本文主要研究内容
作者李威,张进,黄劼怡,张国旗,王晓,罗磊（2019）在《500kV断路器断口电容及介损测量影响因素研究》一文中研究指出：500kV断路器的断口电容和介质损耗因素tanδ是反映设备运行状态的重要参数,需定期进行例行试验,但试验数据易受到现场条件影响。某次试验现场分合指定开关后,采用无屏蔽线的正接线测得的断口电容与介损值远超规定的限值范围,根据静电声源初步判定是相邻间隔的感应电压影响,并同时考虑油漆层电阻的影响。采用ATP-EMTP软件对这两种因素进行了仿真建模计算,结果表明,断口电容和介损值与感应电压呈线性关系,并随感应电压相位变化而上下振荡;正常情况下,油漆层和氧化层产生的接触电阻对电容值测量结果产生的影响很小,可忽略不计。本文所得研究成果对变电站现场电气设备试验具有一定的参考意义。
Abstract
500kVduan lu qi de duan kou dian rong he jie zhi sun hao yin su tanδshi fan ying she bei yun hang zhuang tai de chong yao can shu ,xu ding ji jin hang li hang shi yan ,dan shi yan shu ju yi shou dao xian chang tiao jian ying xiang 。mou ci shi yan xian chang fen ge zhi ding kai guan hou ,cai yong mo bing bi xian de zheng jie xian ce de de duan kou dian rong yu jie sun zhi yuan chao gui ding de xian zhi fan wei ,gen ju jing dian sheng yuan chu bu pan ding shi xiang lin jian ge de gan ying dian ya ying xiang ,bing tong shi kao lv you qi ceng dian zu de ying xiang 。cai yong ATP-EMTPruan jian dui zhe liang chong yin su jin hang le fang zhen jian mo ji suan ,jie guo biao ming ,duan kou dian rong he jie sun zhi yu gan ying dian ya cheng xian xing guan ji ,bing sui gan ying dian ya xiang wei bian hua er shang xia zhen dang ;zheng chang qing kuang xia ,you qi ceng he yang hua ceng chan sheng de jie chu dian zu dui dian rong zhi ce liang jie guo chan sheng de ying xiang hen xiao ,ke hu lve bu ji 。ben wen suo de yan jiu cheng guo dui bian dian zhan xian chang dian qi she bei shi yan ju you yi ding de can kao yi yi 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自电力电容器与无功补偿的李威,张进,黄劼怡,张国旗,王晓,罗磊，发表于刊物电力电容器与无功补偿2019年01期论文，是一篇关于断路器论文,断口电容论文,介质损耗因素论文,感应电压论文,油漆层电阻论文,电力电容器与无功补偿2019年01期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自电力电容器与无功补偿2019年01期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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