作者苏亚丽,朱胜利(2019)在《光电耦合器件中子辐照位移损伤效应试验研究》一文中研究指出:空间高能粒子引发的位移损伤效应会引起光电耦合器件饱和压降、电流传输比、击穿电压和正向电压等参数发生变化以致器件失效。为研究低地球轨道中子环境产生的位移损伤效应对该轨道航天器上光电耦合器件的影响,文章利用中子辐照源,在不同注量下对不同型号的光电耦合器件进行试验研究,得出器件饱和压降、电流传输比、击穿电压及正向电压随中子辐照注量的变化规律。研究结果表明:饱和压降、电流传输比和击穿电压对中子辐照的敏感度较高,而正向电压对辐照并不敏感。分析表明,辐照引起的位移损伤效应是导致器件电流传输性能退化的一个重要原因。研究结果可为光电耦合器件在空间环境中的使用提供试验依据和参考。
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论文作者分别是来自航天器环境工程的苏亚丽,朱胜利,发表于刊物航天器环境工程2019年04期论文,是一篇关于光电耦合器论文,中子辐照论文,位移损伤论文,电流传输比论文,试验研究论文,航天器环境工程2019年04期论文的文章。本文可供学术参考使用,各位学者可以免费参考阅读下载,文章观点不代表本站观点,资料来自航天器环境工程2019年04期论文网站,若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权,请联系我们删除。
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