灶及范围，具有无放射损伤、软组织分辨率高等优点。本研究对我院高危出生的早产儿在生后1周内行头颅磁共振检查，结果显示：低血糖早产儿脑损伤发生率高达67.7％，脑损伤类型以水肿性损伤较多见。
早产儿低血糖时可损害神经系统及功能，同时在重度窒息和多因素情况下早产儿脑损伤程度可能更严重。因此，要特别注意对低血糖早产儿及小于胎龄儿的血糖监测及头颅磁共振检查，以便早期发现和采取相应措施，最大限度地减少可能由低血糖造成的脑损害的发生。
参考文献
[1]CherianMP,AbduljabbarMA.Persistenthyperinsulinemichypoglycemiaofinfancy(PHHI):Longtermoutcomefollowing95%pancreatectomy[J].PediatrEndocrinolMetab,2005,18.
[2]胡亚美，江载芳，诸福棠.实用儿科学上册[M].第7版.北京：
人民卫生出版社，2002.419-420.
[3]张家骧,魏克伦,薛辛东.新生儿急救学[M].北京:人民卫生出版社,2000:666.
[4]张勇军，李宝云，张明霞.早产儿脑损伤116例临床分析[J].中国临床医药研究杂志，2008，188：4-6.