作者朱永兴,谭述森,杜兰,贾小林（2019）在《顾及粗差影响的全球电离层克里金插值及精度分析》一文中研究指出：针对克里格电离层插值方法受粗差数据影响和全球适用性问题,基于克里金插值的变异函数,构造电离层插值的粗差剔除统计量,实现插值过程自动化粗差剔除。采用全球电离层总电子含量格网产品进行试验验证,得出以下结论:①粗差剔除统计量能有效剔除粗差,保证插值精度与样本精度相当;②基于2014年太阳活动高年样本,克里金插值的精度RMS为1.0～5.0 TECU(total electron content unit)。
zhen dui ke li ge dian li ceng cha zhi fang fa shou cu cha shu ju ying xiang he quan qiu kuo yong xing wen ti ,ji yu ke li jin cha zhi de bian yi han shu ,gou zao dian li ceng cha zhi de cu cha ti chu tong ji liang ,shi xian cha zhi guo cheng zi dong hua cu cha ti chu 。cai yong quan qiu dian li ceng zong dian zi han liang ge wang chan pin jin hang shi yan yan zheng ,de chu yi xia jie lun :①cu cha ti chu tong ji liang neng you xiao ti chu cu cha ,bao zheng cha zhi jing du yu yang ben jing du xiang dang ;②ji yu 2014nian tai yang huo dong gao nian yang ben ,ke li jin cha zhi de jing du RMSwei 1.0～5.0 TECU(total electron content unit)。
论文作者分别是来自测绘学报的朱永兴,谭述森,杜兰,贾小林，发表于刊物测绘学报2019年07期论文，是一篇关于克里金插值论文,总电子含量论文,全球插值论文,粗差剔除论文,精度分析论文,测绘学报2019年07期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自测绘学报2019年07期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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