作者吴鑫涛（2019）在《天线互耦对综合孔径辐射计成像的影响和校准》一文中研究指出：本文分析了阵列天线互相耦合对综合孔径辐射计反演结果的影响与校准。对天线互耦的机制进行研究,建立了数学模型,得出要消除天线互耦造成的误差,需要测量每一个天线在天线阵列中的自阻抗和与其他天线间的互阻抗。仿真过程中引入正态分布的测量误差,通过天线自阻抗和互阻抗模型计算系数矩阵,并校准误差。
ben wen fen xi le zhen lie tian xian hu xiang ou ge dui zeng ge kong jing fu she ji fan yan jie guo de ying xiang yu jiao zhun 。dui tian xian hu ou de ji zhi jin hang yan jiu ,jian li le shu xue mo xing ,de chu yao xiao chu tian xian hu ou zao cheng de wu cha ,xu yao ce liang mei yi ge tian xian zai tian xian zhen lie zhong de zi zu kang he yu ji ta tian xian jian de hu zu kang 。fang zhen guo cheng zhong yin ru zheng tai fen bu de ce liang wu cha ,tong guo tian xian zi zu kang he hu zu kang mo xing ji suan ji shu ju zhen ,bing jiao zhun wu cha 。
论文作者分别是来自电子元器件与信息技术的吴鑫涛，发表于刊物电子元器件与信息技术2019年01期论文，是一篇关于综合孔径辐射计论文,天线耦合论文,微波遥感论文,天线阵列论文,定标论文,电子元器件与信息技术2019年01期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自电子元器件与信息技术2019年01期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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