作者曹年凤（2019）在《样品厚度对X-射线荧光分析结果的影响》一文中研究指出：利用X-射线荧光光谱仪（XRF）结合windows CE 6.0的Innov-x专用分析软件快速对钨矿石中钨的含量进行测定。对同一批样品采用XRF专用杯膜进行快速测定,并讨论样品厚度对钨检测结果的影响。实验表明,当对WO3在1.5%以下的样品测定钨结果的相对标准偏差（RSD,n=3）在0.003%～0.046%之间。通过钨矿石化学分析方法论证测定值均在误差范围内。通过对多个样品的分析比对,实验方法的分析结果与常规化学测定值基本一致,符合地质样分析规范要求。
li yong X-she xian ying guang guang pu yi （XRF）jie ge windows CE 6.0de Innov-xzhuan yong fen xi ruan jian kuai su dui wu kuang dan zhong wu de han liang jin hang ce ding 。dui tong yi pi yang pin cai yong XRFzhuan yong bei mo jin hang kuai su ce ding ,bing tao lun yang pin hou du dui wu jian ce jie guo de ying xiang 。shi yan biao ming ,dang dui WO3zai 1.5%yi xia de yang pin ce ding wu jie guo de xiang dui biao zhun pian cha （RSD,n=3）zai 0.003%～0.046%zhi jian 。tong guo wu kuang dan hua xue fen xi fang fa lun zheng ce ding zhi jun zai wu cha fan wei nei 。tong guo dui duo ge yang pin de fen xi bi dui ,shi yan fang fa de fen xi jie guo yu chang gui hua xue ce ding zhi ji ben yi zhi ,fu ge de zhi yang fen xi gui fan yao qiu 。
论文作者分别是来自世界有色金属的曹年凤，发表于刊物世界有色金属2019年10期论文，是一篇关于射线论文,地质样论文,世界有色金属2019年10期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自世界有色金属2019年10期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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