本文主要研究内容
作者田心宇,姚英（2019）在《一种新型BIT技术在机载计算机设计中的应用研究》一文中研究指出：BIT (Built-in Test)技术由于其不依赖外部设备,仅使用自身软、硬件完成故障诊断及隔离的特点,目前成为提高机载计算机测试性和维修性的有效措施."故障覆盖率"和"虚警率"是评价BIT系统的两个重要因素,较低的故障覆盖率是阻碍BIT技术在机载计算机中广泛应用的一个重要原因.本文在对机载计算机BIT故障检测机理进行分析的基础上,提出一种新型的机载计算机BIT故障检测方法,并给出关键技术解决方案,经过实践证明使用该策略后机载计算机BIT系统的故障覆盖率显著增长,机载计算机的可靠性及可维护性明显提高.
Abstract
BIT (Built-in Test)ji shu you yu ji bu yi lai wai bu she bei ,jin shi yong zi shen ruan 、ying jian wan cheng gu zhang zhen duan ji ge li de te dian ,mu qian cheng wei di gao ji zai ji suan ji ce shi xing he wei xiu xing de you xiao cuo shi ."gu zhang fu gai lv "he "xu jing lv "shi ping jia BITji tong de liang ge chong yao yin su ,jiao di de gu zhang fu gai lv shi zu ai BITji shu zai ji zai ji suan ji zhong an fan ying yong de yi ge chong yao yuan yin .ben wen zai dui ji zai ji suan ji BITgu zhang jian ce ji li jin hang fen xi de ji chu shang ,di chu yi chong xin xing de ji zai ji suan ji BITgu zhang jian ce fang fa ,bing gei chu guan jian ji shu jie jue fang an ,jing guo shi jian zheng ming shi yong gai ce lve hou ji zai ji suan ji BITji tong de gu zhang fu gai lv xian zhe zeng chang ,ji zai ji suan ji de ke kao xing ji ke wei hu xing ming xian di gao .
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自微电子学与计算机的田心宇,姚英，发表于刊物微电子学与计算机2019年04期论文，是一篇关于机载计算机论文,可靠性论文,可维护性论文,微电子学与计算机2019年04期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自微电子学与计算机2019年04期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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