作者张烜工,穆希辉（2019）在《基于非线性维纳过程的末制导炮弹控制舱光耦贮存寿命评定》一文中研究指出：以光耦的漏电流参数为刻画对象,使用维纳过程对其进行描述。但使用维纳过程描述不同光耦漏电流退化的个体性差异,以及漏电流非线性数据的处理以及明确失效阈值的缺乏,是目前亟待解决的问题。对线性维纳过程进行了改进,建立了随机变量阿伦尼乌斯方程,以对漂移系数λ进行随机化处理,其次利用时间-尺度变换公式解决了非线性数据转变为线性数据的问题,最后使用两步极大似然估计对参数进行估计。针对缺乏明确失效阈值的问题,设立了游动阈值对可靠度进行了讨论。最终评定在长储环境下光耦的t0. 9为25. 4年至27. 5年。
yi guang ou de lou dian liu can shu wei ke hua dui xiang ,shi yong wei na guo cheng dui ji jin hang miao shu 。dan shi yong wei na guo cheng miao shu bu tong guang ou lou dian liu tui hua de ge ti xing cha yi ,yi ji lou dian liu fei xian xing shu ju de chu li yi ji ming que shi xiao yu zhi de que fa ,shi mu qian ji dai jie jue de wen ti 。dui xian xing wei na guo cheng jin hang le gai jin ,jian li le sui ji bian liang a lun ni wu si fang cheng ,yi dui piao yi ji shu λjin hang sui ji hua chu li ,ji ci li yong shi jian -che du bian huan gong shi jie jue le fei xian xing shu ju zhuai bian wei xian xing shu ju de wen ti ,zui hou shi yong liang bu ji da shi ran gu ji dui can shu jin hang gu ji 。zhen dui que fa ming que shi xiao yu zhi de wen ti ,she li le you dong yu zhi dui ke kao du jin hang le tao lun 。zui zhong ping ding zai chang chu huan jing xia guang ou de t0. 9wei 25. 4nian zhi 27. 5nian 。
论文作者分别是来自兵器装备工程学报的张烜工,穆希辉，发表于刊物兵器装备工程学报2019年04期论文，是一篇关于光电耦合器论文,贮存可靠性论文,维纳过程论文,随机变量阿伦尼乌斯方程论文,时间尺度变换论文,兵器装备工程学报2019年04期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自兵器装备工程学报2019年04期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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