王敏：片式钽电容器漏电流可靠性研究论文

本文主要研究内容

作者王敏（2019）在《片式钽电容器漏电流可靠性研究》一文中研究指出：分析了片式钽电容器漏电失效模式,研究了片式钽电容器的漏电失效机理,分析表明阳极氧化膜疵点"晶化"是导致电容器产生漏电流的根本原因。以片式钽电容器漏电流产生的理论机理为基础,从工艺、筛选和使用可靠性角度,提出了一系列改进措施,以确保电容器在航天等高可靠领域的应用。

Abstract

fen xi le pian shi tan dian rong qi lou dian shi xiao mo shi ,yan jiu le pian shi tan dian rong qi de lou dian shi xiao ji li ,fen xi biao ming yang ji yang hua mo ci dian "jing hua "shi dao zhi dian rong qi chan sheng lou dian liu de gen ben yuan yin 。yi pian shi tan dian rong qi lou dian liu chan sheng de li lun ji li wei ji chu ,cong gong yi 、shai shua he shi yong ke kao xing jiao du ,di chu le yi ji lie gai jin cuo shi ,yi que bao dian rong qi zai hang tian deng gao ke kao ling yu de ying yong 。

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论文详细介绍

论文作者分别是来自电子制作的王敏，发表于刊物电子制作2019年01期论文，是一篇关于钽电容论文,漏电流论文,失效论文,晶化论文,可靠性论文,电子制作2019年01期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自电子制作2019年01期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。

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