本文主要研究内容
作者马德福,王刚,王慧芬,张亚非（2019）在《柔性FEP基底修饰对ZnO:Al薄膜透明导电与附着力性能的影响研究》一文中研究指出：采用O2等离子体对柔性氟化乙烯丙烯共聚物（FEP）进行表面处理,然后,利用射频磁控溅射法在柔性氟化乙烯丙烯共聚物（FEP）上沉积修饰一层超薄SiO2,再沉积生长ZnO:Al薄膜。主要研究探讨柔性FEP基底修饰对ZnO:Al薄膜结构、薄膜界面结合状态、薄膜形貌、电学性能、弯曲后电学性能退化、光学性能和薄膜附着力的影响机理,利用XRD、XPS、AFM、SEM、UV-Vis-NIR分光光度计、ScotchTM粘附力测试、PPMS、四探针等表征手段对薄膜结构、成分、形貌、界面及薄膜物理性能进行表征。实验表明:柔性FEP基底经修饰后生长的ZnO:Al薄膜的结晶性能得到明显的提升、薄膜内应力有效降低、SiO2与柔性基底之间产生少量的化学键合。FEP柔性基底经修饰后,ZnO∶Al薄膜的电学性能、缓减弯曲后的电学性能变化等到明显改善、薄膜附着力有明显提高。
Abstract
cai yong O2deng li zi ti dui rou xing fu hua yi xi bing xi gong ju wu （FEP）jin hang biao mian chu li ,ran hou ,li yong she pin ci kong jian she fa zai rou xing fu hua yi xi bing xi gong ju wu （FEP）shang chen ji xiu shi yi ceng chao bao SiO2,zai chen ji sheng chang ZnO:Albao mo 。zhu yao yan jiu tan tao rou xing FEPji de xiu shi dui ZnO:Albao mo jie gou 、bao mo jie mian jie ge zhuang tai 、bao mo xing mao 、dian xue xing neng 、wan qu hou dian xue xing neng tui hua 、guang xue xing neng he bao mo fu zhao li de ying xiang ji li ,li yong XRD、XPS、AFM、SEM、UV-Vis-NIRfen guang guang du ji 、ScotchTMnian fu li ce shi 、PPMS、si tan zhen deng biao zheng shou duan dui bao mo jie gou 、cheng fen 、xing mao 、jie mian ji bao mo wu li xing neng jin hang biao zheng 。shi yan biao ming :rou xing FEPji de jing xiu shi hou sheng chang de ZnO:Albao mo de jie jing xing neng de dao ming xian de di sheng 、bao mo nei ying li you xiao jiang di 、SiO2yu rou xing ji de zhi jian chan sheng shao liang de hua xue jian ge 。FEProu xing ji de jing xiu shi hou ,ZnO∶Albao mo de dian xue xing neng 、huan jian wan qu hou de dian xue xing neng bian hua deng dao ming xian gai shan 、bao mo fu zhao li you ming xian di gao 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自中国陶瓷的马德福,王刚,王慧芬,张亚非，发表于刊物中国陶瓷2019年01期论文，是一篇关于柔性透明导电薄膜论文,表面修饰论文,薄膜附着力论文,射频磁控溅射论文,中国陶瓷2019年01期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自中国陶瓷2019年01期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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